特許7699259IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

モノリシックフォトモスリレー(monolithic opto-mosfet relay)及びその製造方法に関する。具体的には、本発明は、モノリシックフォトモスリレーの構成要素を作製するために同じプロセスと同じ低ドープの炭化ケイ素基板を使用する。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの回路を示す模式図
【図2】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図3】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図4】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図5】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図6】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図7】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図8】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの回路レイアウトを示す上面図
【図9】 本発明のパッケージング後のモノリシックフォトモスリレーを示す断面図
【図10】 本発明のパッケージング後のモノリシックフォトモスリレーを示す断面図
【図11】 本発明のパッケージング後のモノリシックフォトモスリレーを示す断面図
【図12】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの制御回路を示す模式図
【図13】 本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造方法を示すフローチャート

代表図 図1本件の代表的な図

100 モノリシックフォトモスリレー 110 発光ダイオード 111 光 113 反射光 130 フォトダイオード 150 第1金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ 151 第1ゲート 153 第1ソース 155 第1ドレイン 170 第2金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ 171 第2ゲート 173 第2ソース 175 第2ドレイン 191 基板 192 エピタキシャル層 1921 第1のP-N構造 1922 第2のP-N構造 1923 N-P-N構造 1924 トレンチ 1925 高電圧領域 1926 低電圧領域 194 隔離層 195 金属層 200 入力回路 300 出力回路 400 封止剤 500 青色紫外線反射フィルム 600 金属ケース 700 制御回路 S1302~S1314 ステップ

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