特許7923781IP Force 特許公報全文掲載

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信号処理回路、及び、光検出装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ＡＣ結合部と後段回路との間にアバランシェフォトダイオードからの信号のノイズ成分を除去する比較回路を設けることが考えられる。比較回路は、たとえば、コンパレータ及びインバータなどの回路素子であり、入力された信号に含まれてる成分のうち閾値を超えた成分に基づく信号を出力する。この結果、ノイズ成分が除去される。このような構成において、アバランシェフォトダイオードによる光検出の精度を向上するため、後段回路への信号の伝達速度をさらに向上することが求められている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本願発明者は、後段回路への信号の伝達速度をさらに向上するため、ＡＣ結合部とレベルシフタ部とを設ける構成に至った。この構成によれば、ＡＣ結合部において、アバランシェフォトダイオードと比較回路との間における寄生容量が低減され、アバランシェフォトダイオードから出力される信号の変化が高速化される。換言すれば、クエンチングが高速化される。レベルシフタ部は、ＡＣ結合部と比較回路との間において、比較回路に・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の各態様は、後段回路への信号の伝達速度が向上されながら、ノイズ除去の精度が確保され得る、信号処理回路及び光検出装置を提供できる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 一光検出装置の一例を示す概略斜視図である。
【図2】 光検出装置の一例を示す分解斜視図である。
【図3】 光検出装置の一部の概略回路図である。
【図4】 光検出装置の一部の概略回路図である。
【図5】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図6】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図7】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図8】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図9】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図10】 比較例における信号の変換を説明するための図である。
【図11】 本実施形態における信号の変換を説明するための図である。
【図12】 ノイズの除去を説明するための図である。
【図13】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図14】 本実施形態の変形例における光検出装置の一部の概略回路図である。
【図15】 変形例において比較回路に入力される信号を説明するための図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ，１Ｄ…光検出装置、１２…クエンチング抵抗、１３，１４，１５，５３，５４，５７，５８，５９，６６，８２，８３，８５…端子、２１…信号処理回路、２２…入力端子、２３…比較回路、２４…後段回路、２５…調整回路、２６…制御部、２７…アクティブクエンチング回路、２８…アクティブリチャージ回路、４１…インバータ、４２…ＡＣ結合部、４３，４３Ａ…レベルシフタ部、４４，４４Ｂ，４４Ｃ…基準値調整部、５１…コンデンサ、５２，５２Ａ，５５，５５Ｃ，５６，５６Ｂ，８１，８４…回路素子、６５…バンドギャップリファレンス回路、Ｖｔｈ…閾値、Ｖｂａｓｅ…基準値。

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