特許7792810IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

機器の異常判定装置、及び、異常判定方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

特許文献１では、異常判定を行うにあたり、例えば、スライド窓を用いて時系列データに係る合成データ及び正常時の合成データを部分データに分解して判定を行っているが、スライド窓が適切に設定されていない場合、異常判定を行う上での精度が低下してしまうという課題がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示の少なくとも一異常判定装置は、課題を解決するために、 動作時に状態パラメータの時間変化が特定のプロファイル波形を示す機器の異常判定装置であって、 前記状態パラメータについて時間的に連続する複数のデータを含む時系列データを取得するための時系列データ取得部と、 前記時系列データに含まれるデータ数を示すスライド窓の長さを設定するスライド窓設定部と、 前記機器・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示の少なくとも一実施形態によれば、動作時の状態パラメータの時系列データに基づいて異常を適切に判定可能な異常判定装置、異常判定方法、異常判定システム、異常判定システムの制御方法、及び、プログラムを提供できる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 一異常判定装置を判定対象である機器とともに示す模式図である。
【図2】 図１のセンサによって検知される正常な機器の状態パラメータの時間変化の一例を示す図である。
【図3】 図１の異常判定装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図4】 図１の異常判定装置の機能的構成を示すブロック図である。
【図5A】 図４の基準時系列データ取得部１６２による基準時系列データの抽出方法を示すフローチャートである。
【図5B】 図４の異常判定部における異常判定方法を示すフローチャートである。
【図6A】 基準データから抽出される複数の基準時系列データを模式的に示す図である。
【図6B】 スライド窓を適用することで時系列データを取得する様子を模式的に示す図である。
【図7】 図５のステップＳ２０２で特定される仮想空間上の各位置を模式的に示す図である。
【図8】 模範データに対応するスライド窓の基準データにおける位置を示す模式図である。
【図9】 仮想空間における模範データに対応する位置を模式的に示す図である。
【図10】 一異常判定装置による異常判定例を示すグラフである。
【図11】 機器の状態パラメータの時間変化に対するデータ取得期間を模式的に示す図である。
【図12】 基準データのうち複数の基準時系列データの抽出対象となる機器動作期間を模式的に示す図である。
【図13】 各動作モードにおける状態パラメータの時間変化を示す図である。
【図14】 他の異常判定装置１００の機能的構成を示すブロック図である。
【図15】 一異常判定システムの構成図である。
【図16】 図１５の異常判定システムのブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 機器 ２ センサ １００ 異常判定装置 １１０ 入力部 １２０ 記憶部 １３０ 演算部 １４０ 出力部 １５０ データ監視部 １５２ 時系列データ取得部 １６０ 基準データ記憶部 １６２ 基準時系列データ取得部 １７０ 異常判定部 １８０ スライド窓設定部 １９０ クライアント端末 ２００ 要求部 Ｄｒｅｆ 基準データ Ｄｔ 時系列データ Ｌ 乖離度 Ｍ１ 第１動作モード Ｍ２ 第２動作モード Ｐ 状態パラメータ ＰＦ プロファイル波形 ＰＦ１ 立ち上がり部 ＰＦ２ ピーク部 ＰＦ３ 立ち下がり部 ＳＦｓｕｂ サブ波形 Ｔ１ データ取得期間 Ｔ２ 非データ取得期間 Ｔ３ 機器動作期間 Ｔ４ 非機器動作期間 Ｖ 仮想空間

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