特許 7916310出願番号特願 2023-510654
電子回路デバイス、電子回路デバイスの温度測定方法

出願人古野電気株式会社（識別番号 166247）

2026年特許公開件数ランキング 520位 39件（※）

2026年特許取得件数ランキング 281位 71件（※）

公報発行日　2026年9月7

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7916310　ログイン済みの方はこのURLへ

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※ 共同出願を含む

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ＩＣ等の電子回路デバイスの温度を測定する技術

しかしながら、従来技術では、集積回路の温度を精度良く測定できない。

この発明の電子回路デバイスは、メイン処理部、および、温度測定部を備える。メイン処理部は、所定の信号処理を実行できる。温度測定部は、所定の低消費電力以下で駆動され、かつ、メイン処理部との間での熱抵抗が所定の熱抵抗値以下となった態様で、メイン処理部の温度と対応関係にある信号を生成する。

この発明によれば、電子回路デバイスの温度を精度良く測定できる。

【図1】図１は、第１の電子回路デバイスの機能ブロック図である。

【図2】図２は、ＲＣ発振器の温度周波数特性の一例を示すグラフである。

【図3】図３は、第１の温度測定方法の事前準備の一例を示すフローチャートである。

【図4】図４は、第１の温度測定方法の一例を示すフローチャートである。

【図5】図５は、第２の電子回路デバイスの機能ブロック図である。

【図6】図６は、第３の電子回路デバイスの機能ブロック図である。

１０、１０Ａ、１０Ｂ：電子回路デバイス２０、２０Ｂ：メイン処理部２１：ＣＰＵ２２：電圧検知部３０、３０Ｂ：温度測定部３１：ＲＣ発振器３２、３３：カウンタ回路３４：ラッチ回路４０：ＲＴＣ信号生成部５０：ＴＣＸＯ９１：メイン電源９２：温度測定用電源ＶＤ：駆動電圧Ｖｍ：測定用電圧

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