特許7920715IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

パッシブソーナーにおいて目標までの距離を測定する測距装置及び測距方法に関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

一般に、パッシブソーナーでは、背景雑音に埋もれた目標信号を検出して方位を算出するため、観測された方位は真の目標方位に対して誤差を含んでいる。そのため、誤差を含む方位を用いて距離が算出されることにより、算出された距離にも誤差が含まれることになる。この場合、誤差によっては、従来の三角測量の原理で距離を算出できなくなるという問題がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る測距装置は、複数の受波器アレイで受信した目標からの信号に基づき、目標までの距離に関する距離情報を取得する測距装置であって、受波器アレイごとに信号を整相処理する整相処理部と、受波器アレイごとに整相処理の結果に基づき、目標が存在する方位である目標方位を算出する方位算出部と、受波器アレイごとに目標方位の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、受波器アレイごとに目標方位と標準偏差と受波器アレ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の測距装置及び測距方法によると、複数の受波器アレイの信号に基づき同時確率密度を算出し、同時確率密度に基づく目標までの距離を出力することで、観測された方位の誤差によらず目標との距離を求めることができる。また、複数の受波器アレイの信号に基づき算出された同時確率密度を出力することで、観測された方位の誤差によらず、同時確率密度の値に基づいて目標との距離を求めることができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 確率密度ｆ１(θ’１)の一例である。
【図2】 確率密度ｆ１（ｒ’１）の一例である。
【図3】 確率密度ｆ１（θ’１，ｒ’１）の一例である。
【図4】 確率密度ｆ２(θ’２)の一例である。
【図5】 確率密度ｆ２（ｒ’２）の一例である。
【図6】 確率密度ｆ２（θ’２，ｒ’２）の一例である。
【図7】 受波器アレイＳ１、受波器アレイＳ２及び測距基点の幾何学的配置図である。
【図8】 確率密度ｆ１ｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）の一例である。
【図9】 確率密度ｆ２ｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）の一例である。
【図10】 同時確率密度ｆｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）の一例である。
【図11】 実施の形態１に係る測距装置１００の概略構成図である。
【図12】 同時確率密度ｆｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）を濃淡表示した場合の一例である。
【図13】 従来技術に係る測距方法の原理を説明する図である。
【図14】 従来技術に係る測距装置１０の概略構成図である。
【図15】 従来技術に係る測距方法の課題を示す図である。
【図16】 従来技術に係る測距方法の課題を示す図である。
【図17】 式（１７）の条件に当てはまる場合の確率密度ｆ１ｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）の一例である。
【図18】 式（１７）の条件に当てはまる場合の確率密度ｆ２ｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）の一例である。
【図19】 式（１７）の条件に当てはまる場合の同時確率密度ｆｒ（θ’ｒ，ｒ’ｒ）の一例である。
【図20】 図１９の同時確率密度の表示例である。
【図21】 変形例に係る距離取得部による距離の算出方法を説明する図である。

代表図 図1本件の代表的な図

６ 同時確率密度算出部、７ 距離取得部、８ 出力部、９ 距離算出部、１０ 測距装置、１１、１２ 入力部、２１、２２ 整相処理部、３１、３２ 方位算出部、４１、４２ 標準偏差算出部、５１、５２ 確率密度算出部、１００ 測距装置、Ｓ１、Ｓ２ 受波器アレイ。

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