【図1】
担持金属触媒1の模式図である。
【図2】
図2Aは、担持金属触媒1の断面の模式図であり、図2Bは、図2A中の領域Bの拡大図である。
【図3】
単粒子で構成される導電性粒子2の模式図である。
【図4】
連結構造体2aで構成される導電性粒子2の模式図である。
【図5】
炭素源球体7が集積した炭素源集積体8の模式図である。
【図6】
炭素源集積体8同士が連結される状態を示す模式図である。
【図7】
燃料電池の模式図である。
【図8】
製造例1のカーボン粒子の二次電子像である。
【図9】
製造例2のカーボン粒子の二次電子像である。
【図10】
左側の画像Aは、実施例1の担持金属触媒の断面二次電子像であり、右側の画像は、そのZコントラスト像である。
【図11】
参考例1の逆ミセル法での、Rwと、個数中位径の関係を示すグラフである。
【図12】
上段左側の画像は、実施例2の担持金属触媒の二次電子像であり、上段右側の画像は、そのZコントラスト像であり、下段の左側及び右側の画像は、実施例2の担持金属触媒の別の二次電子像である。
【図13】
実施例2の担持金属触媒のZコントラスト像である。
【図14】
図14A~図14Bは、実施例2の担持金属触媒の白金粒子の重心間距離分布を示し、図14Aは、未処理の状態を示し、図14Bは、水素還元処理後の状態を示す。
【図15】
図15A~図15Cは、それぞれ、実施例2の担持金属触媒のZコントラスト像または二次電子像を示し、図15Aは、担持工程後、未処理の状態のZコントラスト像を示し、図15Bは、担持工程後に水素還元処理を行った後の状態の二次電子像、図15Cは、水素還元を行った後に上述の酸素還元活性測定を行った後の状態の二次電子像を示す。
【図16】
参考例2での、担体酸素濃度とPt担持率の関係を示すグラフである。
【図17】
参考例3での、アニール温度と酸素濃度の関係を示すグラフである。
【図18】
実施例3の担持金属触媒の二次電子像である。
【図19】
実施例4の担持金属触媒の二次電子像である。
【図20】
参考例4での、水素処理による残存界面活性剤の除去の効果を調べるための、四重極質量分析計での分析結果を示すグラフである。
【図21】
実施例5及び比較例1での酸化剤および中和剤滴下時のpHの経時変化を示すグラフ。
【図22】
図22Aは、白金担持量を50質量%とした以外は実施例5と同様に製造した担持金属触媒の二次電子像を示し、図22B~図22Cは、実施例5の担持金属触媒の二次電子像を示し、図22Aは、担持工程後、未処理の状態、図22Bは、担持工程後に水素還元処理を行った後の状態、図22Cは、水素還元処理を行った後に、実施例2と同様に酸素還元活性測定を行った後の状態を示す。
【図23】
図23A~図23Cは、実施例6の担持金属触媒の二次電子像であり、図23A~図23Bは、担持工程後に水素還元処理を行った後の状態を示し、図23Cは、水素還元処理を行った後に、実施例2と同様に、酸素還元活性測定を行った後の状態を示す。
【図24】
図24Aは、実施例6の担持金属触媒の二次電子像であり、図24Bは、そのZコントラスト像である。
【図25】
左側の画像は、比較例1の担持金属触媒の二次電子像であり、右側の画像は、そのZコントラスト像である。