特表2023-551344IP Force 特許公報全文掲載

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】
(54)【発明の名称】パワー半導体の接合温度を決定する方法及びシステム
(51)【国際特許分類】
   
   
   
【FI】
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】
(86)(22)【出願日】
(85)【翻訳文提出日】
(86)【国際出願番号】
(87)【国際公開番号】
(87)【国際公開日】
(31)【優先権主張番号】21305283.0
(32)【優先日】
(33)【優先権主張国・地域又は機関】
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】503163527
【氏名又は名称】ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィ
【氏名又は名称原語表記】MITSUBISHI ELECTRIC R&D CENTRE EUROPE B.V.
【住所又は居所原語表記】Capronilaan 46, 1119 NS Schiphol Rijk, The Netherlands
(74)【代理人】
【識別番号】100110423
【弁理士】
【氏名又は名称】曾我 道治
(74)【代理人】
【識別番号】100111648
【弁理士】
【氏名又は名称】梶並 順
(74)【代理人】
【識別番号】100122437
【弁理士】
【氏名又は名称】大宅 一宏
(74)【代理人】
【識別番号】100147566
【弁理士】
【氏名又は名称】上田 俊一
(74)【代理人】
【識別番号】100188514
【弁理士】
【氏名又は名称】松岡 隆裕
(72)【発明者】
【氏名】ブランデレロ、ジュリオ
(72)【発明者】
【氏名】ルフェーブル、ギョーム
【テーマコード(参考)】
【Fターム(参考)】
2F056JT06
2G003AA01
2G003AB15
(57)【要約】
本発明は、温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用して、パワー半導体の接合温度を決定する方法に関する。補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチから構成される。本発明は、第1のセットの電圧を測定するために、第1の期間中に、第1のスイッチを閉状態にし、第2のスイッチを開状態にし、少なくとも1つの別の電圧を測定するために、少なくとも1つの別の期間中に、第1のスイッチの状態及び/又は第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更し、測定された電圧を使用して、温度感応性電気パラメータの値を決定する。
【特許請求の範囲】
【請求項】
温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、前記温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用してパワー半導体の接合温度を決定する方法であって、前記補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチを有し、前記第1のスイッチの第1の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第1の端子に接続され、前記第1のスイッチの第2の端子は、前記第2のスイッチの第1の端子と、信号源の第1の端子と、前記補償モジュールの第1の出力とに接続され、前記第2のスイッチの第2の端子は、前記信号源の第2の端子と、前記補償モジュールの第2の出力とに接続されることを特徴とし、前記方法は、
前記第1のスイッチを閉状態にし、前記第2のスイッチを開状態にし、第1の期間中に第1のセットの電圧を測定するするステップと、
前記第1のスイッチの状態及び/又は前記第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更し、少なくとも1つの別の期間中に少なくとも1つの別の電圧を測定するステップと、
測定された前記第1のセットの電圧および前記少なくとも1つの別の電圧を使用して、前記温度感応性電気パラメータの値を決定するステップと、
を含む、方法。
【請求項】
前記第2のスイッチの状態は、前記少なくとも1つの別の電圧を測定するために、第2の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記補償モジュールの寄生抵抗器によって、及び前記測定モジュールの内部オフセットによって生成されるオフセット電圧であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
【請求項】
前記第1のスイッチ及び前記第2のスイッチの状態は、第3の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第3のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記信号源及び前記外部電気回路を表す第2のセットの電圧であり、前記第3のスイッチの第1の端子は、前記第1のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第3のスイッチの第2の端子は、第1のキャパシタの第1の端子に接続され、前記第1のキャパシタの第2の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第2の端子及び前記外部電気回路の第2の端子に接続されることを特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。
【請求項】
前記第1のスイッチの状態は、第4の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第4のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記第2のスイッチの機能を表す電圧のセットであり、前記第4のスイッチの第1の端子は、前記第1のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第4のスイッチの第2の端子は、第2のキャパシタの第1の端子に接続され、前記第1のキャパシタの第2の端子は、前記第2のスイッチの前記第2の端子に接続されることを特徴とする、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。
【請求項】
前記少なくとも1つの別のスイッチは、第5の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中にその状態が閉状態に設定される第5のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記信号源を表す電圧であり、前記第5のスイッチの第1の端子は、前記第1のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第5のスイッチの第2の端子は、抵抗器の第1の端子に接続され、前記抵抗器の第2の端子は、前記第2のスイッチの前記第2の端子に接続されることを特徴とする、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。
【請求項】
前記温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイスの入力キャパシタンスと直列の内部ゲート抵抗であることを特徴とする、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。
【請求項】
前記外部電気回路は、抵抗器回路若しくは短絡回路又は抵抗器又はキャパシタ又はインダクタ又はスイッチと直列の電圧源であることを特徴とする、請求項6に記載の方法。
【請求項】
前記信号源は、電流源であることを特徴とする、請求項1~6のいずれか1項に記載の方法。
【請求項】
前記温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又は前記パワー半導体デバイスの近傍に埋め込まれたPN接合であることを特徴とする、請求項1、2、5、及び8のいずれか一項に記載の方法。
【請求項】
前記温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又はパワー半導体の近傍に埋め込まれた温度依存抵抗であることを特徴とする、請求項1、2、5、及び8のいずれか一項に記載の方法。
【請求項】
前記少なくとも1つの他の電圧は、基準電圧と比較され、前記少なくとも1つの他の電圧が前記基準電圧の範囲外である場合に通知が生成されることを特徴とする、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。
【請求項】
温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、前記温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用してパワー半導体の接合温度を決定するシステムであって、前記補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチを有し、前記第1のスイッチの第1の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第1の端子に接続され、前記第1のスイッチの第2の端子は、前記第2のスイッチの第1の端子と、信号源の第1の端子と、前記補償モジュールの第1の出力とに接続され、前記第2のスイッチの第2の端子は、前記信号源の第2の端子と、前記補償モジュールの第2の出力とに接続されることを特徴とし、前記システムは、
第1の期間中に、前記第1のスイッチを閉状態にし、前記第2のスイッチを開状態にして、第1のセットの電圧を測定する手段と、
少なくとも1つの別の期間中に、前記第1のスイッチの状態及び/又は前記第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更して、少なくとも1つの別の電圧を測定する手段と、
測定された前記第1のセットの電圧および前記少なくとも1つの別の電圧を使用して、前記温度感応性電気パラメータの値を決定する手段と、
を備える、システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【】
本発明は、概して、パワー半導体の接合温度を決定する方法及びデバイス
【背景技術】
【】
パワー半導体の接合温度は、過熱に対するロバスト性を高め、電力モジュールの健全性の状態を監視するために、電力変換器の動作中に測定すべき重要なパラメータである。
【】
パワー半導体の接合温度を推定するためには、埋め込みオンチップセンサおよび熱に敏感な電気パラメータの両方を使用することができる。従来の問題点は、温度に対する感度が小さく、正確な励磁源、電圧源/電流源を必要とし、その動的特性を考慮して時間内に正確に取得することができない点にある。また、温度感応性電気パラメータ(TSEP)に基づく方法の中には、TSEPの負荷条件に対する依存性を補償するために外部センサを必要とするものがある。最後に、センサの誤動作により、誤った接合温度がユーザに示される可能性がある。
