特開 2015-106724 エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】特開2015-106724(P2015-106724A)

(43)【公開日】2015年6月8日

(54)【発明の名称】エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法

(51)【国際特許分類】

   H04B 3/04 20060101AFI20150512BHJP

【ＦＩ】

   H04B3/04 C

【審査請求】有

【請求項の数】3

【出願形態】ＯＬ

【全頁数】11

(21)【出願番号】特願2013-246268(P2013-246268)

(22)【出願日】2013年11月28日

(71)【出願人】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100067323

【弁理士】

【氏名又は名称】西村 教光

(74)【代理人】

【識別番号】100124268

【弁理士】

【氏名又は名称】鈴木 典行

(72)【発明者】

【氏名】大日向 哲郎

【テーマコード（参考）】

5K046

【Ｆターム（参考）】

5K046EE59

(57)【要約】

【課題】エンファシス波形の振幅値をｄＢ値及びＶ_p-p 値の何れからでも設定可能なエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法を提供する。
【解決手段】試験用信号に付加するエンファシス波形におけるビットの強弱調整が可能な箇所であるタップに設定する振幅値をｄＢ値として入力するｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ又は振幅値をＶ_p-p 値として入力するＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂの何れかを表示部４の表示画面上に表示制御する表示制御部５と、設定される振幅値の単位に応じてｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ又はＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂの何れかを表示する際に操作される入力画面切替手段４Ｅと、設定入力された振幅値を基づく振幅量を各タップのエンファシスを生成するための設定値を算出する算出処理部６と、算出処理部６で算出された設定値に基づいて生成したエンファシス波形を試験用信号に付加するエンファシス波形付加部７とを備えた。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

試験対象物に入力するデジタルの試験用信号に任意のエンファシス波形を付加するエンファシス付加装置（１）であって、
前記試験用信号に付加するエンファシス波形におけるビットの強弱調整が可能な箇所であるタップに設定する振幅値をｄＢ値として入力するｄＢ値入力用ボックス（４Ｃａ）又は前記振幅値をＶ_p-p 値として入力するＶ_p-p 値入力用ボックス（４Ｃｂ）の何れかを表示部４の表示画面上に表示制御する表示制御部（５）と、
設定される前記振幅値の単位に応じて前記ｄＢ値入力用ボックス又は前記Ｖ_p-p 値入力用ボックスの何れかを表示する際に操作される入力画面切替手段（４Ｅ）と、
設定入力された前記振幅値を基づく振幅量を前記各タップのエンファシスを生成するための設定値を算出する算出処理部（６）と、
該算出処理部で算出された前記設定値に基づいて生成したエンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部（７）と、
を備えたことを特徴とするエンファシス付加装置。

【請求項2】

前記算出処理部（６）は、さらに前記ｄＢ値入力用ボックス（４Ｃａ）に入力されたｄＢ値である前記振幅値をＶ_p-p 値に換算したｄＢ値換算振幅値を算出する機能と、前記Ｖ_p-p 値入力用ボックス（４Ｃｂ）に入力されたＶ_p-p 値である前記振幅値をｄＢ値に換算したＶ_p-p 値換算振幅値を算出する機能とを有し、
前記表示制御部（５）は、
対応する前記ｄＢ値入力用ボックスの近傍に関連付けした状態で表示され、前記算出処理部で換算された当該ｄＢ値入力用ボックスに入力された前記ｄＢ値を換算した前記ｄＢ値換算振幅値を表示するｄＢ値換算表示ボックス（４Ｄａ）と、
対応する前記Ｖ_p-p 値入力用ボックスの近傍に関連付けした状態で表示され、前記算出処理部で換算された当該Ｖ_p-p 値入力用ボックスに入力された前記Ｖ_p-p 値を換算した前記Ｖ_p-p 値換算振幅値を表示するＶ_p-p 値換算表示ボックス（４Ｄｂ）と、
を前記表示部（４）の表示画面上に表示制御することを特徴とする請求項１記載のエンファシス付加装置。

