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公報発行日 2025年10月9
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2025-152397 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】検査対象部材から不良部を精度よく検出可能な検査方法及び検査装置を提供すること。
【解決手段】本発明に係る検査方法は、検査対象部材から不良部を検出する検査方法であって、検査対象部材の表面の検査領域から渦流探傷器を用いて第1信号を検出する第1検出ステップと、検査領域から超音波板厚計を用いて第2信号を検出する第2検出ステップと、第1信号及び第2信号の少なくとも一方が異常値を示す場合、検査領域に不良部があると判定する判定ステップと、を含む。
【選択図】図3
本発明に係る検査方法及び検査装置によれば、検査対象部材から不良部を精度よく検出することができる。本発明に係る部材の補修方法によれば、部材の不良部に起因するトラブルが発生することを抑制できる。
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