【】
パワー半導体の接合温度をオンラインで推定するための多くの温度感応性電気パラメータに基づく方法及びインチップセンサでは、例えば、高周波サンプリング又は高分解能電流測定を必要とする技術のような製品用途への展開と適合しない要件が課されている。
【】
一部のTSEPは、パワー半導体の動作中に独立して測定することができない。TSEPの一部は負荷条件によって変化するため、複雑な較正が必要となる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【】
本発明は、パワー半導体の接合温度を決定する方法及びデバイスを提供することを目的としており、本方法及びデバイスは、高い時間分解能又は高分解能の電流及び電圧測定を必要とせず、パワー半導体の接合温度を決定するための正確な信号源を必要としない。
【課題を解決するための手段】
【】
そのために、本発明は、温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用してパワー半導体の接合温度を決定する方法であって、補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチを有し、第1のスイッチS1の第1の端子は、温度感応性電気デバイスの第1の端子に接続され、第1のスイッチS1の第2の端子は、第2のスイッチS3の第1の端子と、信号源120の第1の端子と、補償モジュール130の第1の出力とに接続され、第2のスイッチS3の第2の端子は、信号源の第2の端子と、補償モジュール130の第2の出力とに接続されることを特徴とし、方法は、
第1のセットの電圧VTSEP(t1)、VTSEP(t2)を測定するために、第1の期間中に、第1のスイッチを閉状態にし、第2のスイッチを開状態にするステップと、
少なくとも1つの別の電圧を測定するために、少なくとも1つの別の期間中に、第1のスイッチの状態及び/又は第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更するステップと、
測定された電圧を使用して、温度感応性パラメータの値を決定するステップと、
を含む、方法
【】
本発明はまた、温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用してパワー半導体の接合温度を決定するシステムであって、補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチを有し、第1のスイッチS1の第1の端子は、温度感応性電気デバイスの第1の端子に接続され、第1のスイッチS1の第2の端子は、第2のスイッチS3の第1の端子と、信号源120の第1の端子と、補償モジュール130の第1の出力とに接続され、第2のスイッチS3の第2の端子は、信号源の第2の端子と、補償モジュール130の第2の出力とに接続されることを特徴とし、システムは、
第1のセットの電圧VTSEP(t1)、VTSEP(t2)を測定するために、第1の期間中に、第1のスイッチを閉状態にし、第2のスイッチを開状態にする手段と、
少なくとも1つの別の電圧を測定するために、少なくとも1つの別の期間中に、第1のスイッチの状態及び/又は第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更する手段と、
測定された電圧を使用して、温度感応性電気パラメータの値を決定する手段と、
を備える、システム
【】
したがって、信号源の精度、並びに信号源及び/又は外部電気回路又は/及び補償モジュール又は/及び測定モジュールの時間及び温度に伴う安定性により、温度又は経年劣化に伴うドリフトを補償することができるため、推測された温度感応性電気パラメータの精度にいかなる影響を及ぼすことはない。パワー半導体の寿命がつきるまで、信号源、外部電気回路、及び測定モジュールを安定かつ正確に維持する必要がないため、その実装の複雑さが低減される。さらに、パワー半導体の動作点又は経年変化に関連する温度感応性パラメータの変動を補償することができる。加えて、この補償は、測定モジュール又は信号源を追加することなく、最終ドリフト回路パラメータを用いて温度感応性パラメータを決定する直前に行われる。
【】
特定の特徴によれば、第2のスイッチの状態は、少なくとも1つの別の電圧を測定するために、第2の期間と称される少なくとも1つの別の期間中に変更され、少なくとも1つの別の電圧は、補償モジュール130の寄生抵抗器によって、及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧をV0である。
【】
したがって、温度及び経年変化に伴う補償モジュール及び測定モジュールのオフセットドリフトは、温度センサを追加することなく、測定モジュールを追加することなく行われる。さらに、補償は、温度感応性パラメータ決定の直前に行われる。加えて、任意のオフセット補償回路又は任意のオフセットに関する知識が、温度感応性パラメータの正確な推定のために必要となる。
【】
特定の特徴によれば、第1のスイッチ及び第2のスイッチの状態は、第3の期間と称される少なくとも1つの別の期間中に変更され、少なくとも別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第3のスイッチS2であり、少なくとも別の電圧は、信号源及び外部電気回路110を表す第2のセットの電圧VC1(t1)、VC1(t2)であり、第3のスイッチS2の第1の端子は、第1のスイッチの第2の端子に接続され、第3のスイッチS2の第2の端子は、第1のキャパシタC1の第1の端子に接続され、第1のキャパシタC1の第2の端子は、温度感応性電気デバイスの第2の端子及び外部電気回路の第2の端子に接続される。
【】
したがって、パワー半導体動作中に温度感応性電気デバイスから切断することができなかった、温度感応性パラメータに対する外部電気回路110の電気的変動及びドリフトの影響を、温度感応性パラメータ決定の直前に、測定モジュールを追加することなく除去し、補償することができる。さらに、温度感応性電気パラメータを正しく推定するには、外部電気回路を安定に維持する必要がある。スイッチS2は、直列キャパシタC1を有してもよく、その場合、外部電気回路のAC電圧のみが考慮される。
【】
特定の特徴によれば、第1のスイッチの状態は、第4の期間と称される少なくとも1つの別の期間中に変更され、少なくとも別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第4のスイッチS5であり、少なくとも別の電圧は、第2のスイッチの機能を表す電圧のセットVC2(t1)、VC2(t2)であり、第4のスイッチS5の第1の端子は、第1のスイッチの第2の端子に接続され、第4のスイッチS5の第2の端子は、第2のキャパシタC2の第1の端子に接続され、第2のキャパシタC2の第2の端子は、第2のスイッチS3の第2の端子に接続される。
【】
したがって、測定モジュールのサンプリング時間t1及びt2を推定することができ、温度及び経年変化によるその変動を、測定チェーンを追加せずに測定することができる。変動及びドリフトは、温度感応性パラメータを決定するために、持続値に対して補償される。
【】
特定の特徴によれば、少なくとも別のスイッチは、第5の期間と称される少なくとも1つの別の期間中にその状態が閉状態に設定される第5のスイッチS4であり、少なくとも別の電圧は、信号源を表す電圧VR1であり、第5のスイッチS4の第1の端子は、第1のスイッチの第2の端子に接続され、第5のスイッチS4の第2の端子は、抵抗器R1の第1の端子に接続され、抵抗器R1の第2の端子は、第2のスイッチS3の第2の端子に接続される。
【】
したがって、測定チェーンでは、電流信号源I1の場合にはI1=VR1/R1等、電圧信号源V1の場合にはV1=VR1等、信号源レベルに比例する電圧VR1が測定される。信号源の精度は、推測される温度感応性パラメータの精度に影響を与えない。温度又は経年変化による信号源のドリフトは補償することができる。信号源は、デバイスの寿命全体にわたって安定に維持する必要がないため、信号源の実装の複雑さが低減される。さらに、補償は、測定チェーンを追加することなく、信号源の最後のドリフト及び変動を用いて、温度感応性パラメータ決定の直前に行われる。
【】
特定の特徴によれば、温度感応性電気パラメータは、パワー半導体デバイスの入力キャパシタンスと直列の内部ゲート抵抗である。
【】
したがって、温度感応性パラメータは、オフセット電圧又は信号源値の少なくとも最新の値、又はサンプリング時間又は外部電気的変動を使用して算出された内部ゲート抵抗にのみ関連する。さらに、サンプリング時間値を使用することにより、推測される温度感応性パラメータは、例えば、パワー半導体デバイスの主電圧及び電流等のパワー半導体デバイスの動作点とともに、かつパワー半導体デバイスの経年劣化とともに変化するパワー半導体の寄生入力キャパシタンスのような他のパラメータに依存することはない。
【】
特定の特徴によれば、外部回路は、抵抗器回路若しくは短絡回路又は抵抗器又はキャパシタ又はインダクタ又はスイッチと直列の電圧源である。
【】
したがって、温度感応性電気デバイスは、温度感応性パラメータ決定に干渉することなくパワー半導体状態を制御するために、分極することができる。有利には、温度感応性パラメータは、パワー半導体の負荷条件の影響を受けずに、パワー半導体の通常動作中に決定することができる。また、規定範囲外の回路変動を検出してユーザに通知することができる。
【】
特定の特徴によれば、信号源は、電流源である。
【】
したがって、温度感応性パラメータの応答は、測定モジュール上の従来の電圧測定で測定される電圧信号に変換される。
【】
特定の特徴によれば、温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又はパワー半導体デバイスの近傍に埋め込まれたPN接合である。
【】
したがって、電流源の精度は、温度感応性パラメータ推定に影響を及ぼすことはない。PN接合は、関連する電圧が温度及び電流源信号レベルに依存する抵抗器と直列の、接合温度のみに依存する電圧源によってモデル化することができる。そのため、補償により、PN接合モデルの抵抗部分を除去して、電流信号レベルに依存させないことが可能となる。さらに、測定モジュールのオフセットを補償することができる。
【】
特定の特徴によれば、温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又はパワー半導体の近傍に埋め込まれた温度依存抵抗である。
【】
したがって、電流レベルに伴う測定電圧の変動を補償することができ、電流信号源が精密であることを必要とせず、測定モジュールのオフセットを補償することができる。
【】
特定の特徴によれば、少なくとも1つの他の電圧は、基準電圧と比較され、少なくとも1つの他の電圧が基準電圧の範囲外である場合に通知が生成される。
【】
したがって、温度感応性電気デバイス及び/又は外部電気回路及び/又は信号源及び/又は補償モジュール及び/又は測定モジュールに存在するドリフト及び/又は誤動作の可能性が特定され、保守動作をトリガーすることができる。
【】
本発明の特徴は、例示の実施形態の以下の説明を読むことによってより明らかになる。この説明は、添付図面に関して作成されたものである。
