特許7907255IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

慣性計測装置、およびその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

のような封止樹脂に外部から水分が侵入すると封止樹脂の応力が変動する場合がある。封止樹脂の応力が変動すると、慣性センサーが変形し、センサーデバイスの計測に影響を及ぼす虞があった。つまり、水分の影響を低減し、優れた検出精度を有する慣性計測装置、およびその製造方法が求められていた。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本願に係る一態様の慣性計測装置は、接合領域を有する基板と、キャップと、樹脂製パッケージに収納され、前記基板と前記キャップとの間の内部空間において前記基板上の実装領域に配置されるセンサーデバイスと、前記基板の前記接合領域において、前記キャップを前記基板に接合する接合材及び封止材と、を備え、前記接合材は、前記実装領域を囲むとともに前記内部空間と外部とを連通する連通孔を有するように形成され、前記封・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施形態1に係る慣性計測装置の平面図。
【図2】 図1のb-b断面における断面図。
【図3】 図1のP視における斜視図。
【図4】 慣性計測装置の製造方法の流れを示すフローチャート図。
【図5】 製造過程における基板の一態様を示す平面図。
【図6】 製造過程における基板の一態様を示す断面図。
【図7】 センサーデバイスの概要を示す透過平面図。
【図8】 図7のf-f断面における断面図。
【図9】 図7のg-g断面における断面図。
【図10】 封止材の有無による出力変動の変化を示すグラフ図。
【図11】 実装形態2に係る慣性計測装置の連通孔周辺の部分平面図。
【図12】 連通孔周辺の拡大斜視図。
【図13】 実装形態3に係る慣性計測装置の連通孔周辺の部分平面図。
【図14】 連通孔周辺の拡大斜視図。
【図15】 実装形態4に係る慣性計測装置の平面図。
【図16】 異なる態様の慣性計測装置の平面図。
【図17】 実装形態5に係る慣性計測装置の平面図。
【図18】 実装形態6に係る慣性計測ユニットを示す分解斜視図。
【図19】 基板の斜視図。
【図20】 角速度センサーの透過平面図。
【図21】 図20のj-j断面における断面図。

代表図 図1本件の代表的な図

1a…電極端子、1b…第1ランド、2,2f…第2ランド、2b…凹部、3…第3ランド、4…連通孔、5…基板、5a…上面、5b…下面、6…実装領域、7…接合領域、8…キャップ、8a…キャビティ、8b…フランジ部、9…ハンダクリーム、9a…接合材、9b…封止材、10…基材、11…樹脂、12,13…第2ランド、12b…凹部、12c…接続部、18…蓋体、18a…凹部、20…基材、21,22,23…凹部、25…第1ジャイロセンサー素子、26…第2ジャイロセンサー素子、27…第3ジャイロセンサー素子、30…基材、31,32,33…凹部、35…第1加速度センサー素子、36…第2加速度センサー素子、37…第3加速度センサー素子、38…蓋体、38a…凹部、41…台座板、44…連通孔、45…第1慣性センサー、46…第2慣性センサー、50…センサーデバイス、61…基板、62…コネクター、70…ケース、70b…凹部、71…実装用端子、72…開口部、77…凸部、77a…上面、81…キャップ、81b…フランジ部、81c…連通孔、92…基部、93…検出用振動腕、94…連結腕、95,96…駆動用振動腕、97…金属バンプ、100,110,120,130,140,150…慣性計測装置、200x,200y,200z…角速度センサー、201…振動ジャイロセンサー素子、202…ベース、203…第1基板、203a…上面、203b…下面、204…第2基板、205…実装端子、206…接合部材、207…リッド、300…慣性計測ユニット、IC65…制御、S1,S2,S3…収容空間、SP…内部空間。

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