【図1A】平面基板の形態にある例示のＤＩＯＸガラス基板の斜視図

【図1B】基板表面に亘り、基板の本体中に行われる二重イオン交換過程を示す、ｘ−ｚ面で撮られた図１ＡのＤＩＯＸ基板の拡大断面図

【図1C】ＤＩＯＸ基板を形成するＤＩＯＸ過程の結果を示す概略図

【図2】図１Ｃに示されたＤＩＯＸ基板に関する例示の屈折率プロファイルｎ（ｚ）のグラフ

【図3】ＮａＮＯ₃およびＫＮＯ₃の混合物を使用したイオン交換過程によって形成されたＬｉ含有ガラスの例示の測定モードスペクトルを表す概略図であって、モードスペクトルはＴＭスペクトル（上側）およびＴＥスペクトル（下側）を含み、下記に説明されるようなプロファイル測定パラメータも示す概略図

【図4】Ｋ⁺およびＮａ⁺イオン交換を経た化学強化Ｌｉ含有ガラスの試料に関するモデル応力プロファイル（実線）を示す、応力（ＭＰａ）対正規化位置座標ｚ／Ｔをプロットしたグラフであって、点線はＮａ⁺拡散のみのモデルプロファイルを示し、そのモデルプロファイルでは、それぞれ、ｚ／Ｔ＝−０．５および＋０．５にある２つの表面でイオン交換が行われたことを示すグラフ

【図5】応力プロファイルのスパイク部分、長い拡散ベキ乗則部分およびスパイクに加えたベキ乗則部分に関する別々のプロットを示す、応力（ＭＰａ）対正規化位置座標ｚ／Ｔをプロットしたグラフ

【図6】例示の化学強化Ｌｉ含有ガラスの試料に関するＴＥおよびＴＭモードスペクトルを示す測定モードスペクトルを表す概略図

【図7A】図６のＴＥモードスペクトルのモード線または縞に関する、モードスペクトルに沿った距離ｘ’に対して強度Ｉをプロットしたグラフ

【図7B】図６のＴＭモードスペクトルのモード線または縞に関する、モードスペクトルに沿った距離ｘ’に対して強度Ｉをプロットしたグラフ