【図面の簡単な説明】
【】
【図】本発明による、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスを示す図である。
【図】本発明による、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスの補償モジュールを示す図である。
【図】本発明による、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスの計算モジュールのアーキテクチャを示す図である。
【図】本発明による、パワー半導体の接合温度を決定するために使用される温度感応性電気デバイスの第1の実施形態を示す図である。
【図】本発明による、パワー半導体の接合温度を決定するために使用される温度感応性電気デバイスの第2の実施形態を示す図である。
【図】本発明による、パワー半導体の接合温度を決定するために使用される温度感応性電気デバイスの第3の実施形態を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1及びS3のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS2、S3及びS1並びにキャパシタC1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS5並びにキャパシタC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS3、S4及びS1並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2及びS3並びにキャパシタC1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS5並びにキャパシタC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3、S4及びS5並びにキャパシタC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2、S3及びS5並びにキャパシタC1及びC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3、S4、及びS5、並びにキャパシタC2及び抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2、S3、S4、及びS5、並びにキャパシタC1、C2、及び抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2、S3、S4、及びS5、並びにキャパシタC1、C2、及び抵抗器R1を備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第2の実施形態及び第3の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1及びS3のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第2の実施形態及び第3の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第2の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第2の実施形態及び第3の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第2の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示す図である。
【図】第1の実施形態によるパワー半導体の接合温度を決定するために使用される信号のクロノグラムを表し、図2に示される全ての構成要素が利用される。
【発明を実施するための形態】
【】
図1は、本発明による、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスを示している。
【】
温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスは、温度感応性電気デバイス100と、信号源120と、外部電気回路110と、補償モジュール130と、測定モジュール140と、計算モジュール150とを備える。
【】
信号源120は、DC又はACの電流源又は電圧源、例えば、25mAのDC電流源又は2Vのピークツーピーク正弦波電圧源である。
【】
外部電気回路110は、抵抗器回路若しくは短絡回路又は抵抗器又はキャパシタ又はインダクタ又はスイッチと直列の電圧源である。
【】
温度感応性電気デバイス100は、例えば、パワー半導体デバイスの入力キャパシタと直列の内部ゲート抵抗、又はPN接合若しくはサーミスタ、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた温度依存抵抗、又はPN接合若しくはサーミスタ、パワー半導体デバイスの近傍に埋め込まれた温度依存抵抗である。温度感応性電気デバイス100は、図4a~図4cを参照してより詳細に開示される。
【】
補償モジュール130は、測定モジュール140が、電圧Viを測定することによって信号源120の特性を測定できるように、温度感応性電気デバイス100に信号源120を接続する又は温度感応性電気デバイス100から信号源120を切断することができる。電圧Viは、計算モジュール150に記憶される。補償モジュール130はまた、測定モジュール140が、電圧Vjを測定することによって外部電気回路110の特性を測定できるように、信号源を外部電気回路110に接続することができる。電圧Vjは、計算モジュール150に記憶される。補償モジュール130はまた、電圧Vkを測定することによって信号源120の特性を測定できるように、信号源120を測定モジュール140に接続することができる。電圧Vkは、計算モジュール150に記憶される。
【】
測定モジュール140は、補償モジュール130の出力電圧を測定する。例えば、測定モジュール140は、サンプルホールドデバイスと組み合わせて、又は組み合わせずに、差動演算増幅器によって駆動されるアナログ-デジタル変換器ADCによって構成される。
【】
計算モジュールは、測定モジュール140によって出力された電圧から温度感応性パラメータを決定する。
【】
外部電気回路110の第1の端子は、信号源120の第1の端子と、補償モジュール130の4で示される入力とに接続される。外部電気回路110の第2の端子は5で示される。外部電気回路110の第2の端子は、温度感応性電気デバイス100として使用されるパワー半導体のゲート又はパワー半導体のベースと、補償モジュール130の2で示される入力とに接続される。
【】
信号源120の第2の端子は、補償モジュール130の3で示される入力に接続される。
【】
温度感応性電気デバイス100の第1の端子は、補償モジュール130の2で示される入力に接続され、温度感応性電気デバイス100の第2の端子は、補償モジュール130の1で示される入力に接続される。
【】
図2は、本発明による、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスの補償モジュールを示している。
【】
補償モジュール130は、最大で6つのスイッチS1~S6を有している。
【】
スイッチS1のドレインは、補償モジュール130の1で示される入力に接続される。スイッチS1のソースは、スイッチS2のソースと、スイッチS6のソースと、スイッチS3のドレインと、抵抗器R1の第1の端子と、キャパシタC2の第1の端子とに接続される。
【】
キャパシタC1の第1の端子は、補償モジュール130の2で示される入力に接続される。キャパシタC1の第2の端子は、スイッチS2のドレインに接続される。
【】
スイッチS6のドレインは、補償モジュール130の3で示される入力に接続される。
【】
補償モジュール130の4で示される入力は、スイッチS3のソース、スイッチS4のソース、及びスイッチS5のソースに接続される。
【】
補償モジュール130の出力における電圧Voutは、スイッチS1のソースと補償モジュール130の4で示される入力との間にある。
【】
スイッチS6は、信号源120が電圧源である場合にのみ使用される。信号源120が電流源である場合、スイッチS6は、閉状態のままであるか、又は短絡回路によって置き換えることができる。
【】
第1の実施形態によれば、温度感応性電気デバイス100がパワー半導体である場合、補償モジュール130は、
スイッチS1及びS3のみ、又は
スイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみ、又は
スイッチS2、S3及びS1並びにキャパシタC1のみ、又は
スイッチS1、S3及びS5並びにキャパシタC2のみ、又は
スイッチS3、S4及びS1並びに抵抗器R1のみ、又は
スイッチS4、S2、S1及びS3、抵抗器R1及びキャパシタC1のみ、又は
スイッチS4、S5、S1及びS3、抵抗器R1及びキャパシタC2のみ、又は
スイッチS2、S5、S1及びS3、キャパシタC1及びキャパシタC2のみ、又は
スイッチS3、S4、S2及びS1、キャパシタC1及び抵抗器R1のみ、又は
スイッチS2、S3、S4、S5及びS1、キャパシタC1、キャパシタC2及び抵抗器R1のみ
を備えることができる。
【】
第2の実施形態によれば、温度感応性電気デバイス100がPN接合である場合、補償モジュール130は、
スイッチS1及びS3のみ、又は
スイッチS1及びS4並びに抵抗器R1のみ、又は
スイッチS3、S4及びS1並びに抵抗器R1のみ
を備えることができる。
【】
第2の実施形態によれば、温度感応性電気デバイス100が抵抗器である場合、補償モジュール130は、
スイッチS1及びS3のみ、又は
スイッチS1及びS4並びに抵抗器R1のみ、又は
スイッチS3、S1及びS4並びに抵抗器R1のみ
を備えることができる。
【】
キャパシタC1及びC2の一例は、規格IEC/EN60384-1に関するクラス1タイプである。抵抗器R1は、約20ppm/℃の温度係数を有する安定した抵抗器である。典型的な基準は、Vishay社によって市販されている抵抗器ファミリーPTNである。
【】
回路が動作していないとき、スイッチS1、S3及びS6は閉じており、スイッチS2、S4及びS5は開いている。
【】
図3は、本発明による、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するデバイスの計算モジュールのアーキテクチャを示している。
【】
計算モジュール150は、例えば、バス301によって互いに接続された構成要素と、図5a~図5qに開示されるようなプログラムによって制御されるプロセッサ300とに基づくアーキテクチャを有する。
【】
バス301は、プロセッサ300を、読み出し専用メモリROM302、ランダムアクセスメモリRAM303、及び入出力インターフェースI/O IF305にリンクする。
【】
入出力インターフェースI/O IF305は、計算モジュールがスイッチS1及び/又はS2及び/又はS3及び/又はS4及び/又はS5及び/又はS6を駆動し、測定モジュール140によって出力された信号Vmを受信することを可能にする。
【】
