技術分野
本願は一般的に集積回路に関しており、具体的には、VLSIチップモジュール/パッケージを含む集積回路に電力を供給するための半導体チップ、集積回路、方法およびアーキテクチャ
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
1つの従来技術の設計は、フロントサイドルーティング空間を解放し、セルの高さを低減するべく、バックサイド(すなわち、トランジスタの裏を意味する)電源供給ネットワークと、デバイスレベルの埋め込みパワーレールの導体との両方を提供する。そのような設計において、埋め込みパワーレールは、デバイス層の形成中に構築されるが、しかしながら、ウエハのフリップ段階と、埋め込み電源供給ネットワークと、後から形成された電源供給ネットワークを埋め込みパワーレールに接続する、高アスペクト比の密なピッチの貫通シリコンビア(tight-pitch through silicon vias,μTSV)とのより後の形成段階とを含むさらなるプロセスを必要とする。高アスペクト比の密なピッチのμTSVの形成段階は、アラインメント問題および他の処理問題を示す。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
本開示の態様は、バックサイド電力供給を含む半導体集積回路デバイスまたは構造と、その製造方法とを提供する。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1A】
本願のスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)および早期バックサイド電源供給ネットワーク(EBPDN)を採用した結果のVLSI半導体構造の対応する断面図を示す。
【図1B】
本願のスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)および早期バックサイド電源供給ネットワーク(EBPDN)を採用した結果のVLSI半導体構造の対応する断面図を示す。
【図2A】
図1A、1Bに示された半導体構造の一部を第1の半導体ウエハ上に形成する方法の段階であって、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための早期バックサイド電源供給ネットワーク(EBPDN)の形成を含む、段階を示す。
【図2B】
図1A、1Bに示された半導体構造の一部を第1の半導体ウエハ上に形成する方法の段階であって、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための早期バックサイド電源供給ネットワーク(EBPDN)の形成を含む、段階を示す。
【図2C】
図1A、1Bに示された半導体構造の一部を第1の半導体ウエハ上に形成する方法の段階であって、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための早期バックサイド電源供給ネットワーク(EBPDN)の形成を含む、段階を示す。
【図3A】
図2Cに示された第1のウエハ構造に第2のウエハ構造を接合する段階を含む、図1A、1Bに示された半導体構造の残りの部分を形成するための残りの方法の段階であって、さらに、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)の形成のための製造段階を採用する、段階を示す。
【図3B】
図2Cに示された第1のウエハ構造に第2のウエハ構造を接合する段階を含む、図1A、1Bに示された半導体構造の残りの部分を形成するための残りの方法の段階であって、さらに、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)の形成のための製造段階を採用する、段階を示す。
【図3C】
図2Cに示された第1のウエハ構造に第2のウエハ構造を接合する段階を含む、図1A、1Bに示された半導体構造の残りの部分を形成するための残りの方法の段階であって、さらに、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)の形成のための製造段階を採用する、段階を示す。
【図3D】
図2Cに示された第1のウエハ構造に第2のウエハ構造を接合する段階を含む、図1A、1Bに示された半導体構造の残りの部分を形成するための残りの方法の段階であって、さらに、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)の形成のための製造段階を採用する、段階を示す。
【図3E】
図2Cに示された第1のウエハ構造に第2のウエハ構造を接合する段階を含む、図1A、1Bに示された半導体構造の残りの部分を形成するための残りの方法の段階であって、さらに、図1A、1Bの実施形態におけるスケーリング有効化のための埋め込みパワーレール(BPR)の形成のための製造段階を採用する、段階を示す。
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