特許 7394039出願番号 特願 2020-160817
Ｘ線測定装置、Ｘ線測定システム及びＸ線測定方法
出願人 株式会社日立製作所（識別番号 5108）
2026年 特許公開件数ランキング 13位 838件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 15位 834件（※）
公報発行日 2023年12月7
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7394039 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
Ｘ線測定装置、Ｘ線測定システム及びＸ線測定方法の技術
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
ここで、特許文献１及び特許文献２に記載の技術は、Ｘ線光子のパイルアップについて考慮されていない。ここで、パイルアップとは複数のＸ線光子が同時に検出され、検出パルスが重複する現象である。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
前記した課題を解決するため、本発明は、少なくともＸ線の入射軸方向に延設されている検出部と、前記検出部において、パイルアップしている領域である第１の領域と、それ以外の領域である第２の領域とを区別し、前記第２の領域におけるＸ線光子数を計数するＸ線光子数計数部と、前記第２の領域において検出されたＸ線光子数を基に、前記第１の領域におけるＸ線光子数を推定しＸ線光子数推定部と、前記第２の領域において検出・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明によれば、放射線測定の精度を向上させることができる。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
第１Ｘ線測定システムの構成を示す図である。
【図2A】
データ処理装置の詳細な構成を示す図である。
【図2B】
データ処理装置のハードウェア構成を示す図である。
【図3】
第１実施形態における放射線検出器のチャンネル構成を示す図である。
【図4】
第１実施形態の放射線検出器の全体構成を示す図である。
【図5】
第１実施形態で用いられるアナログ信号処理器の構成を示す図である。
【図6A】
コンパレータ器に入力される信号の波形（入力波形）の例を示す図である。
【図6B】
それぞれのコンパレータ器の出力波形を示す図である。
【図7】
Ｘ線測定システムが行うＸ線測定処理の手順を示すフローチャートである。
【図8】
表示モニタに表示されるＸ線光子検出数の推定処理結果である。
【図9】
放射線吸収係数の算出に用いられる放射線測定装置の具体例を示す図である。
【図10】
第２実施形態におけるＸ線測定システムの構成を示す図である。
【図11】
第２実施形態におけるデータ処理装置の構成を示す図である。
【図12】
第２実施形態におけるＸ線測定処理の手順を示すフローチャートである。
【図13】
第３実施形態における放射線検出器１の構成を示す図である。
【図14】
第３実施形態の放射線検出器におけるチャンネル構成を示す図である。
【図15】
第４実施形態における放射線検出器の構成を示す図である。
代表図 図1本件の代表的な図
１，１ａ Ｘ線測定装置
２ 放射線測定装置
１３０ 放射線検出装置（検出部）
１３１ 放射線検出器（検出部）
１３２ アナログ信号処理器（信号処理部）
１５１ 放射線識別部（ノイズ除去部）
１５３ Ｘ線光子数分布取得部（Ｘ線光子数計数部）
１５４ Ｘ線光子数推定部（合計Ｘ線光子数算出部）
３０１ シンチレータ素子
３０２ 光センサ
３２１ 半導体検出器
３２２ａ 電極（第１の電極）
３２２ｂ 電極（第２の電極）
３４１ パイルアップ領域（第１の領域）
３４２ 非パイルアップ領域（第２の領域）
４０３ コンパレータ器
Ｓ１１ Ｘ線光子検出数分布の取得（Ｘ線光子数計数ステップ）
Ｓ１２ Ｘ線光子検出数の推定（Ｘ線光子数推定ステップ）
Ｓ１３ エネルギ別の合計Ｘ線光子数の算出（合計Ｘ線光子数算出ステップ）
Ｒ１ Ｘ線
Ｒ２ γ線（Ｘ線以外の放射線）
Ｚ，Ｚａ Ｘ線測定システム
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