メモリ303は、図5a~図5qに開示されるようなアルゴリズムに関連するプログラムの変数及び命令を受け取るように意図されたレジスタを含む。
【】
読み出し専用メモリ、又は場合によってはフラッシュメモリ302は、図5a~図5qに開示されるようなアルゴリズムに関連するプログラムの命令を含み、これらの命令は、計算モジュール150が電源投入されると、ランダムアクセスメモリ303にロードされる。あるいは、ROMメモリ302から直接プログラムを実行してもよい。
【】
計算モジュール150によって行われる計算は、PC(パーソナルコンピュータ)、DSP(デジタル信号プロセッサ)、又はマイクロコントローラ等のプログラマブルコンピューティングマシンによる命令又はプログラムのセットの実行によってソフトウェアで実装されてもよく、又は、FPGA(フィールドプログラマブルゲートアレイ)又はASIC(特定用途向け集積回路)等のマシン又は専用構成要素によってハードウェアで実装されてもよい。
【】
換言すれば、計算モジュール150は、図5a~図5qに開示されるようなアルゴリズムに関連するプログラムを計算モジュール150に実行させる回路、又は回路を含むデバイスを含む。
【】
図4aは、本発明による、パワー半導体の接合温度を決定するために使用される温度感応性電気デバイスの第1の実施形態を示している。
【】
図4aの例では、温度感応性電気デバイス100はパワー半導体デバイスである。パワー半導体デバイスのエミッタは、補償モジュール130の1で示される入力に接続され、パワー半導体デバイスのゲートは、補償モジュール130の2で示される入力と、外部電気回路110の端子5とに接続される。
【】
温度感応性電気パラメータは、パワー半導体の入力キャパシタンスと直列である内部ゲート抵抗値に比例する。
【】
パワー半導体デバイスは、MOS型トランジスタ、例えば、MOSFET又はIGBTであってもよく、パワー半導体デバイスのソース又はエミッタは、補償モジュール130の1で示される入力に接続され、パワー半導体デバイスのゲートは、補償モジュール130の2で示される入力及び外部電気回路110の端子5に接続される。
【】
図4bは、本発明による、パワー半導体の接合温度を決定するために使用される温度感応性電気デバイスの第2の実施形態を示している。
【】
図4bの例では、温度感応性電気デバイス100は、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又はパワー半導体デバイスの近傍に埋め込まれたPN接合である。温度感応性電気パラメータは、PN接合の両端の電圧に比例する。
【】
PN接合のカソードは、補償モジュール130の4で示される入力に接続され、パワー半導体デバイスのゲートは、外部電気回路110の端子5に接続され、PN接合のアノードは、補償モジュール130の1で示される入力に接続される。パワー半導体デバイスのソース又はエミッタは、補償モジュール130の4で示される入力に接続される。
【】
別の実施形態では、パワー半導体デバイスのゲートはまた、補償モジュール130の2で示される入力と、外部電気回路の端子5とに接続される。
【】
図4cは、本発明による、パワー半導体の接合温度を決定するために使用される温度感応性電気デバイスの第3の実施形態を示している。
【】
図4cの例では、温度感応性電気デバイス100は、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又はパワー半導体の近傍に埋め込まれた温度依存抵抗である。
【】
温度感応性電気パラメータは、抵抗値に比例する。
【】
抵抗の第1の端子は、補償モジュール130の4で示される入力に接続され、パワー半導体デバイスのゲートは、外部電気回路110の端子5に接続され、抵抗の第2の端子は、補償モジュール130の1で示される入力に接続される。
【】
パワー半導体デバイスのソース又はエミッタは、補償モジュール130の4で示される入力に接続される。
【】
別の実施形態では、パワー半導体デバイスのゲートは、補償モジュール130の2で示される入力と、外部電気回路の端子5とに接続される。
【】
図5aは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1及びS3のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5000において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号とスイッチS3を閉じるための信号とを転送する。
【】
ステップS5001において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5002において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、温度感応性電気デバイス100を通って流れる振幅I1を有する電流を供給する。
【】
ステップS5003において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5004において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5005において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの値を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5bは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5010において、プロセッサ300は、スイッチS3を閉じるための信号とスイッチS4を閉じるための信号とを転送する。
【】
次いで、信号源120は、抵抗器R1を流れる振幅I1を有する電流を供給する。
【】
ステップS5011において、プロセッサ300は、或る特定の時間、例えば1μs後に測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120及び補償モジュール130の抵抗器R1の電流を代表する。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5012において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5013において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5014において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5015において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5016において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータを以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5cは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS2、S3及びS1並びにキャパシタC1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5020において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、及びスイッチS3を閉じるための信号を転送する。
【】
次いで、キャパシタC1は、外部回路110の電圧で充電される。
【】
ステップS5021において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5022において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
次いで、信号源120は、キャパシタC1を通って外部電気回路110に流れる振幅I1を有する電流を供給する。
【】
ステップS5023において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC1(t1)、VC1(t2)は、監視の目的で使用することができる。例えば、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)の公称値が記憶又は算出される。
【】
例えば、20mAの信号源120と、5Ωの抵抗器と直列の電圧源から構成される外部電気回路110の場合、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)=100mVである。(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)が公称値と比較して100%(例えば200mV)を超えて増加する場合、外部電気回路110はドリフトを有し、回路110に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5024において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、及びスイッチS3を閉じるための信号を転送する。ステップS5025において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、温度感応性電気デバイス100を通って流れる振幅I1を有する電流を供給する。
【】
ステップS5026において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5027において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5028において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5dは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS5並びにキャパシタC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5030において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5031において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5032において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5033において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5034において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5035において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5036において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5037において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5038において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5eは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS3、S4及びS1並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5040において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5041において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5042において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を閉じるための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、抵抗器R1を流れる振幅I1を有する電流を供給する。定常状態では、電流I1は完全にR1を通って流れる。
