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公報発行日 2022年3月15
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-43194 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】全てのパッドのフルJTAG(Joint Test Action Group)バウンダリスキャンを可能にする。
【解決手段】集積回路(200)が、機能的回路要素(214)及びテスト回路要素(212)を含む。パッドのセット(P0~P4)が、テスト信号をテスト回路要素(212)に通信するために第1の状態で動作し得、入力/出力信号を機能的回路要素(214)に通信するため第2の状態で動作し得る。パッドのセット(P0~P4)とは異なる第2のセットのパッド(P5~P9)が、第2の状態においてパッドのセット(P0~P4)と関連する信号をテストするために、テスト信号をテスト回路要素(212)に通信するために第2の状態で動作し得る。
【選択図】図2A
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