【図1】 ＭＳスペクトルの概略図（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す：本発明の化合物又は複合体、特に、前駆体及びフラグメンテーションの１回（単一）荷電分析物に対する、２回荷電標識分析物を含む複合体のフラグメンテーション挙動を記載している。複数の電荷は、結果として生じる正味電荷のそれぞれであり得、又はそれぞれである。

【図2】 ＭＳスペクトルの概略図（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す：＋／－０．５ダルトン・ウインドウ（ウインドウは２つの破線の間に表されている）で１回荷電した比較化合物のフラグメンテーション挙動を記載している。

【図3】 ＭＳスペクトルの概略図（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す：＋／－０．５ダルトン・ウインドウ（ウインドウは２つの破線の間に表されている）で２回荷電した本発明の化合物又は複合体のフラグメンテーション挙動を記載している。

【図4-1】 図４Ａ～図４Ｅは、標識された２回荷電エストラジオールを含む複合体の定量下限（ＬＬＯＱ）を示す。図４Ａは、複合体（標識６とコンジュゲートしたエストラジオール）の構造を示す。図４Ｂは、それぞれの質量遷移（強度（％）対保持時間）におけるＭＳブランククロマトグラムを示す。図４Ｃは、標識６とコンジュゲートしたエストラジオール（関連する０．５ｐｇ／ｍｌのエストラジオール）のそれぞれの質量遷移（強度（％）対保持時間）におけるクロマトグラムを示す。図４Ｄは、エストラジオールに関して０～０．０１ｎｇ／ｍｌの濃度範囲で標識６とコンジュゲートしたエストラジオールの検量線を示す。図４Ｅは、エストラジオールに関して標識６とコンジュゲートした０ｎｇ／ｍｌ～０．０５ｎｇ／ｍｌの範囲のエストラジオールの検量線のデータを示す。３回の個々の注入の絶対面積を示し、ＤＩＮ ３２６４５によるそれぞれの検出限界を報告する。ＮＧは検出限界を意味し、ＥＧは９５％の正確性を有する検出限界を意味し、ＢＧは定量限界（ＬＯＱ）を意味する。最良のモード／設定のためのネイティブ・エストラジオールのＬＬＯＱは、約５ｎｇ／ｍｌである。

【図4-2】 図４Ａ～図４Ｅは、標識された２回荷電エストラジオールを含む複合体の定量下限（ＬＬＯＱ）を示す。図４Ａは、複合体（標識６とコンジュゲートしたエストラジオール）の構造を示す。図４Ｂは、それぞれの質量遷移（強度（％）対保持時間）におけるＭＳブランククロマトグラムを示す。図４Ｃは、標識６とコンジュゲートしたエストラジオール（関連する０．５ｐｇ／ｍｌのエストラジオール）のそれぞれの質量遷移（強度（％）対保持時間）におけるクロマトグラムを示す。図４Ｄは、エストラジオールに関して０～０．０１ｎｇ／ｍｌの濃度範囲で標識６とコンジュゲートしたエストラジオールの検量線を示す。図４Ｅは、エストラジオールに関して標識６とコンジュゲートした０ｎｇ／ｍｌ～０．０５ｎｇ／ｍｌの範囲のエストラジオールの検量線のデータを示す。３回の個々の注入の絶対面積を示し、ＤＩＮ ３２６４５によるそれぞれの検出限界を報告する。ＮＧは検出限界を意味し、ＥＧは９５％の正確性を有する検出限界を意味し、ＢＧは定量限界（ＬＯＱ）を意味する。最良のモード／設定のためのネイティブ・エストラジオールのＬＬＯＱは、約５ｎｇ／ｍｌである。

【図4-3】 図４Ａ～図４Ｅは、標識された２回荷電エストラジオールを含む複合体の定量下限（ＬＬＯＱ）を示す。図４Ａは、複合体（標識６とコンジュゲートしたエストラジオール）の構造を示す。図４Ｂは、それぞれの質量遷移（強度（％）対保持時間）におけるＭＳブランククロマトグラムを示す。図４Ｃは、標識６とコンジュゲートしたエストラジオール（関連する０．５ｐｇ／ｍｌのエストラジオール）のそれぞれの質量遷移（強度（％）対保持時間）におけるクロマトグラムを示す。図４Ｄは、エストラジオールに関して０～０．０１ｎｇ／ｍｌの濃度範囲で標識６とコンジュゲートしたエストラジオールの検量線を示す。図４Ｅは、エストラジオールに関して標識６とコンジュゲートした０ｎｇ／ｍｌ～０．０５ｎｇ／ｍｌの範囲のエストラジオールの検量線のデータを示す。３回の個々の注入の絶対面積を示し、ＤＩＮ ３２６４５によるそれぞれの検出限界を報告する。ＮＧは検出限界を意味し、ＥＧは９５％の正確性を有する検出限界を意味し、ＢＧは定量限界（ＬＯＱ）を意味する。最良のモード／設定のためのネイティブ・エストラジオールのＬＬＯＱは、約５ｎｇ／ｍｌである。

【図5】 図５ａ～図５ｃは、ブランク注入のＭＳクロマトグラム、並びに、ＲＨＡ１３９Ｆ２、ＲＨＡ１７１Ｆ２及び標識６とコンジュゲートしたエストラジオールの（３つの実施形態の強度（％）対保持時間）のそれぞれの質量遷移の図をそれぞれ示す。

【図6】 結合分析物としてのエストラジオール又はそのフラグメントと、本発明による結合化合物としての標識６とコンジュゲートしたエストラジオール又はそのフラグメントとを含む、２回正に荷電した複合体のＭＳスペクトル（強度（％）対ｍ／ｚ）の図である。

【図7】 ピーク「分割」の概略図を示す。分析物分子の誘導体化反応から生じる異なる異性体を互いに分離するクロマトグラフィシステムの能力を説明している。

【図8】 非誘導体化分析物と比較して、増強係数を決定するワークフローの概略図を示す。

【図9】 図９Ａ及び９Ｂは、二重荷電化合物／誘導体又はその複合体に対するＴＦＡによるシグナル消光効果を示す。

【図10-1】 図１０Ａ～図１０Ｄは、化合物及び／又は複合体のフラグメンテーションのパターンのＭＳスペクトル（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す。

【図10-2】 図１０Ａ～図１０Ｄは、化合物及び／又は複合体のフラグメンテーションのパターンのＭＳスペクトル（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す。

【図10-3】 図１０Ａ～図１０Ｄは、化合物及び／又は複合体のフラグメンテーションのパターンのＭＳスペクトル（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す。

【図10-4】 図１０Ａ～図１０Ｄは、化合物及び／又は複合体のフラグメンテーションのパターンのＭＳスペクトル（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す。

【図11】 図１１は、化合物及び／又は複合体のフラグメンテーションのパターンのＭＳスペクトル（強度（％）対ｍ／ｚ）を示す。