【】
ステップS5043において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120の電流及び補償モジュール130の抵抗器R1を表す。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5044において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5045において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5046において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5047において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5049において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5fは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2及びS3並びにキャパシタC1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5050において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、及びスイッチS3を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5051において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5052において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、及びスイッチS3を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5053において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5054において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5055において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC1(t1)、VC1(t2)は、監視の目的で使用することができる。例えば、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、20mAの信号源120と、5Ωの抵抗器と直列の電圧源から構成される外部電気回路110の場合、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)=100mVである。(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)が公称値と比較して100%(例えば200mV)を超えて増加する場合、外部電気回路110はドリフトを有し、回路110に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5056において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、及びスイッチS3を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5057において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5058において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5059において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5060において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータのパラメータを以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5gは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS5並びにキャパシタC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5070において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5071において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5072において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5073において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5074において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5075において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5076において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5077において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5078において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5079において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5080において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5hは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3、S4及びS5並びにキャパシタC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5090において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5091において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120及び補償モジュール130の抵抗器R1の電流を代表する。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5092において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5093において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5094において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5095において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5096において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5097において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5098において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5099において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5100において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5iは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2、S3及びS5並びにキャパシタC1及びC2のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5110において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5111において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5112において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5113において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC1(t1)、VC1(t2)は、監視の目的で使用することができる。例えば、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、20mAの信号源120と、5Ωの抵抗器と直列の電圧源から構成される外部電気回路110の場合、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)=100mVである。