この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
実施形態1に係る慣性計測装置の平面図。
【図2】
図1のb-b断面における断面図。
【図3】
図1のP視における斜視図。
【図4】
慣性計測装置の製造方法の流れを示すフローチャート図。
【図5】
製造過程における基板の一態様を示す平面図。
【図6】
製造過程における基板の一態様を示す断面図。
【図7】
センサーデバイスの概要を示す透過平面図。
【図8】
図7のf-f断面における断面図。
【図9】
図7のg-g断面における断面図。
【図10】
封止材の有無による出力変動の変化を示すグラフ図。
【図11】
実装形態2に係る慣性計測装置の連通孔周辺の部分平面図。
【図12】
連通孔周辺の拡大斜視図。
【図13】
実装形態3に係る慣性計測装置の連通孔周辺の部分平面図。
【図14】
連通孔周辺の拡大斜視図。
【図15】
実装形態4に係る慣性計測装置の平面図。
【図16】
異なる態様の慣性計測装置の平面図。
【図17】
実装形態5に係る慣性計測装置の平面図。
【図18】
実装形態6に係る慣性計測ユニットを示す分解斜視図。
【図19】
基板の斜視図。
【図20】
角速度センサーの透過平面図。
【図21】
図20のj-j断面における断面図。
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