特許7905752IP Force 特許公報全文掲載

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開示の絶縁抵抗検出装置および故障検出方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、絶縁抵抗検出装置は、コンデンサにオープン故障が生じていると、検出抵抗に印加される電圧が安定しなくなるため、絶縁抵抗の検出精度が低下する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

実施形態の一態様に係る絶縁抵抗検出装置は、電池の正極側に接続される第１のスイッチと、前記電池の負極側に接続される第２のスイッチと、検出抵抗と、前記検出抵抗に並列接続されるコンデンサと、前記検出抵抗に印加される電圧を計測する計測回路とを備える計測部と、前記第１のスイッチおよび前記第２のスイッチを制御する制御部とを備える。前記制御部は、前記第１のスイッチをオンし、前記第２のスイッチをオフして、前・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

実施形態の一態様に係る絶縁抵抗検出装置および故障検出方法は、絶縁抵抗の検出精度を向上させることができるという効果を奏する。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、絶縁抵抗検出装置の構成例を示す説明図である。
【図2】 図２は、絶縁抵抗検出装置の動作例を示す説明図である。
【図3】 図３は、絶縁抵抗検出装置の動作例を示す説明図である。
【図4】 図４は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図5】 図５は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図6】 図６は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図7】 図７は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図8】 図８は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図9】 図９は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図10】 図１０は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図11】 図１１は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図12】 図１２は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図13】 図１３は、コンデンサの検査方法の説明図である。
【図14】 図１４は、制御部が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【図15】 図１５は、制御部が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【図16】 図１６は、制御部が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【図17】 図１７は、制御部が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【図18】 図１８は、実施形態の変形例に係る計測回路の説明図である。
【図19】 図１９は、実施形態の変形例に係る計測回路の説明図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 絶縁抵抗検出装置 ２ 計測部 ２１ 第１のスイッチ ２２ 第２のスイッチ ２３，２４ 検出抵抗 ２５，２５ａ 計測回路 ２５１ 差動増幅器 ２５２ 第１検出器 ２５３ 第２検出器 ２６，２７ 制限抵抗 ２８，２９ コンデンサ ３０ オフセット電圧印加部 ３ 制御部 １０ 電池 １１ 電池セル １２ 正極側の絶縁抵抗 １３ 負極側の絶縁抵抗

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