【請求項3】

試験対象物に入力するデジタルの試験用信号に任意のエンファシス波形を付加するエンファシス付加方法であって、
前記試験用信号に付加するエンファシス波形におけるビットの強弱調整が可能な箇所であるタップに設定する振幅値をｄＢ値として入力するｄＢ値入力用ボックス（４Ｃａ）又は前記振幅値をＶ_p-p 値として入力するＶ_p-p 値入力用ボックス（４Ｃｂ）の何れかを表示部（４）の表示画面上に表示するステップと、
設定される前記振幅値の単位に応じて前記ｄＢ値入力用ボックス又は前記Ｖ_p-p 値入力用ボックスの何れかを入力画面切替手段（４Ｅ）で切り替えて表示させるステップと、
設定入力された前記振幅値を基づく振幅量を前記各タップのエンファシスを生成するための設定値を算出するステップと、
前記算出された前記設定値に基づいてエンファシス波形を前記試験用信号に付加するステップと、
を含むことを特徴とするエンファシス付加方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、試験対象物（ＤＵＴ：device under test ）に入力される元信号の試験用信号に対し、使用されるコンピュータバス・相互接続規格（以下、単に「通信規格」とも言う）に応じたエンファシスを付加するエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法に関する。

【背景技術】

【0002】

信号（特に、Ｇｂｉｔ／ｓの高速信号）がプリント基板を通過することで、信号レベルの減衰や品質劣化が生じ、アイの開口が閉じてしまうため、送信側で送信する信号の特定の周波数成分を強調することにより、伝送路で減衰しやすい周波数を補償し、受信側で受信する信号の品質を改善する技術としてエンファシス（Ｅｍｐｈａｓｉｓ）が従来より知られている。

【0003】

そして、エンファシスには、エンファシスを加えていないデータ信号のアイ振幅（Ｅｙｅ Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ）に対し、ｘｄＢの分だけ強調する「プリエンファシス」と、ｘｄＢの分だけ小さくする「ディエンファシス」の２つの考え方があり、装置内部や装置と試験対象物との間に使用されるコンピュータバス・相互接続規格（通信規格）に応じて何れか一方又は両方の考え方が採用される。

【0004】

具体的に、ＩｎｆｉｎｉＢａｎｄ等はプリエンファシス波形の考え方が採用され、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ，ＳＡＴＡ，ＵＳＢ等はディエンファシス波形の考え方が採用される。また、Ｘｉｌｉｎｘ社のＶｉｒｔｅｘでは、ＩｎｆｉｎｉＢａｎｄやＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓを含め、多種の規格に対応しており、プリエンファシスとディエンファシス波形の両方の考え方が採用される。

【0005】

そして、プリエンファシス波形の考え方を採用した装置としては、下記特許文献１に開示されるエンファシス付加装置が知られている。このエンファシス付加装置では、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形パターンを表示画面上に表示させ、このプリエンファシス波形パターンにおいてビットを強調させることが可能な箇所のタップにカーソルを配置し、このカーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて表示画面上のプリエンファシス波形パターンと同一のエンファシス波形を生成して元信号に付加している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特開２０１２−０６０６３０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

ところで、上述した特許文献１のエンファシス付加装置に限らず、試験用信号にエンファシスを付加する場合、アイ振幅の単位は「Ｖ_p-p （ｍＶ）」、エンファシスの振幅はアイ振幅に対して「ｄＢ」で設定されるのが一般的である。

【0008】

しかしながら、一般的に設定されたエンファシス波形の振幅値をＶ_p-p 値で設定する場合、設定されているエンファシス波形のｄＢ値を変更しながら所定のＶ_p-p 値となるように調整するが、ｄＢ値は０．１ｄＢ単位で調節されることが多いため、元のアイ振幅が大きな値であったときは調整されるＶ_p-p 値が大きく変化してしまい、Ｖ_p-p 値の細かい数値設定が困難であった。また、切りの悪い数値では、端数処理されてしまい正確なＶ_p-p 値を設定することが困難であった。

