【図1A】
図1Aは、1つ以上の基板に適用される組成物の非限定的な例を示す。
【図1B】
図1Bは、1つ以上の基板に適用される組成物の非限定的な例を示す。
【図1C】
図1Cは、1つ以上の基板に適用される組成物の非限定的な例を示す。
【図1D】
図1Dは、1つ以上の基板に適用される組成物の非限定的な例を示す。
【図2】
図2は、1つ以上のスタンピングプロセスを示す。
【図3】
図3は、1つ以上のスタンピングプロセスを示す。
【図4】
図4は、1つ以上のスタンピング箔の例を示す。
【図5】
図5は、1つ以上のダイ積層プロセスを示す。
【図6】
図6は、1つ以上のダイ接着アプローチを模式的に示す。
【図7A】
図7Aは、1つ以上の堆積技術の非限定的な例を示す。
【図7B】
図7Bは、1つ以上の堆積技術の非限定的な例を示す。
【図8】
図8は、1つ以上のダイの裏側でのプリンティングのプロセスを示す。
【図9】
図9は、1つ以上の図8のプロセスによって接着されるダイの例を示す。
【図10】
図10は、1つ以上の図9の接着の断面図を示す。
【図11】
図11は、1つ以上の膜を転写するためのプロセスを示す。
【図12A】
図12Aは、1つ以上の膜の例を示す。
【図12B】
図12Bは、1つ以上の膜の例を示す。
【図12C】
図12Cは、1つ以上の膜の例を示す。
【図13】
図13は、実施例1に記載する1つ以上のナノ銀ペーストでプリントしたリードフレームを示す。
【図14】
図14は、実施例1に記載する1つ以上のプロセス温度プロファイルを模式的に示す。
【図15】
図15は、実施例1に記載する1つ以上のダイが接着されたリードフレームを示す。
【図16】
図16は、実施例1に記載する1つ以上の接合部の断面図を示す。
【図17】
図17は、実施例1に記載する1つ以上の音響顕微鏡像データを示す。
【図18】
図18は、実施例2に記載する1つ以上のプロセスによって接着されたダイを示す。
【図19】
図19は、実施例2に記載する1つ以上のプロセスによって接着されたダイを示す。
【図20A】
図20Aは、実施例3に記載する1つ以上の積層プロセスを示す。
【図20B】
図20Bは、実施例3に記載する1つ以上の積層プロセスを示す。
【図20C】
図20Cは、実施例3に記載する1つ以上の積層プロセスを示す。
【図21】
図21は、実施例4に記載する1つ以上のダイシェア試験データを示す。
【図22A】
図22Aは、実施例6に記載する1つ以上のデータを示す。
【図22B】
図22Bは、実施例6に記載する1つ以上のデータを示す。
【図23A】
図23Aは、実施例6に記載する1つ以上のデータを示す。
【図23B】
図23Bは、実施例6に記載する1つ以上のデータを示す。
【図24】
図24は、1つ以上のフリップチップに関する方法の模式図を示す。
【図25】
図25は、1つ以上のフリップチップに関する方法の模式図を示す。
【図26】
図26は、実施例7に記載する1つ以上のデータを示す。
【図27】
図27は、実施例7に記載する1つ以上のデータを示す。
【図28】
図28は、1つ以上の実施例に係るデータを示す。
【図29】
図29は、1つ以上の実施例に係るデータを示す。
【図30】
図30は、1つ以上の実施例に係るデータを示す。
【図31】
図31は、1つ以上の実施例に係るデータを示す。
【図32】
図32は、1つ以上の加工方法の模式図を示す。