特許7116132IP Force 特許公報全文掲載

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化学的に強化されたガラスに関し、具体的には、イオン交換で化学的に強化されたリチウム含有ガラスにおけるニー応力（knee stress）の測定を改善する方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ニー応力ＣＳｋの非破壊的な直接的測定を行う方法は米国特許出願公開第２０１６／０３５６７６０号明細書に開示されており、一方、ニー応力ＣＳｋの非破壊的な間接的測定を行う方法は米国特許出願公開第２０１７／００８２５７７号明細書（米国特許第９,８９７,５７４号として発行されている）に開示されており、それらの全てを参照して本明細書に組み込む。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示の１つの態様において、系統的誤差、ランダム誤差、および疑似ランダム誤差の１以上の発生源が軽減され、先に定義した「スイートスポット」内における、より精度の高い直接的ＣＳｋ測定を可能にし、それに加えて、許容可能な正確さおよび精密さを有する直接的ＣＳｋ測定がを可能になる角度結合スペクトルの範囲を広げる、直接的ＣＳｋ測定の方法が開示される。これは、測定窓を、あり得る角度結合スペクトルのほぼ全範・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1A】 ＫイオンおよびＮａイオンの両方のイオン交換が行われる平面状の基体の形態の例示的なＬｉ含有ガラス基体を上方から見た図
【図1B】 基体表面にわたって基体の本体内に向かって行われるＫおよびＮａイオン交換処理を示す、ｘ－ｚ平面において切り取った図１Ａのイオン交換された基体の拡大断面図
【図1C】 イオン交換された基体を形成するイオン交換処理の結果を模式的に示す
【図2A】 図１Ｃに示されているイオン交換された基体についての、ＴＭ偏光についての例示的な屈折率プロファイルｎＴＭ（ｚ）を示す
【図2B】 ｎＴＥ（ｚ）、即ち、ＴＥ偏光についての、図２Ａと同じプロット
【図2C】 図２Ａおよび図２Ｂの対応する屈折率プロファイルについての、スパイク（ＳＰ）、ニー（ＫＮ）、および圧縮の深さ（ＤＯＣ）を示す、深さ座標ｚと対比させた応力σ（ｚ）のプロット
【図3A】 本開示による、本明細書において開示される方法を用いてＩＯＸ物品を測定するために用いられる例示的なプリズム結合システムの模式図
【図3B】 図３Ａのプリズム結合システムの光検出器システムの拡大図
【図3C】 例示的な測定されたモードスペクトルを模式的に示す
【図3D】 ＮａＮＯ３およびＫＮＯ３の混合物を用いたイオン交換処理によって形成されたＬｉ含有ガラスの、ＴＭスペクトル（上）およびＴＥスペクトル（下）を含むモードスペクトルを有する例示的な測定されたモードスペクトルを模式的に示すと共に、後で説明するプロファイル測定パラメータを示す
【図3E】 ＴＩＲ－ＰＲ位置に近接した漏洩モードの存在に起因して、全反射と部分反射との間の遷移の位置（即ち、ＴＩＲ－ＰＲ位置）がどのようにシフトし得るかを示す、例示的なＴＭモードスペクトルの一部分の模式図
【図3F】 ＴＩＲ－ＰＲ位置に近接した漏洩モードの存在に起因して、全反射と部分反射との間の遷移の位置（即ち、ＴＩＲ－ＰＲ位置）がどのようにシフトし得るかを示す、例示的なＴＭモードスペクトルの一部分の模式図
【図3G】 ＴＩＲ－ＰＲ位置に近接した漏洩モードの存在に起因して、全反射と部分反射との間の遷移の位置（即ち、ＴＩＲ－ＰＲ位置）がどのようにシフトし得るかを示す、例示的なＴＭモードスペクトルの一部分の模式図
【図4】 Ｋ＋およびＮａ＋イオン交換を受けた化学的に強化されたＬｉ含有ガラス試料についてのモデル応力プロファイル（実線）を示す、正規化された位置座標ｚ／Ｔと対比させた応力（ＭＰａ）のプロットであり、破線は、Ｎａ＋拡散のみについてのモデルプロファイルを表しており、このモデルプロファイルは、ｚ／Ｔ＝－０．５およびｚ／Ｔ＝＋０．５にそれぞれ存在する２つの表面においてイオン交換を行ったものである
【図5A】 例示的な化学的に強化されたＬｉ含有ガラス試料についてのＴＥモードスペクトルおよびＴＭモードスペクトルを示す、測定されたモードスペクトルを模式的に示す
【図5B】 反ったＩＯＸ物品に起因して、測定されたモードスペクトルにけるＴＩＲ－ＰＲ遷移の傾斜がどのように変化するかを示す、ＴＩＲ－ＰＲ遷移の模式図
【図5C】 ＴＩＲ－ＰＲ遷移位置のシフトに対する補正を行う際に用いられる例示的な測定パラメータを示す、例示的な漏洩モード共振の模式図
【図6】 ＣＳｋを決定するために直接的測定方法および間接的測定方法の両方を組み合わせた、ＣＳｋを測定する例示的なハイブリッド方法のフロー図を示す
１０ ＩＯＸ物品 ２０ ガラス基体 ２１ 本体 ２２ 表面 ２４ ＩＯＸ領域 ２８ プリズム結合システム ４０ 結合プリズム ６０ 光源 ６２ 光線 １００ ＴＭ／ＴＥ偏光器 １３０ 光検出器システム ２５０ モードスペクトル ＳＰ スパイク

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