【0009】

また、近年ではＤＵＴの低電圧化が進んでおり、試験中に上述したような方法でエンファシス波形の振幅値（Ｖ_p-p 値）を調整した場合では、ｄＢ値は０．１ｄＢ単位で調節されるため、変更したｄＢ値によってはＤＵＴの耐電圧を超えるようなＶ_p-p 値が設定されてしまい、ＤＵＴの故障に繋がる虞があった。

【0010】

さらに、従来の装置では、アイ振幅の設定値を変更した場合にエンファシス波形の振幅も基準となるアイ振幅の変更に伴って変動してしまうため、アイ振幅の何れかのみを簡易的に設定することができなかった。

【0011】

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、従来からのｄＢ値によるエンファシス波形の振幅値設定に加えて、Ｖ_p-p 値を直接設定可能とする機能を備えたエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0012】

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたエンファシス付加装置は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号に任意のエンファシス波形を付加するエンファシス付加装置１であって、
前記試験用信号に付加するエンファシス波形におけるビットの強弱調整が可能な箇所であるタップに設定する振幅値をｄＢ値として入力するｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ又は前記振幅値をＶ_p-p 値として入力するＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂの何れかを表示部４の表示画面上に表示制御する表示制御部５と、
設定される前記振幅値の単位に応じて前記ｄＢ値入力用ボックス又は前記Ｖ_p-p 値入力用ボックスの何れかを表示する際に操作される入力画面切替手段４Ｅと、
設定入力された前記振幅値を基づく振幅量を前記各タップのエンファシスを生成するための設定値を算出する算出処理部６と、
該算出処理部で算出された前記設定値に基づいて生成したエンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部７と、
を備えたことを特徴とする。

【0013】

請求項２に記載されたエンファシス付加装置は、請求項１記載のエンファシス付加装置において、前記算出処理部６は、さらに前記ｄＢ値入力用ボックス４Ｃａに入力されたｄＢ値である前記振幅値をＶ_p-p 値に換算したｄＢ値換算振幅値を算出する機能と、前記Ｖ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂに入力されたＶ_p-p 値である前記振幅値をｄＢ値に換算したＶ_p-p 値換算振幅値を算出する機能とを有し、
前記表示制御部５は、
対応する前記ｄＢ値入力用ボックスの近傍に関連付けした状態で表示され、前記算出処理部で換算された当該ｄＢ値入力用ボックスに入力された前記ｄＢ値を換算した前記ｄＢ値換算振幅値を表示するｄＢ値換算表示ボックス４Ｄａと、
対応する前記Ｖ_p-p 値入力用ボックスの近傍に関連付けした状態で表示され、前記算出処理部で換算された当該Ｖ_p-p 値入力用ボックスに入力された前記Ｖ_p-p 値を換算した前記Ｖ_p-p 値換算振幅値を表示するＶ_p-p 値換算表示ボックス４Ｄｂと、
を前記表示部４の表示画面上に表示制御することを特徴とする。

【0014】

請求項３に記載されたエンファシス付加方法は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号に任意のエンファシス波形を付加するエンファシス付加方法であって、
前記試験用信号に付加するエンファシス波形におけるビットの強弱調整が可能な箇所であるタップに設定する振幅値をｄＢ値として入力するｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ又は前記振幅値をＶ_p-p 値として入力するＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂの何れかを表示部４の表示画面上に表示するステップと、
設定される前記振幅値の単位に応じて前記ｄＢ値入力用ボックス又は前記Ｖ_p-p 値入力用ボックスの何れかを入力画面切替手段４Ｅで切り替えて表示させるステップと、
設定入力された前記振幅値を基づく振幅量を前記各タップのエンファシスを生成するための設定値を算出するステップと、
前記算出された前記設定値に基づいてエンファシス波形を前記試験用信号に付加するステップと、
を含むことを特徴とする。

【発明の効果】

【0015】

本発明によれば、選択したエンファシス波形のタップに設定する振幅値の単位がｄＢ値又はＶ_p-p 値の何れであっても直接数値入力して設定することができるため、例えばｄＢ値をＶ_p-p 値に換算してから設定入力するような算出処理の手間が省け、また試験中にエンファシス波形の振幅値をＶ_p-p 値で調整することができる。