(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)が公称値と比較して100%(例えば200mV)を超えて増加する場合、外部電気回路110はドリフトを有し、回路110に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5114において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5115において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5116において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5117において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5118において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5119において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5120において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5121において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5122において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5jは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3、S4、及びS5、並びにキャパシタC2及び抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5130において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5131において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5133において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5134において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120及び補償モジュール130の抵抗器R1の電流を代表する。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5135において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5136において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5137において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5138において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5139において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5140において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5141において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5142において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5143において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5kは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2、S3、S4、及びS5、並びにキャパシタC1、C2及び抵抗器R1を備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5150において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5151において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120及び補償モジュール130の抵抗器R1の電流を代表する。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5152において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5153において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5154において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5155において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC1(t1)、VC1(t2)は、監視の目的で使用することができる。例えば、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、20mAの信号源120と、5Ωの抵抗器と直列の電圧源から構成される外部電気回路110の場合、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)=100mVである。(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)が公称値と比較して100%(例えば200mV)を超えて増加する場合、外部電気回路110はドリフトを有し、回路110に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5156において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5157において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5158において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5159において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5160において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5161において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5162において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5163において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5164において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5lは、第1の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S2、S3、S4、及びS5、並びにキャパシタC1、C2、及び抵抗器R1を備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5170において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5170の変形形態では、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5171において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5172において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、抵抗器R1を流れる振幅I1を有する電流を供給する。
【】
ステップS5172の変形形態では、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を閉じるための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
次に、信号源120は、振幅I1を有する電流を供給し、この電流は、過渡状態の間、抵抗器R1及び温度感応性電気デバイス100を流れ、定常状態では抵抗器R1のみを流れる。
【】
ステップS5173において、プロセッサ300は、或る特定の時間、例えば1μs後に測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120及び補償モジュール130の抵抗器R1の電流を代表する。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5174において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5175において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、キャパシタC1を流れる振幅I1の電流を供給する。
【】
ステップS5176において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5177において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC1(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC1(t1)、VC1(t2)は、監視の目的で使用することができる。例えば、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、20mAの信号源120と、5Ωの抵抗器と直列の電圧源から構成される外部電気回路110の場合、(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)=100mVである。(t2*VC1(t1)-t1*VC1(t2))/(t2-t1)が公称値と比較して100%(例えば200mV)を超えて増加する場合、外部電気回路110はドリフトを有し、外部電気回路110に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5178において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5179において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を閉じるための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、キャパシタC2を流れる振幅I1の電流を供給する。
【】
ステップS5180において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5181において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VC2(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
信号VC2(t1)、VC2(t2)は、監視の目的で出力することができる。例えば、VC2(t1)の公称値が記憶又は算出される。例えば、キャパシタC2の値が10nF、電流源120が20mA、t1=1μsの場合、VC2(t1)=2Vである。VC2(t1)が公称値と比較して10%を超えて増加又は減少(例えば1.8V又は2.2V)する場合、スイッチS3に誤動作が存在する。
【】
ステップS5182において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5183において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS2を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、スイッチS4を開くための信号、及びスイッチS5を開くための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、温度感応性電気デバイス100を通って流れる振幅I1を有する電流を供給する。
