特開2025-185778IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

磁気センサ及びその感度測定方法、並びに、磁場源検出装置

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】磁気センサの感度測定方法において、測定感度を維持しつつ計算量を低減する。
【解決手段】磁気センサの感度測定方法は、感磁素子を有するセンサチップ20と、センサチップ20に磁界を集める集磁体30,40と、センサチップ20及び集磁体30,40を収容する筐体と、を備える磁気センサの感度測定方法であって、磁気センサ1に磁界を印加し、筐体の内部において均等に分散配置された複数の仮想的な感度点Pにおける理論上の磁場強度の単純平均値と、センサチップから出力される出力値に基づいて、磁気センサの感度を算出する。
【選択図】図10

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、非特許文献1に記載された磁気センサの感度測定方法は、複数の感度点のそれぞれに相対感度と呼ばれる重み付けのパラメータが付与されることから、計算が複雑であり、場合によっては計算が収束しないケースもあった。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示の一側面による磁気センサの感度測定方法は、感磁素子を有するセンサチップと、センサチップに磁界を集める集磁体と、センサチップ及び集磁体を収容する筐体と、を備える磁気センサの感度測定方法であって、磁気センサに磁界を印加し、筐体の内部において均等に分散配置された複数の仮想的な感度点における理論上の磁場強度の単純平均値と、センサチップから出力される出力値に基づいて、磁気センサの感度を算出する。・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示によれば、磁気センサの感度測定方法において、測定感度を維持しつつ計算量を低減する技術が提供される。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図1は、本開示の一実施形態による磁気センサ1の外観を示す略斜視図である。
【図2】 図2は、磁気センサ1から筐体である下ケース2及び上ケース3を削除した状態を示す略分解斜視図である。
【図3】 図3は、感度点Pの配列の第1の例を示す模式図である。
【図4】 図4は、感度点Pの配列の第2の例を示す模式図である。
【図5】 図5は、感度点Pの配列の第3の例を示す模式図である。
【図6】 図6は、感度点Pの配列の第4の例を示す模式図である。
【図7】 図7は、磁気センサ1の感度測定に用いる治具100の略斜視図である。
【図8】 図8は、治具100と磁気センサ1の位置関係を説明するための模式図である。
【図9】 図9は、磁気センサ1のZ方向における位置と感度gとの関係を示すグラフである。
【図10】 図10は、感度点Pの数と算出される感度gとの関係を示すグラフである。

選択図 図10出願人が指定した本件の代表的な図

1,1A,1B 磁気センサ 2 下ケース 3 上ケース 4 磁気センサモジュール 10 基板 11 表面 20 センサチップ 30,40 集磁体 50,60 成形部材 70 コネクタ 100 治具 110 プレート 121~128 磁気発生部 130 ボビン C 補償コイル Cx X軸コイル Cy Y軸コイル Cz Z軸コイル P 感度点 P1,P2 ピン P1a,P2a ピンの一端 P1b,P2b ピンの他端 W1,W2 ワイヤ

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