【0016】

従って、従来のようにｄＢ値を調整によって急激にＤＵＴの耐電圧を超えるようなＶ_p-p 値が設定されてしまう虞がなく、安全にＤＵＴの試験を行うことができる。

【0017】

また、設定処理部は、設定入力した振幅値（ｄＢ値）をＶ_p-p 値に換算する機能と、設定入力した振幅値（Ｖ_p-p 値）をｄＢ値に換算する機能を備え、設定入力する振幅値にの単位に合わせて表示したｄＢ値入力用ボックス又はＶ_p-p 値入力用ボックスの近傍に関連付けされた状態でｄＢ値換算表示ボックス又はＶ_p-p 値換算表示ボックスが表示されるため、振幅値をｄＢ値又はＶ_p-p 値で設定入力するだけで、設定入力された振幅値を他方の単位に換算した振幅値を確認することができる。

【図面の簡単な説明】

【0018】

【図1】本発明に係るエンファシス付加装置の構成を示す機能ブロック構成図である。

【図2】同装置においてエンファシス設定画面の一例を表示した図である。

【図3】（ａ）は数値入力エリアの表示形態例を示す図であり、（ｂ）は数値入力エリアの他の表示形態例を示す図である。

【図4】エンファシス付加部の具体的な回路構成の一例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0019】

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者等によりなされる実施可能な他の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれる。

【0020】

本発明に係るエンファシス付加装置は、例えば高速バスを有するコネクタ付き回路実装基板等を試験対象物（ＤＵＴ）とし、この試験対象物に同軸ケーブル等の伝送路を介して入力される試験用信号の波形歪みを克服するべく、試験用信号（元信号）にエンファシス波形を付加するものである。

【0021】

また、本明細書では、試験用信号に付加するエンファシス波形としてＯＩＦ２０８．０２９．０６で規定されている「１ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒ」のプリエンファシス波形を用いた実施例で説明するが、これに限定されない。例えば、エンファシス波形としてはプリエンファシス波形の他にディエンファシス波形でもよく、また１ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒの他に２ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒ、３ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ、１ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒ、２ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ、１ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ等のエンファシス波形でもよい。

【0022】

まず、本例のエンファシス付加装置１の構成について説明する。
図１に示すように、エンファシス付加装置１は、予め決められた所定パターンの試験用信号（元信号）にエンファシス波形を付加するにあたり、操作部２、情報記憶部３、表示部４、表示制御部５、算出処理部６、エンファシス波形付加部７を備えて概略構成されている。

【0023】

操作部２は、例えば操作キー（決定キーやテンキー）、ノブ、マウスやタッチパネル等のポインティングデバイスで構成される。操作部２は、試験用信号に付加するエンファシス波形の波形パターン（２ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒ、３ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ、１ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒ、２ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ、１ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ等に該当する波形パターン、以下「エンファシス波形パターン」という）の選択操作、選択したエンファシスにおけるアイ振幅や振幅の設定値（ｄＢ値、Ｖ_p-p 値）の数値入力、後述する入力画面切替キー４Ｅの選択操作等、装置を駆動する上で必要な各種操作や設定を行う際にユーザに操作され、操作内容に応じた操作情報（キーの押下情報、ノブの回転位置又はスライド位置に応じた位置情報）を表示制御部５に出力している。

【0024】

また、操作部２がユーザに操作され、後述する数値入力エリア４Ｂにエンファシス波形の振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）が入力されると、入力された数値内容を示す数値情報を表示制御部５と算出処理部６に出力している。このとき、算出処理部６には、振幅値を入力したときの数値入力エリア４Ｂの表示形態を示す表示形態情報（つまり、振幅値入力ボックス４ＣがｄＢ値を入力する形態であるか、又はＶ_p-p 値を入力する形態であるかを示す情報）も一緒に出力される。

