技術分野
モノリシックフォトモスリレー(monolithic opto-mosfet relay)及びその製造方法に関する。具体的には、本発明は、モノリシックフォトモスリレーの構成要素を作製するために同じプロセスと同じ低ドープの炭化ケイ素基板を使用する。
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの回路を示す模式図
【図2】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図3】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図4】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図5】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図6】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図7】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造工程を示す断面図
【図8】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの回路レイアウトを示す上面図
【図9】
本発明のパッケージング後のモノリシックフォトモスリレーを示す断面図
【図10】
本発明のパッケージング後のモノリシックフォトモスリレーを示す断面図
【図11】
本発明のパッケージング後のモノリシックフォトモスリレーを示す断面図
【図12】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの制御回路を示す模式図
【図13】
本発明に係るモノリシックフォトモスリレーの製造方法を示すフローチャート
100 モノリシックフォトモスリレー
110 発光ダイオード
111 光
113 反射光
130 フォトダイオード
150 第1金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ
151 第1ゲート
153 第1ソース
155 第1ドレイン
170 第2金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ
171 第2ゲート
173 第2ソース
175 第2ドレイン
191 基板
192 エピタキシャル層
1921 第1のP-N構造
1922 第2のP-N構造
1923 N-P-N構造
1924 トレンチ
1925 高電圧領域
1926 低電圧領域
194 隔離層
195 金属層
200 入力回路
300 出力回路
400 封止剤
500 青色紫外線反射フィルム
600 金属ケース
700 制御回路
S1302~S1314 ステップ
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