参照番号のリスト １００ 質量分析機器 １０２ 第１の分析セル １０４ 第２の分析セル １０６ 第３の分析セル １０８ イオン化源 １１０ 試料 １１２ 粒子増倍部 １１４ 信号 １１６ 第１の分析セルの第１の質量スペクトル １１８ 第３の分析セルの第２の質量スペクトル １２０ ｘ軸 １２２ ｙ軸 １２４ 質量電荷比に応じた信号強度 １２６ 前部ショルダ １２８ 極大値 １３０ 左側の上りフランク １３２ 右側の下りフランク １３４ 膨出部 １３６ 理論値からの左側における質量電荷比に応じて計算された二乗差 １３８ 理論値からの右側における質量電荷比に応じて計算された二乗差 １４０ 対称ピーク高さの比 １４２ 非対称ピーク高さの比 １４４ 第１の分析セルの第３の質量スペクトル １４６ 第３の分析セルの第４の質量スペクトル １４８ 質量電荷比に応じた信号強度 １５０ 質量電荷比に応じた信号強度の移動平均 １５２ 第１の分析セルの例示的な第１のヒートマップ １５４ 第３の分析セルの例示的な第２のヒートマップ １５６ 左側のｙ軸 １５８ 右側のｙ軸 １６０ 所定の周期における最大振幅の領域 １６２ 第１の分析セルの第１のウェーブレット変換図 １６４ 第３の分析セルの第２のウェーブレット変換図 １６６ 第１の分析セルのウェーブレット変換後の第３の質量スペクトル １６８ 第３の分析セルのウェーブレット変換後の第４の質量スペクトル １７０ 所定の周期 １７２ 第１の分析セルの第１のウェーブレット振幅図 １７４ 第３の分析セルの第２のウェーブレット振幅図 １７６ 質量電荷比ｍ／ｚに応じた第１の分析セルの第３の質量スペクトルのウェーブレット振幅 １７８ 第３の分析セルの第４の質量スペクトルのウェーブレット振幅 １８０ 大きいウェーブレット振幅 Ｓ１０ 試料を分析する Ｓ１２ 質量スペクトルの外側エンベロープおよび内側エンベロープを決定する Ｓ１４ 外側エンベロープと内側エンベロープとの間の二乗差を計算する Ｓ１６ 計算された二乗差について、物質の理論質量電荷比値からの偏差を決定する Ｓ１８ 計算された差について決定された物質の理論質量電荷比値からの偏差が、所定の差しきい値を超えるかどうかを判定する Ｓ２０ 質量分析機器が不適切な状態であると決定する Ｓ２２ 質量分析機器が適切な状態であると決定する Ｓ３０ 既知の分子量を有する少なくとも１つの物質を含む試料を分析する Ｓ３２ 質量スペクトルのウェーブレット変換を行う Ｓ３４ ウェーブレット変換後の質量スペクトルの振幅について、所定の周期における物質の理論振幅値からの偏差を決定する Ｓ３６ ウェーブレット変換後の質量スペクトルの振幅について決定された所定の周期における物質の理論振幅値からの偏差が、所定の振幅しきい値を超えるか否かを決定する Ｓ３８ 質量分析機器が不適切な状態であると決定する Ｓ４０ 質量分析機器が適切な状態であると決定する