【】
ステップS5184において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5185において、プロセッサ300は、時点t2において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t2)を読み出す。時点t2は、例えば、スイッチS3の開放から2μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5186において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5mは、第2の実施形態及び第3の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1及びS3のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5190において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号及びスイッチS3を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5191において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5192において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号及びスイッチS3を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5193において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5194において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5nは、第2の実施形態及び第3の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5200において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5201において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5202において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を閉じるための信号を転送する。
【】
次いで、信号源120は、抵抗器R1を流れる振幅I1を有する電流を供給する。定常状態では、電流I1は完全にR1を通って流れる。
【】
ステップS5203において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120及び補償モジュール130の抵抗器R1の電流を代表する。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5204において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5205において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS1の閉鎖の1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5206において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5oは、第2の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5210において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5211において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5212において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5213において、プロセッサ300は、信号源120が第1の電流I1を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VR1(I1)を読み出す。信号VR1(I1)は、補償モジュール130の抵抗器R1上の電圧を表す。
【】
ステップS5214において、プロセッサ300は、信号源が第2の電流I2を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VR1(I2)を読み出す。信号VR1(I2)は、補償モジュール130の抵抗器R1上の電圧を表す。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流I1又はI2の値とによって決定される。VR1が公称値と比較して5%を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5215において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5216において、プロセッサ300は、信号源が第1の電流I1を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(I1)を読み出す。
【】
ステップS5217において、プロセッサ300は、信号源が第2の電流I2を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(I2)を読み出す。
【】
ステップS5218において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5pは、第2の実施形態及び第3の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5220において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5221において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5223において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5224において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号VR1を読み出す。信号VR1は、信号源120の電流及び補償モジュール130の抵抗器R1を表す。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値、例えば100Ωと、信号源120の電流値、例えば20mAとによって決定され、VR1=2Vとなる。VR1が公称値と比較して5%(例えば100mV)を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5225において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5226において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5227において、プロセッサ300は、時点t1において、測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(t1)を読み出す。時点t1は、例えば、スイッチS3の開放から1μs後にトリガーされる。
【】
ステップS5228において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図5qは、第2の実施形態による、補償モジュールがスイッチS1、S3及びS4並びに抵抗器R1のみを備える場合の、温度感応性パラメータからパワー半導体の接合温度を決定するためのアルゴリズムの一例を示している。
【】
本アルゴリズムは、プロセッサ300によって実行される一例において開示される。
【】
ステップS5230において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5231において、プロセッサ300は、測定モジュール140によって出力された信号Voを読み出す。信号Voは、補償モジュール130の寄生抵抗器及び測定モジュール140の内部オフセットによって生成されるオフセット電圧を表す。
【】
例えば、Voが0.3ボルトを超えた場合、測定モジュール140がドリフトを有し、補償モジュール130及び/又は測定モジュール140に誤動作の可能性が存在することを意味する。
【】
ステップS5233において、プロセッサ300は、スイッチS1を開くための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を閉じるための信号を転送する。
【】
ステップS5234において、プロセッサ300は、信号源が第1の電流I1を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VR1(I1)を読み出す。信号VR1(I1)は、補償モジュール130の抵抗器R1上の電圧を表す。
【】
ステップS5235において、プロセッサ300は、信号源が第2の電流I2を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VR1(I2)を読み出す。信号VR1(I2)は、補償モジュール130の抵抗器R1上の電圧を表す。
【】
信号VR1は、監視の目的で出力することができる。例えば、VR1の公称値は、抵抗器R1の値と信号源120の電流値I1、I2とによって決定される。VR1が公称値と比較して5%を超えて増加する場合、信号源120はドリフトを有し、信号源120に誤動作の可能性が存在する。
【】
ステップS5236において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を閉じるための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5237において、プロセッサ300は、スイッチS1を閉じるための信号、スイッチS3を開くための信号、及びスイッチS4を開くための信号を転送する。
【】
ステップS5238において、プロセッサ300は、信号源が第1の電流I1を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(I1)を読み出す。
【】
ステップS5239において、プロセッサ300は、信号源が第2の電流I2を供給するときに測定モジュール140によって出力された信号VTSEP(I2)を読み出す。
【】
ステップS5240において、プロセッサ300は、温度感応性パラメータの電圧を以下の式のように算出する。
【数】
【】
TSEP値から、プロセッサ300は、RAMメモリ303に記憶された較正段階中に決定されたルックアップテーブルを使用して温度を決定する。
【】
図6は、第1の実施形態によるパワー半導体の接合温度を決定するために使用される信号のクロノグラムを表し、図2に示される全ての構成要素が利用され、図5lに開示されるアルゴリズムに対応する。
