特許7586366IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

要因分析装置及び要因分析方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、例えば、特許文献１に開示されている技術では発電プラントの熱効率に影響を与える機器を特定することは可能であるが、当該機器をセンシングするどのセンサが熱効率に影響を与えるのかまでは特定することができなかった。また、例えば、特許文献２に開示されている技術では分析木により性能低下の要因を分析しているが、性能低下の判断と分析木による要因抽出とが異なるロジックであるため、性能の低下が判断された際に分析木にてその要因を必ずしも抽出できない可能性がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

目的を達成するため、一要因分析装置は、対象を複数のセンサにより計測した計測データを収集する収集手段と、前記収集手段により収集した計測データを用いて、前記対象の性能値を推定する性能推定手段と、前記性能推定手段により推定された性能値の分析期間を設定し、前記分析期間において性能値が変化した計測データを検知する変化検知手段と、前記変化検知手段により設定された前記分析期間において、性・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

性能変化の要因を適切に抽出することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第一の要因分析装置の全体構成の一例を示す図である。
【図2】 第一の要因分析装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図3】 第一の要因分析処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図4】 性能変化期間の検知結果の一例を示す図である。
【図5】 第二の要因分析装置の全体構成の一例を示す図である。
【図6】 第二の要因分析処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図7】 第三の要因分析装置の全体構成の一例を示す図である。
【図8】 第三の要因分析処理の流れの一例を示すフローチャートである。

代表図 図1本件の代表的な図

１０ 要因分析装置 １０１ 収集部 １０２ 性能推定部 １０３ 変化検知部 １０４ 要因分析部 １０５ 記憶部 １０６ 分析期間設定部 １０７ 変化サンプル検知部

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