特許6981802IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

寸法測定装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明が解決しようとする課題は、距離画像をもとにした寸法測定の処理負荷を軽減することができる寸法測定装置を提供することである。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

実施形態によれば、寸法測定装置は、距離画像取得手段、画像処理手段及び寸法データ生成手段を有する。距離画像取得手段は、測定対象物に対するXYZ座標空間における各画素のXYZ座標値からなる距離画像を取得する。画像処理手段は、前記距離画像をもとにX座標値のみからなるX座標データ、Y座標値のみからなるY座標データ、及びZ座標値のみからなるZ座標データを生成し、前記X座標データ、前記Y座標データ及び前・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本実施形態における寸法測定装置の外観を示す図。

【図2】本実施形態における寸法測定装置の構成を示すブロック図。

【図3】本実施形態における処理装置の詳細な構成を示すブロック図。

【図4】本実施形態における寸法測定プログラムにより実現される機能部を示すブロック図。

【図5】本実施形態における画像処理部の詳細な構成を示すブロック図。

【図6】本実施形態における寸法データ生成部の詳細な構成を示すブロック図。

【図7】本実施形態におけるカメラと運送物の位置関係を示す図。

【図8】エリアAR1,2と運送物の配置の一例を示す図。

【図9】運送物を撮影した距離画像をXYZ座標空間において表す図。

【図10】クロージング処理を説明するための図。

【図11】上面3Dモデルをもとに、上面3Dモデルが示す上面を有する直方体を概念的に示す図。

【図12】上面Z座標画像のヒストグラム分布のピーク領域の最大値と最小値を示す図。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

10…寸法測定装置、20…処理装置、22…カメラ、24…重量測定装置、30…距離画像取得部、40…画像処理部、50…寸法データ生成部。

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