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2026年 特許取得件数ランキング 143位 153件(※)
公報発行日 2026年10月7
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2026-158399 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】ザーボードから取り外すことなく、オンボード状態のままでバリスタの劣化の診断を効率良く行えるようにする。
【解決手段】サージ保護の対象の被保護回路21と、当該被保護回路21と交流電圧を供給する商用電源3とを結ぶ電源線PLに接続されたバリスタ22と、を備える電子機器2内のバリスタ22の劣化を診断する劣化診断方法であって、電子機器2内における劣化診断対象のバリスタ22に予め定められたサージ電圧を印加し、バリスタ22のブレイクダウン電圧を計測し、当該計測したブレイクダウン電圧と予め定められた劣化閾値とを比較し、当該比較結果に基づいて、劣化診断対象のバリスタ22が使用可能であるか否かを判定する。
【選択図】図1
本発明は、劣化していない新品のバリスタのブレイクダウン電圧よりも、劣化したバリスタのブレイクダウン電圧の方が高いという知見に基づきなされたもので、劣化診断対象のバリスタのブレイクダウン電圧と、予め定められた劣化閾値とを比較することで、劣化診断対象のバリスタが使用可能であるか否かを判定する。本発明によれば、電子機器の外部から電子機器内のバリスタにサージ電圧を印加して、バリスタをマザーボードから取り外さずにブレイクダウン電圧を計測することで、バリスタをマザーボードから取り外すことなく、オンボード状態のままでバリスタの劣化の診断を効率良く行うことが可能になる。
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