【0025】

なお、操作部２としてポインティングデバイスの機能を有する構成とした場合は、表示部４の表示画面上に表示されるカーソルの移動に伴う位置情報、ソフトボタンの押下に伴う選択情報を常時検出して得られる位置検出情報を、表示制御部５に逐次出力する位置検出部（不図示）を備えた構成とすればよい。

【0026】

情報記憶部３は、元信号となる試験用信号にエンファシス波形を付加するために必要な各種情報を記憶している。各種情報としては、予め決められた複数種類のエンファシス波形パターンに応じたイメージ波形や各エンファシス波形パターンの波形形状を特定するための各パラメータ値（各パターンに設定された振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）のデフォルト値を含む）等の波形情報、表示部４の表示画面の１ドット当たりの振幅量や１ドット当たりの時間、算出処理部６で数値入力されたエンファシス波形の振幅値であるＶ_p-p 値をｄＢ値に換算又はｄＢ値をＶ_p-p 値に換算するのに使用する換算用計算式、算出処理部６で算出されたエンファシス波形の振幅値（入力された振幅値（ｅＢ値又はＶ_p-p 値）換算した算出結果、選択されたエンファシス波形パターンに前回設定した振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）等がある。

【0027】

表示部４は、例えば液晶表示器（ＬＣＤ：Liquid Crystal Display）や有機又は無機ＥＬディスプレイ（electroluminescence display ）等の表示機器で構成され、操作部２の操作に基づく表示制御部５の制御により、各種設定画面の表示や数値入力の際の数値表示等を行っている。

【0028】

表示制御部５は、操作部２の操作に基づく操作情報や情報記憶部３に記憶された各種情報に基づく表示内容を表示部４の表示画面上に表示制御している。また、図１の例では、操作部２、表示部４、表示制御部５を機能分けして別々のブロックで示したが、これらをコンピュータグラフィックスとマウスなどのポインティングデバイスを用いた直感的な操作により各種の操作・設定が行える機能を有するＧＵＩ（graphical user interface）で構成することもできる。

【0029】

表示制御部５は、図２に示すように、設定画面上に設けられた波形表示エリア４Ａに、操作部２で複数の中から選択されたエンファシス波形パターンを表示制御する。波形表示エリア４Ａに表示されるエンファシス波形パターンのイメージ波形は、縦軸が基準波形の振幅電圧値に対してエンファシスをかける量に対応して増減される振幅量（変動量）である変調量を示し、横軸が時間を示している。

【0030】

なお、本例では、エンファシス波形パターンにおいて、設定した振幅値によって増減されるビットを強調させることのできる箇所を「タップ」と称し、このタップに対応してカーソル（Ｃｕｒｓｏｒ）が配置されている。また、エンファシス波形パターンは、波形の一部（正のビット又は負のビットの一部）を表示してもよく、またエンファシス波形パターン全体を表示するようにしてもよい。図２では、エンファシス波形として１ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒのプリエンファシス波形が表示され、タップ数は正のビット側の２つが表示された例である。

【0031】

さらに、表示制御部５は、図３に示すように、波形表示エリア４Ａの近傍（図例では波形表示エリア４Ａの右側）に設けられた数値入力エリア４Ｂに、エンファシス波形の振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）を直接入力するテキストボックスと、入力された振幅値を最小桁数で１ずつ増減させるスピンボタンとを有するスピンボックスで構成されエンファシス波形パターンのタップに対応したカーソル毎に設けられる振幅値入力ボックス４Ｃ（ｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ、Ｖ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂ、アイ振幅値入力用ボックス４Ｃｃ）と、操作部２の操作によって振幅値入力ボックス４Ｃに入力された数値情報である振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）とを表示制御する。

【0032】

図例では、選択されたエンファシス波形が１ｐｏｓｔ−１ｐｒｅ−Ｃｕｒｓｏｒのプリエンファシス波形であり、２つあるタップに対応するカーソル毎の振幅値入力ボックス４Ｃ（「ｐｏｓｔ」のタップに対応するＣｕｒｓｏｒ１、「ｐｒｅ」のタップに対応するＣｕｒｓｏｒ２の２つ）が表示されている。

