特開2024-175942IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

トレイを利用して電子部品を供給するトレイフィーダ

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】トレイの表面状態の異常やトレイに収容された電子部品の配置異常を検出することにより、トレイから電子部品を取り出す際に、実装ヘッドがトレイに干渉したり、吸着ミスを起こすことを抑制する。
【解決手段】TOFカメラ100は、保管庫81から引き出されたパレット90上のトレイ95に光を照射し、その反射光に基づいて、保管庫81から引き出されたトレイ95の表面高さ及び前記トレイ95に収容されたトレイ部品の表面高さを示す3次元画像を取得する。検査装置は、TOFカメラ100により取得した3次元画像に基づいて、保管庫81から引き出された前記トレイ95の表面状態の異常及び前記トレイ95に対するトレイ部品の配置異常のうち、少なくともいずれか一方を検出する。
【選択図】図5

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

トレイに歪みや変形等の異常が生じた場合、トレイから電子部品を取り出す際に、実装ヘッドがトレイに干渉する可能性がある。又は、トレイに対する電子部品の配置異常がある場合、吸着ミスが発生する可能性がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

(1)表面実装機であって、トレイフィーダと、前記トレイフィーダから供給される電子部品を基板上に実装するヘッドユニットと、TOFカメラと、検査装置と、を含み、前記トレイフィーダは、電子部品を収容したトレイを保管する保管庫と、前記保管庫から引き出し可能であり、前記トレイを載置したパレットと、を含む。 前記TOFカメラは、前記保管庫から引き出された前記パレット上の前記トレイに光を照射し、その反・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、TOFカメラにより取得したトレイの3次元画像からトレイの表面状態の異常やトレイに収容された電子部品の配置異常を検出することが出来る。TOFカメラは、撮影角度の異なる2つのカメラの視差により距離の情報を取得するステレオカメラと比較して、小型であり、かつ配置の自由度が高い。そのため、柔軟な設計が可能である。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 表面実装機の平面図
【図2】 Xビーム及びヘッドユニットの正面図
【図3】 表面実装機の電気的構成を示すブロック図
【図4】 トレイフィーダの斜視図
【図5】 トレイフィーダの側面図
【図6】 トレイの平面図
【図7】 トレイの断面図
【図8】 トレイの3次元画像
【図9】 トレイの3次元画像
【図10】 トレイの断面図
【図11】 トレイの3次元画像
【図12】 トレイの3次元画像
【図13】 トレイの3次元画像
【図14】 トレイ状態の確認処理のフローチャート
【図15】 実装制御のフローチャート
【図16】 リトライ動作のフローチャート
【図17】 機械学習を利用した検査装置のブロック図
【図18】 学習モデルを示す図
【図19】 表面実装機の電気的構成を示すブロック図
【図20】 Xビーム及びヘッドユニットの正面図
【図21】 トレイの断面図
【図22】 表面実装機のブロック図

選択図 図5出願人が指定した本件の代表的な図

1A~1C…表面実装機 20…搬送コンベア 60…ヘッドユニット 63…実装ヘッド 70…テープフィーダ 80…トレイフィーダ 81…保管庫 90…パレット 95…トレイ 100…TOFカメラ 101…投光素子 103…受光素子 150…コントローラ(検査装置) 200…判定装置(検査装置) 250…フィーダコントローラ

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