【】
当然のことながら、本発明の範囲から逸脱することなく、で説明した本発明の実施形態に対して多くの変更を行うことができる。
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【図】
【手続補正書】
【提出日】
【手続補正】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正の内容】
【】
特定の特徴によれば、第1のスイッチの状態は、第4の期間と称される少なくとも1つの別の期間中に変更され、少なくとも別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第4のスイッチS5であり、少なくとも別の電圧は、第2のスイッチの機能を表す電圧のセットVC2(t1)、VC2(t2)であり、第4のスイッチS5の第1の端子は、第2のスイッチの第2の端子に接続され、第4のスイッチS5の第2の端子は、第2のキャパシタC2の第1の端子に接続され、第2のキャパシタC2の第2の端子は、第2のスイッチS3の第1の端子に接続される。
【手続補正】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0016
【補正方法】変更
【補正の内容】
【】
特定の特徴によれば、少なくとも別のスイッチは、第5の期間と称される少なくとも1つの別の期間中にその状態が閉状態に設定される第5のスイッチS4であり、少なくとも別の電圧は、信号源を表す電圧VR1であり、第5のスイッチS4の第1の端子は、第2のスイッチの第2の端子に接続され、第5のスイッチS4の第2の端子は、抵抗器R1の第1の端子に接続され、抵抗器R1の第2の端子は、第2のスイッチS3の第1の端子に接続される。
【手続補正】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項】
温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、前記温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用してパワー半導体の接合温度を決定する方法であって、前記補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチを有し、前記第1のスイッチの第1の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第1の端子に接続され、前記第1のスイッチの第2の端子は、前記第2のスイッチの第1の端子と、信号源の第1の端子と、前記補償モジュールの第1の出力とに接続され、前記第2のスイッチの第2の端子は、前記信号源の第2の端子と、前記補償モジュールの第2の出力とに接続されることを特徴とし、前記方法は、
前記第1のスイッチを閉状態にし、前記第2のスイッチを開状態にし、第1の期間中に第1のセットの電圧を測定するするステップと、
前記第1のスイッチの状態及び/又は前記第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更し、少なくとも1つの別の期間中に少なくとも1つの別の電圧を測定するステップと、
測定された前記第1のセットの電圧および前記少なくとも1つの別の電圧を使用して、前記温度感応性電気パラメータの値を決定するステップと、
を含み、
前記第2のスイッチの状態は、前記少なくとも1つの別の電圧を測定するために、第2の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記補償モジュールの寄生抵抗器によって、及び前記測定モジュールの内部オフセットによって生成されるオフセット電圧である、又は、
前記第1のスイッチ及び前記第2のスイッチの状態は、第3の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第3のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記信号源及び前記外部電気回路を表す第2のセットの電圧であり、前記第3のスイッチの第1の端子は、前記第1のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第3のスイッチの第2の端子は、第1のキャパシタの第1の端子に接続され、前記第1のキャパシタの第2の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第2の端子及び前記外部電気回路の第2の端子に接続される、又は、
前記第1のスイッチの状態は、第4の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第4のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記第2のスイッチの機能を表す電圧のセットであり、前記第4のスイッチの第1の端子は、前記第2のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第4のスイッチの第2の端子は、第2のキャパシタの第1の端子に接続され、前記第2のキャパシタの第2の端子は、前記第2のスイッチの前記第1の端子に接続され、又は、
前記少なくとも1つの別のスイッチは、第5の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中にその状態が閉状態に設定される第5のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記信号源を表す電圧であり、前記第5のスイッチの第1の端子は、前記第2のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第5のスイッチの第2の端子は、抵抗器の第1の端子に接続され、前記抵抗器の第2の端子は、前記第2のスイッチの前記第1の端子に接続されることを特徴とする、方法。
【請求項】
前記温度感応性電気パラメータは、パワー半導体デバイスの入力キャパシタンスと直列の内部ゲート抵抗であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
【請求項】
前記外部電気回路は、抵抗器回路若しくは短絡回路又は抵抗器又はキャパシタ又はインダクタ又はスイッチと直列の電圧源であることを特徴とする、請求項2に記載の方法。
【請求項】
前記信号源は、電流源であることを特徴とする、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
【請求項】
前記温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又は前記パワー半導体デバイスの近傍に埋め込まれたPN接合であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
【請求項】
前記温度感応性電気デバイスは、パワー半導体デバイス上に埋め込まれた、又はパワー半導体の近傍に埋め込まれた温度依存抵抗であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
【請求項】
前記少なくとも1つの他の電圧は、基準電圧と比較され、前記少なくとも1つの他の電圧が前記基準電圧の範囲外である場合に通知が生成されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
【請求項】
温度感応性電気デバイスと、外部電気回路と、補償モジュールと、測定モジュールとを備えるシステムにおいて、前記温度感応性電気デバイスの温度感応性電気パラメータを使用してパワー半導体の接合温度を決定するシステムであって、前記補償モジュールは、少なくとも第1のスイッチ及び第2のスイッチを有し、前記第1のスイッチの第1の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第1の端子に接続され、前記第1のスイッチの第2の端子は、前記第2のスイッチの第1の端子と、信号源の第1の端子と、前記補償モジュールの第1の出力とに接続され、前記第2のスイッチの第2の端子は、前記信号源の第2の端子と、前記補償モジュールの第2の出力とに接続されることを特徴とし、前記システムは、
第1の期間中に、前記第1のスイッチを閉状態にし、前記第2のスイッチを開状態にして、第1のセットの電圧を測定する手段と、
少なくとも1つの別の期間中に、前記第1のスイッチの状態及び/又は前記第2のスイッチの状態又は少なくとも1つの別のスイッチの状態を変更して、少なくとも1つの別の電圧を測定する手段と、
測定された前記第1のセットの電圧および前記少なくとも1つの別の電圧を使用して、前記温度感応性電気パラメータの値を決定する手段と、
を備え、
前記第2のスイッチの状態は、前記少なくとも1つの別の電圧を測定するために、第2の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記補償モジュールの寄生抵抗器によって、及び前記測定モジュールの内部オフセットによって生成されるオフセット電圧である、又は、
前記第1のスイッチ及び前記第2のスイッチの状態は、第3の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第3のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記信号源及び前記外部電気回路を表す第2のセットの電圧であり、前記第3のスイッチの第1の端子は、前記第1のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第3のスイッチの第2の端子は、第1のキャパシタの第1の端子に接続され、前記第1のキャパシタの第2の端子は、前記温度感応性電気デバイスの第2の端子及び前記外部電気回路の第2の端子に接続される、又は、
前記第1のスイッチの状態は、第4の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中に変更され、前記少なくとも1つの別のスイッチは、その状態が閉状態に設定される第4のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記第2のスイッチの機能を表す電圧のセットであり、前記第4のスイッチの第1の端子は、前記第2のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第4のスイッチの第2の端子は、第2のキャパシタの第1の端子に接続され、前記第2のキャパシタの第2の端子は、前記第2のスイッチの前記第の端子に接続され、又は、
前記少なくとも1つの別のスイッチは、第5の期間と称される前記少なくとも1つの別の期間中にその状態が閉状態に設定される第5のスイッチであり、前記少なくとも1つの別の電圧は、前記信号源を表す電圧であり、前記第5のスイッチの第1の端子は、前記第2のスイッチの前記第2の端子に接続され、前記第5のスイッチの第2の端子は、抵抗器の第1の端子に接続され、前記抵抗器の第2の端子は、前記第2のスイッチの前記第1の端子に接続される、システム。
【国際調査報告】

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