【0033】

なお、数値入力エリア４Ｂの表示形態としては、図３（ａ）に示すように、エンファシス波形の振幅値をｄＢ値で入力するｄＢ値入力用ボックス４Ｃａが表示される画面形態と、図３（ｂ）に示すようにＶ_p-p 値を入力するＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂが表示される画面形態の２通りある。

【0034】

さらに、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、各振幅値入力ボックス４Ｃの近傍には、それぞれの振幅値をｄＢ値若しくはＶ_p-p 値に換算したときの値（換算振幅値）が、振幅値入力ボックス４Ｃ内の数値変更の度に更新表示される振幅値換算表示ボックス４Ｄ（ｄＢ値換算表示ボックス４Ｄａ、Ｖ_p-p 値換算表示ボックス４Ｄｂ）が表示される。

【0035】

つまり、ｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ近傍には、対応するカーソルと関連付けされた状態でｄＢ値換算表示ボックス４Ｄａが表示され、ｄＢ値入力用ボックス４Ｃａに入力されたｄＢ値をＶ_p-p 値に換算したｄＢ値換算振幅値を表示する。図３（ａ）の表示例では、例えばＣｕｒｓｏｒ１におけるｄＢ値入力用ボックス４Ｃａに「６．０」を入力すると、ｄＢ値換算表示ボックス４ＤａにＶ_p-p 値換算された「０．７９８」が表示される。

【0036】

また、Ｖ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂ近傍には、対応するカーソルと関連付けされた状態でＶ_p-p 値換算表示ボックス４Ｄｂが表示され、Ｖ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂに入力されたＶ_p-p 値をｄＢ値に換算したＶ_p-p 値換算振幅値を表示する。図３（ｂ）の表示例では、例えばＣｕｒｓｏｒ１におけるＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂに「０．７９８」を入力すると、Ｖ_p-p 値換算表示ボックス４ＤｂにｄＢ値換算された「６．０」が表示される。

【0037】

なお、試験用信号に付加するエンファシス波形パターンが選択されたときは、振幅値入力ボックス４Ｃを空欄の状態で表示してもよいが、例えば選択されたエンファシス波形で前回設定された振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）を情報記憶部３から読み出して表示したり、波形情報を情報記憶部３から読み出して予めエンファシス波形毎に設定されたデフォルト値を表示したりする構成でもよい。

【0038】

また、表示制御部５は、図２に示すように、エンファシス波形の振幅値を設定する際に、入力する振幅値の単位に応じて適宜振幅値入力ボックス４Ｃの表示形態を切り替えるための入力画面切替手段となる入力画面切替キー４Ｅを表示する。そして、操作部２によって入力画面切替キー４Ｅが操作されると、この操作に伴って現在の数値入力エリア４Ｂの表示形態を示す表示形態情報が操作部２から算出処理部６に出力される。なお、入力画面切替キー４Ｅは、表示画面上に表示制御するソフトキーで構成する他、筐体に設けられる操作キーのようなハード部品として具備する構成としてもよい。

【0039】

算出処理部６は、操作部２からの数値情報（振幅値入力ボックス４Ｃに設定入力された振幅値であるｄＢ値又はＶ_p-p 値）及び入力画面切替キー４Ｅの操作に基づく表示形態情報と、情報記憶部３の各種情報とに基づき、選択されたエンファシス波形パターンの基準波形の振幅電圧値に対してエンファシス（プリエンファシス又はディエンファシス）かける量によって増減される振幅量（変動量）を算出し、表示画面上のエンファシス波形パターンと同一のエンファシス波形がエンファシス波形付加部８で試験用信号に付加されるように、算出された振幅量（変動量）を、後述する切替回路１３に設定値として出力している。

【0040】

つまり、表示画面上のエンファシス波形パターンと同一のエンファシス波形がエンファシス波形付加部８で試験用信号に付加されるように、算出処理部６で算出した振幅量（変動量）を、後述する切替回路１３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に対応して４つの振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）に振り分け、振り分けた４つの振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を設定値として出力している。

【0041】

また、算出処理部６は、操作部２からの数値情報を入力される度に、数値入力エリア４Ｂの現在の表示形態情報と、情報記憶部３の各種情報とから振幅値換算表示ボックス４Ｄに表示する換算振幅値（ｄＢ値換算振幅値、Ｖ_p-p 値換算振幅値）を常に算出しており、入力された振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）を換算して換算振幅値（ｄＢ値換算振幅値又はＶ_p-p 値換算振幅値）となるように換算処理し、算出した換算結果（換算振幅値）を情報記憶部３と表示制御部５に出力している。

【0042】

なお、算出処理部６は、振幅値入力ボックス４Ｃ内の振幅値が変更されると、この変更内容に合わせて振幅値換算表示ボックス４Ｄ内の数値も更新表示されるように換算振幅値を算出し表示制御部５に出力している。

【0043】

ここで、算出処理部６において、入力された振幅値（ｄＢ値又はＶ_p-p 値）を換算振幅値に換算するときの処理手順について説明する。
なお、換算用計算式としては、下記に示すようにｄＢ値をＶ_p-p 値に換算する方法として下記数式１、２を用い、Ｖ_p-p 値をｄＢ値に換算する方法として下記数式３〜５を用い、アイ振幅の振幅値（Ｖ_p-p ）をＥＡとして表記する。

【0044】

（ｄＢ値→Ｖ_p-p 値への換算処理について）
まず、ユーザによりＥＡと各カーソルのｄＢ値がそれぞれ入力されると、算出処理部６は、アイ振幅を加味した各カーソルのｄＢ値を下記数式１を用いて算出する。
α＝２０ｌｏｇ₁₀（ＥＡ）＋Ｃｕｒｓｏｒ［ｄＢ］・・・（数式１）
次に、数式１で算出したαとを用いて、下記数式２に代入して各カーソルのｄＢ値をＶ_p-p 値に換算する。
Ｃｕｒｓｏｒ［Ｖ_p-p ］＝１０＾（（α）／２０）・・・（数式２）
そして、各カーソルに対応した換算結果であるＣｕｒｓｏｒ［Ｖ_p-p ］をｄＢ値換算振幅値として表示制御部５に出力する。

【0045】

（Ｖ_p-p 値→ｄＢ値への換算処理について）
まず、ユーザによりＥＡと各カーソルのＶ_p-p 値がそれぞれ入力されると、算出処理部６は、下記数式３、４を用いて各カーソルのＶ_p-p 値をｄＢ値に換算する。
β＝２０ｌｏｇ₁₀（Ｃｕｒｓｏｒ［Ｖ_p-p ］）・・・（数式３）
γ＝２０ｌｏｇ₁₀（ＥＡ）・・・（数式４）
そして、算出したアイ振幅の振幅値（β）と、各カーソルの振幅値（γ）を差し引いてカーソル毎の換算値を取得する。
β−γ＝Ｃｕｒｓｏｒ［ｄＢ］・・・（数式５）
そして、各カーソルに対応した換算結果であるＣｕｒｓｏｒ［ｄＢ］をＶ_p-p 値換算振幅値として表示制御部５に出力する。

【0046】

エンファシス波形付加部８は、試験対象物に入力される所定パターンの試験用信号（エンファシス付加前の元信号）に対し、設定されたエンファシス波形パターンと同じエンファシス波形を付加して出力している。

【0047】

さらに説明すると、エンファシス波形付加部８は、図４に示すように制御回路１１、データ保持回路１２、切替回路１３、増幅回路１４、加算回路１５を備えた周知の回路によって構成することができる。

【0048】

制御回路１１は、Ｄ／Ａコンバータを含む回路であり、算出処理部６からの設定値（振幅電圧：ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を、増幅回路１４の後述する各増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄを個別に制御するためのアナログ値からなる制御信号（４つの制御電圧）に変換して出力している。

【0049】

データ保持回路１２は、Ｃ（クロック）端子の立ち上がりのエッジでＤ端子の入力の値がＱ出力として保持される４つのＤ型フリップフロップ回路（以下、Ｄ−ＦＦと略称する）１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄを直列接続して構成される。データ保持回路１２は、初段のＤ−ＦＦ１２ａのＤ端子にエンファシス波形を付加する前の試験用信号が入力され、位相が１ビットずれとなる４つのデータ信号に分岐して各Ｄ−ＦＦ１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄのＱ端子から出力している。

【0050】

切替回路１３は、データ保持回路１２の４つのＤ−ＦＦ１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄのＱ端子と１対１に対応して接続される４つのセレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４で構成される。切替回路１３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４は、切替信号の入力により、極性が「ＰＯＳ（ポジティブ）」又は「ＮＥＧ（ネガティブ）」の何れかの状態に予め設定されている。

【0051】

増幅回路１４は、切替回路１３の４つのセレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の出力と１対１に対応して接続される４つの増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄで構成される。これら４つの増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄは、制御回路１１からの制御信号（４つの制御電圧）によって個別に電圧が制御される。

【0052】

加算回路１５は、増幅回路１４の４つの増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄの出力を加算し、試験用信号にエンファシス波形を付加した信号を出力している。

【0053】

なお、エンファシス波形付加部８の構成は、ユーザによって選択されたエンファシス波形パターンと同じエンファシス波形を試験用信号に付加できればよいため、図４に示す回路構成に限定されるものではない。

【0054】

以上説明したように、本例のエンファシス付加装置１では、試験用信号に所望のエンファシス波形を付加するにあたり、試験用信号に付加するエンファシス波形を選択し、このエンファシス波形のタップに対応して配置されたカーソルに設定入力するときの振幅値の単位に合わせた振幅値入力ボックス４Ｃの表示形態となるように、入力画面切替キー４Ｅを操作してｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ又はＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂを切替表示する。

【0055】

これにより、選択したエンファシス波形のタップに設定する振幅値の単位がｄＢ値又はＶ_p-p 値の何れであっても直接数値入力して設定することができるため、例えばｄＢ値をＶ_p-p 値に換算してから設定入力するような算出処理の手間が省け、また試験中にエンファシス波形の振幅値をＶ_p-p 値で調整することができる。従って、従来のようにｄＢ値を調整によって急激にＤＵＴの耐電圧を超えるようなＶ_p-p 値が設定されてしまう虞がなく、安全にＤＵＴの試験を行うことができる。

【0056】

また、算出処理部６は、設定入力した振幅値（ｄＢ値）をＶ_p-p 値に換算する機能と、設定入力した振幅値（Ｖ_p-p 値）をｄＢ値に換算する機能を備え、設定入力する振幅値にの単位に合わせて表示したｄＢ値入力用ボックス４Ｃａ又はＶ_p-p 値入力用ボックス４Ｃｂの近傍に各カーソルと関連付けされた状態でｄＢ値換算表示ボックス４Ｄａ又はＶ_p-p 値換算表示ボックス４Ｄｂが表示されるため、振幅値をｄＢ値又はＶ_p-p 値で設定入力するだけで、設定入力された振幅値を他方の単位に換算した振幅値を確認することができる。

【符号の説明】

【0057】

１…エンファシス付加装置
２…操作部
３…情報記憶部
４…表示部
４Ａ…波形表示エリア
４Ｂ…数値入力エリア
４Ｃ…振幅値入力ボックス（４Ｃａ…ｄＢ値入力用ボックス、４Ｃｂ…Ｖ_p-p 値入力用ボックス、４Ｃｃ…アイ振幅値入力用ボックス）
４Ｄ…換算値表示ボックス（４Ｄａ…ｄＢ値換算表示ボックス、４Ｄｂ…Ｖ_p-p 値換算表示ボックス）
４Ｅ…入力画面切替キー（入力画面切替手段）
５…表示制御部
６…算出処理部
７…エンファシス波形付加部
１１ 制御回路
１２ データ保持回路
１３ 切替回路
１４ 増幅回路
１５ 加算回路

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】