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公報発行日 2024年12月19
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-175942 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】トレイの表面状態の異常やトレイに収容された電子部品の配置異常を検出することにより、トレイから電子部品を取り出す際に、実装ヘッドがトレイに干渉したり、吸着ミスを起こすことを抑制する。
【解決手段】TOFカメラ100は、保管庫81から引き出されたパレット90上のトレイ95に光を照射し、その反射光に基づいて、保管庫81から引き出されたトレイ95の表面高さ及び前記トレイ95に収容されたトレイ部品の表面高さを示す3次元画像を取得する。検査装置は、TOFカメラ100により取得した3次元画像に基づいて、保管庫81から引き出された前記トレイ95の表面状態の異常及び前記トレイ95に対するトレイ部品の配置異常のうち、少なくともいずれか一方を検出する。
【選択図】図5
本発明によれば、TOFカメラにより取得したトレイの3次元画像からトレイの表面状態の異常やトレイに収容された電子部品の配置異常を検出することが出来る。TOFカメラは、撮影角度の異なる2つのカメラの視差により距離の情報を取得するステレオカメラと比較して、小型であり、かつ配置の自由度が高い。そのため、柔軟な設計が可能である。
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