特許7600677IP Force 特許公報全文掲載

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テスト画像に基づいて画像不良の原因を判定する画像処理方法および画像処理装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ところで、前記画像不良の一種である濃度ムラは、前記画像形成装置の作像部における複数の回転体の回転不良が原因で生じる場合がある。前記複数の回転体は、表面に静電潜像が形成される感光体、前記感光体の表面を帯電させる帯電ローラーおよび前記静電潜像をトナー像へ現像する現像ローラーなどを含む。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一の局面に係る画像処理方法は、プロセッサーが、画像形成装置の出力シートに対する画像読取処理を通じて得られるテスト画像における画像不良を判定する方法である。前記画像処理方法は、前記プロセッサーが、前記テスト画像における横方向に沿う１ラインごとの複数の画素値の代表値である横代表値のデータからなる縦データ列を導出することを含む。さらに前記画像処理方法は、前記プロセッサーが、前記縦データ列に・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、画像形成装置の出力シートに対する画像読取処理を通じて得られるテスト画像に基づいて画像不良の一種である周期的濃度ムラの原因を正しく判定することができる画像処理方法および画像処理装置を提供することが可能になる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、画像処理装置の構成図である。
【図2】 図２は、画像処理装置におけるデータ処理部の構成を示すブロック図である。
【図3】 図３は、画像処理装置における画像不良判定処理の手順の一例を示すフローチャートである。
【図4】 図４は、画像処理装置における特異不良判定処理の手順の一例を示すフローチャートである。
【図5】 図５は、画像処理装置における濃度ムラ判定処理の手順の一例を示すフローチャートである。
【図6】 図６は、特異部を含むテスト画像の一例とそのテスト画像に基づき生成される前処理画像および特徴画像の一例とを示す図である。
【図7】 図７は、画像処理装置による主フィルター処理においてテスト画像から順次選択される注目領域および隣接領域の一例を示す図である。
【図8】 図８は、周期的濃度ムラを含むテスト画像とそのテスト画像に基づき導出される縦波形データの一例を示す図である。
【図9】 図９は、画像処理装置の第１応用例における特徴画像生成処理の手順の一例を示すフローチャートである。

代表図 図1本件の代表的な図

１ ：画像読取装置 ２ ：画像形成装置 ４ ：プリント部 ４ｘ ：作像部 ８ ：データ処理部 ９ ：テスト出力シート １０ ：画像処理装置 ８０ ：ＣＰＵ ８１ ：ＲＡＭ ８２ ：二次記憶装置 Ｐｓ１ ：特異部 Ｐｓ１１ ：縦スジ Ｐｓ１２ ：横スジ（横スジ部） Ｐｓ１３ ：ノイズ点 Ｐｘ１ ：注目画素 ｇ１ ：テスト画像 ｇ１１ ：第１前処理画像 ｇ１２ ：第２前処理画像 ｇ２１ ：第１特徴画像 ｇ２２ ：第２特徴画像 ｇ２３ ：第３特徴画像

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