特許7588638IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

磁気ランダム・アクセス・メモリ(MRAM)デバイスに関し、とりわけ、MRAMデバイスにおいて自己整合型トップ・コンタクトを形成するためのカプセル化トポグラフィ支援技術

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の実施形態による、下地基板を覆う誘電体中に形成されているキャッピング層をともなうインターコネクトを図示する断面図である。
【図2】 本発明の実施形態による、インターコネクト上でキャッピング層の上に形成されている磁気トンネル接合(MTJ)と、MTJを覆って堆積されているコンフォーマル・カプセル化層と、MTJを覆って堆積されている/囲んでいる第2の誘電体(例えば、層間絶縁膜(ILD))とを図示する断面図である。
【図3】 本発明の実施形態による、MTJの上方の第2の誘電体にパターニングされており、トレンチの底部のところにトポグラフィを作り出すトレンチ内部の(カプセル化された)MTJを露出させるトレンチを図示する断面図である。
【図4】 本発明の実施形態による、トレンチの中へと堆積されておりトレンチをライニングするコンフォーマル・バリア層、およびMTJの上方のトレンチ内のバリア層を覆う金属配線を形成するために金属で埋められているトレンチを図示する断面図である。
【図5】 本発明の実施形態による、MTJの最上部のところのカプセル化層の露出したピークによって区切られたセグメントへと金属配線を分断する、カプセル化層までリセスされている金属配線を図示する断面図である。
【図6】 本発明の実施形態による、MTJの最上部のところにリセスを形成するためにエッチングされているカプセル化層の露出したピークを図示する断面図である。
【図7】 本発明の実施形態による、MTJの各々の最上部のリセス内に形成されているコンタクトを図示する断面図である。
【図8】 代替の実施形態にしたがって、本発明の実施形態によるMTJの上方の第2の誘電体にパターニングされており、トレンチの底部のところにトポグラフィを作り出すトレンチ内部の(カプセル化された)MTJを露出させるオフセット・トレンチを図示する図2から続く断面図である。
【図9】 本発明の実施形態による、トレンチの中へと堆積されておりトレンチをライニングするコンフォーマル・バリア層、およびMTJの上方のトレンチ内のバリア層を覆う金属配線を形成するために金属で埋められているトレンチを図示する断面図である。
【図10】 本発明の実施形態による、カプセル化層がMTJの最上部のところでカプセル化層の露出したピークよって区切られたセグメントへと金属配線を分断する、カプセル化層までリセスされている金属配線を図示する断面図である。
【図11】 本発明の実施形態による、MTJの最上部のところにリセスを形成するためにエッチングされているカプセル化層の露出したピークを図示する断面図である。
【図12】 本発明の実施形態による、MTJの各々の最上部のリセス内に形成されているコンタクトを図示する断面図である。
【図13】 本発明の実施形態による、例示的なMTJを図示する断面図である。

代表図 図1本件の代表的な図

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります