特開 2015-185861 測定装置及び測定方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】特開2015-185861(P2015-185861A)

(43)【公開日】2015年10月22日

(54)【発明の名称】測定装置及び測定方法

(51)【国際特許分類】

   H04Q 1/20 20060101AFI20150925BHJP

【ＦＩ】

   H04Q1/20

【審査請求】有

【請求項の数】8

【出願形態】ＯＬ

【全頁数】17

(21)【出願番号】特願2014-57722(P2014-57722)

(22)【出願日】2014年3月20日

(71)【出願人】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100072604

【弁理士】

【氏名又は名称】有我 軍一郎

(72)【発明者】

【氏名】古木 敦

(72)【発明者】

【氏名】亀山 祥弘

(72)【発明者】

【氏名】トーマス ペトリ

(72)【発明者】

【氏名】ブゲー アンダース

【テーマコード（参考）】

5K019

【Ｆターム（参考）】

5K019BA02

5K019BA51

5K019CC14

5K019CC16

5K019CD01

5K019DB05

5K019DC02

5K019DC05

5K019DC06

(57)【要約】

【課題】現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながらパラメータ設定を行うことが可能であり、多数の通信規格に対応した多様な測定機能を迅速かつ正確に操作可能なユーザインターフェースを備えた測定装置及び測定方法を提供する。
【解決手段】下位階層表示制御部１７ｃは、表示切替制御部１７ｂにより第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、主表示領域１１ａ内の副表示領域１１ｂに第１階層よりも下位の階層の表示項目を表示させ、第１階層表示制御部１７ａは、表示切替制御部１７ｂにより第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、主表示領域１１ａ内の副表示領域１１ｂ以外の領域１１ｃに信号解析結果の少なくとも一部を表示させる。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

被試験デバイス（１００）に対する試験信号を生成する信号生成部（１４）と、当該試験信号が入力された当該被試験デバイスからの出力信号を解析する信号解析部（１５）と、複数の階層に分類された表示項目を当該階層ごとに表示可能な表示部（１１）と、当該表示部の表示を制御する表示制御部（１７）と、入力操作を行うための入力部（１２）と、を備える測定装置（１）であって、
前記表示制御部は、
前記表示部に第１階層の表示項目を表示するための表示領域（１１ａ）を設定し、当該設定した表示領域内に前記出力信号に対する前記信号解析部の信号解析結果を表示させる第１階層表示制御部（１７ａ）と、
第１階層よりも下位の階層の表示項目を前記表示部の所定領域（１１ｂ）に表示させる下位階層表示制御部（１７ｃ）と、
前記入力部の操作に応じて、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオン／オフするための制御信号を出力する表示切替制御部（１７ｂ）と、を有し、
前記下位階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の一部の領域（１１ｂ）に第１階層よりも下位の階層の表示項目を表示させ、
前記第１階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の前記一部の領域以外の領域（１１ｃ）に前記信号解析結果の少なくとも一部を表示させることを特徴とする測定装置。

【請求項2】

前記第１階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオフとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の前記一部の領域における下位の階層の表示項目の表示をオフとするとともに、当該一部の領域に前記信号解析結果の少なくとも一部を表示させることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。

【請求項3】

前記表示切替制御部は、前記入力部の操作により押下可能な下位階層表示ボタン（２０，３０）を前記表示部の所定領域に表示させ、当該下位階層表示ボタンの押下状態に応じて、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示のオン／オフを切り替える前記制御信号を出力することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の測定装置。

【請求項4】

前記入力部は、前記表示部の表面に設けられたタッチパネルで構成されることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の測定装置。

【請求項5】

第１階層よりも下位の階層の表示項目が、前記信号生成部による前記試験信号の生成に必要なパラメータを設定するための項目を含むことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の測定装置。

【請求項6】

第１階層よりも下位の階層の表示項目が、前記信号解析部による前記出力信号の解析に必要なパラメータを設定するための項目を含むことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の測定装置。

【請求項7】

前記下位階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、複数の測定項目のうちの一つを選択可能に表示する測定項目選択窓（２３）と、当該測定項目選択窓で選択された測定項目に対応した前記パラメータを設定するための測定パラメータ設定領域（２４）と、を前記一部の領域に表示させることを特徴とする請求項５又は請求項６に記載の測定装置。

【請求項8】

請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の測定装置を用いる測定方法であって、
第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号を出力する表示切替段階と、
前記表示切替段階で第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の一部の領域に第１階層よりも下位の階層の表示項目を表示させる下位階層表示段階と、
前記表示切替段階で第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の前記一部の領域以外の領域に前記信号解析結果の少なくとも一部を表示させる第１階層表示段階と、を含むことを特徴とする測定方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測定装置及び測定方法に関する。

【背景技術】

【0002】

近年、マルチメディア通信の普及や利用者数の増加、さらには通信技術の発達に伴い、多数の通信規格が策定されている。そして、多数の通信規格に対応するとともに多様な測定機能を備え、通信ネットワークを構成する各種機器の性能や、通信ネットワーク内を伝送される信号の品質を測定することが可能な測定装置が求められている（例えば、特許文献１，２参照）。

【0003】

上記のような測定を行う場合には、例えばパルスパターン発生器、誤り率検出器、スペクトラムアナライザなどの各種測定項目に応じたパラメータが測定装置に設定される必要がある。

【0004】

特許文献１に開示された従来の測定装置は、上記の測定を行う際に必要となるあらかじめ設定されたパラメータに基づいて測定対象に対する測定を行い、その測定結果を出力する測定部と、測定部に対するパラメータの設定処理を行うためのパラメータ設定手段と、パラメータを設定するための設定画面、測定結果を表示するための測定結果画面、分析結果を表示するための分析結果画面などの複数種の画面のうちのいずれかを選択的に表示する表示部と、を備えている。

【0005】

さらに、特許文献２には、測定項目に応じたパラメータ設定用のパラメータ設定ソフトキーを表示部の表示画面上における所定位置に表示制御することにより、パラメータ設定時における操作者の操作性向上を図る構成が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特開２００２−３６５０９２号公報

【特許文献2】特許第５１７９６０２号明細書

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

上記のような多様な測定機能に対応するために、測定装置のユーザインターフェースはますます複雑化しているが、このような複雑化したユーザインターフェースであっても迅速かつ正確に操作できることが要求されてきている。さらに、近年は熟練者ではない操作者でも使用可能となるよう、分かりやすい表示、操作系が要求されている。

【0008】

しかしながら、特許文献１，２に開示されたような従来の装置は、これらの要求への対応が不十分であった。

【0009】

具体的には既に述べたように、パラメータを設定するための設定画面、測定結果を表示するための測定結果画面、分析結果を表示するための分析結果画面などの複数種の画面が選択的に表示されるため、対象のパラメータを設定するためにはその都度設定画面にまで戻る必要があり、不便であった。

【0010】

また、測定結果画面や分析結果画面と設定画面とが同時に表示されないため、操作者が現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながら、それらの結果に応じたパラメータ設定を行ったり、パラメータの設定変更により測定結果や分析結果が変化する様子を確認したりすることが不可能であった。

【0011】

また、パラメータの設定を簡易にする観点では特許文献２に開示された構成は有用であるが、表示画面の領域には限りがあるため、常に使用する訳ではない複数のパラメータを表示画面に表示しておくことは好ましくない。

【0012】

例えば、複数のウィンドウに測定項目別にパラメータを表示することも考えられるが、限られた表示画面領域においては、所望のパラメータの設定に行き着くまでの操作が煩雑になるという問題がある。

【0013】

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながらパラメータ設定を行うことが可能であり、多数の通信規格に対応した多様な測定機能を迅速かつ正確に操作可能なユーザインターフェースを備えた測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0014】

上記課題を解決するために、本発明の請求項１の測定装置は、被試験デバイスに対する試験信号を生成する信号生成部と、当該試験信号が入力された当該被試験デバイスからの出力信号を解析する信号解析部と、複数の階層に分類された表示項目を当該階層ごとに表示可能な表示部と、当該表示部の表示を制御する表示制御部と、入力操作を行うための入力部と、を備える測定装置であって、前記表示制御部は、前記表示部に第１階層の表示項目を表示するための表示領域を設定し、当該設定した表示領域内に前記出力信号に対する前記信号解析部の信号解析結果を表示させる第１階層表示制御部と、第１階層よりも下位の階層の表示項目を前記表示部の所定領域に表示させる下位階層表示制御部と、前記入力部の操作に応じて、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオン／オフするための制御信号を出力する表示切替制御部と、を有し、前記下位階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の一部の領域に第１階層よりも下位の階層の表示項目を表示させ、前記第１階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の前記一部の領域以外の領域に前記信号解析結果の少なくとも一部を表示させる構成を有している。

【0015】

この構成により、現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながらパラメータ設定を行うことが可能であり、多数の通信規格に対応した多様な測定機能を迅速かつ正確に操作可能なユーザインターフェースを備えた測定装置を実現できる。

【0016】

また、本発明の請求項２の測定装置においては、前記第１階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオフとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の前記一部の領域における下位の階層の表示項目の表示をオフとするとともに、当該一部の領域に前記信号解析結果の少なくとも一部を表示させる構成を有している。

【0017】

この構成により、一部の領域において第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示がオンからオフに変化した場合には、第１階層の表示領域の全体にわたって信号解析結果を表示することが可能な測定装置を実現できる。

【0018】

また、本発明の請求項３の測定装置においては、前記表示切替制御部は、前記入力部の操作により押下可能な下位階層表示ボタンを前記表示部の所定領域に表示させ、当該下位階層表示ボタンの押下状態に応じて、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示のオン／オフを切り替える前記制御信号を出力する構成を有していてもよい。

【0019】

また、本発明の請求項４の測定装置においては、前記入力部は、前記表示部の表面に設けられたタッチパネルで構成される。

【0020】

この構成により、装置の小型化を図れるとともに、良好な操作性を得ることができる。

【0021】

また、本発明の請求項５の測定装置においては、第１階層よりも下位の階層の表示項目が、前記信号生成部による前記試験信号の生成に必要なパラメータを設定するための項目を含む構成を有している。

【0022】

この構成により、多数の通信規格に対応するとともに多様な測定機能を備えた測定装置を実現できる。

【0023】

また、本発明の請求項６の測定装置においては、第１階層よりも下位の階層の表示項目が、前記信号解析部による前記出力信号の解析に必要なパラメータを設定するための項目を含む構成を有している。

【0024】

この構成により、多数の通信規格に対応するとともに多様な測定機能を備えた測定装置を実現できる。

【0025】

また、本発明の請求項７の測定装置においては、前記下位階層表示制御部は、前記表示切替制御部により第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、複数の測定項目のうちの一つを選択可能に表示する測定項目選択窓と、当該測定項目選択窓で選択された測定項目に対応した前記パラメータを設定するための測定パラメータ設定領域と、を前記一部の領域に表示させる構成を有していてもよい。

【0026】

また、本発明の請求項８の測定方法は、上記の測定装置を用いる測定方法であって、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号を出力する表示切替段階と、前記表示切替段階で第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の一部の領域に第１階層よりも下位の階層の表示項目を表示させる下位階層表示段階と、前記表示切替段階で第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が出力されたことを条件として、第１階層の表示領域内の前記一部の領域以外の領域に前記信号解析結果の少なくとも一部を表示させる第１階層表示段階と、を含む。

【発明の効果】

【0027】

本発明は、現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながらパラメータ設定を行うことが可能であり、多数の通信規格に対応した多様な測定機能を迅速かつ正確に操作可能なユーザインターフェースを備えた測定装置及び測定方法を提供する。

【図面の簡単な説明】

【0028】

【図1】本発明の実施形態としての測定装置の構成を示すブロック図である。

【図2】本発明の実施形態としての測定装置の表示例である。

【図3】図２の状態から下位階層表示ボタンがオンとされ、副表示領域において測定パラメータが設定された場合の表示例である。

【図4】図３の測定パラメータの設定に基づいた信号解析結果の表示例である。

【図5】図４の状態から下位階層表示ボタンがオンとされた場合の表示例である。

【図6】図４の状態から下位階層表示ボタンがオンとされた場合の他の表示例である。

【図7】本発明の第１の実施形態としての測定装置の副表示領域において測定パラメータが図３の状態から変更された場合の表示例である。

【図8】本発明の第２の実施形態としての測定装置において下位階層表示ボタンがオンとされた場合の表示例である。

【発明を実施するための形態】

【0029】

以下、本発明に係る測定装置及び測定方法の実施形態について、図面を用いて説明する。

【0030】

（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態としての測定装置１の構成について説明する。

【0031】

図１に示すように、本発明の実施形態としての測定装置１は、被試験デバイス１００に対して各種測定を行うためのものであり、表示部１１、入力部１２、制御部１３、信号生成部１４、信号解析部１５、入出力部１６、及び表示制御部１７を備えている。

【0032】

被試験デバイス１００は、例えばルータ、スイッチングハブ、伝送装置などのネットワーク機器である。

【0033】

表示部１１は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、表示制御部１７からの制御信号に基づき、後述する複数の階層に分類された表示項目を当該階層ごとに表示するようになっている。

【0034】

入力部１２は、例えばテンキーや各種設定キーを備えたキーボードやマウスなどの入力装置や、表示部１１の表面に設けられたタッチパネルのような入力装置で構成される。入力部１２による入力操作は、制御部１３により検知されるようになっている。

【0035】

制御部１３は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含むマイクロコンピュータで構成され、測定装置１を構成する各部の駆動制御を行うようになっている。また、制御部１３は、操作者が入力部１２を操作して設定する後述の測定項目に基づき、当該測定項目に対応する測定を信号生成部１４及び信号解析部１５に行わせるための制御信号を、信号生成部１４及び信号解析部１５にそれぞれ出力するようになっている。

【0036】

また、制御部１３は、入力部１２の操作に応じた制御信号を適宜表示制御部１７に出力するようになっている。例えば、制御部１３は、表示部１１上に表示される後述の下位階層表示ボタン２０が、入力部１２の操作により押下されたことを条件として、その押下状態に応じた制御信号を表示制御部１７に出力するようになっている。

【0037】

信号生成部１４は、後述する測定パラメータ設定領域２４で設定された測定パラメータに対応した試験信号としてのデータフレームを生成し、当該データフレームを入出力部１６を介して被試験デバイス１００に送信するようになっている。

【0038】

信号解析部１５は、信号生成部１４から出力された上記のデータフレームを入出力部１６を介して被試験デバイス１００から受信し、当該受信したデータフレームから、後述する測定項目選択窓２３で設定された測定項目に対応した受信状態情報を抽出して、それらを解析するようになっている。

【0039】

入出力部１６は、イーサネット（登録商標）などのＩＰネットワークを通じて、測定装置１と被試験デバイス１００との間でデータフレームを送受信するようになっている。

【0040】

表示制御部１７は、第１階層表示制御部１７ａ、表示切替制御部１７ｂ、及び下位階層表示制御部１７ｃを有する。

【0041】

第１階層表示制御部１７ａは、図２に示すように、表示部１１に第１階層の表示領域としての主表示領域１１ａを設定し、設定した主表示領域１１ａ内に、被試験デバイス１００からのデータフレームに対する信号解析部１５の信号解析結果を表示させる制御を行うようになっている。ここで、信号解析部１５の信号解析結果は第１階層の表示項目に該当する。

【0042】

さらに、第１階層表示制御部１７ａは、測定開始や測定データの出力などの使用頻度の高い処理を実行するための操作ボタンと、被試験デバイス１００からの応答が各通信規格の規定を満たさない場合にその旨を通知する簡易表示窓と、を含む領域２１を、主表示領域１１ａ内に表示させる制御を行うようになっていてもよい。

【0043】

表示切替制御部１７ｂは、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオン／オフするための制御信号を出力するようになっている。例えば、表示切替制御部１７ｂは、入力部１２の操作により押下可能な下位階層表示ボタン２０を表示部１１の所定領域に表示させるようになっており、下位階層表示ボタン２０の押下状態に応じて、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示のオン／オフを切り替えることができるようになっている。

【0044】

下位階層表示制御部１７ｃは、下位階層表示ボタン２０が入力部１２により押下され、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が表示切替制御部１７ｂから出力されたことを条件として、図３に示すように、主表示領域１１ａ内の一部に副表示領域１１ｂを設定し、副表示領域１１ｂに第１階層よりも下位の階層の表示項目を表示させる制御を行うようになっている。

【0045】

なお、第１階層表示制御部１７ａは、下位階層表示ボタン２０が入力部１２により押下され、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号が表示切替制御部１７ｂから出力されたことを条件として、主表示領域１１ａ内の副表示領域１１ｂ以外の領域１１ｃに信号解析部１５の信号解析結果の少なくとも一部を表示させる制御を行うようになっている。

【0046】

一方、第１階層表示制御部１７ａは、下位階層表示ボタン２０が入力部１２により押下され、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオフとする制御信号が表示切替制御部１７ｂから出力されたことを条件として、主表示領域１１ａ内の副表示領域１１ｂの設定をオフとするとともに、副表示領域１１ｂに表示されていた下位の階層の表示項目の表示をオフとするようになっている。

【0047】

さらに、第１階層表示制御部１７ａは、下位階層表示ボタン２０が入力部１２により押下され、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオフとする制御信号が表示切替制御部１７ｂから出力されたことを条件として、副表示領域１１ｂが設定されていた領域に、信号解析部１５の信号解析結果の少なくとも一部を表示させる制御を行うようになっている。例えば、第１階層表示制御部１７ａは、信号解析部１５の信号解析結果の表示を、副表示領域１１ｂが設定される前の主表示領域１１ａの状態に戻す制御を行うようになっている。

【0048】

図３に示すように、下位階層表示制御部１７ｃは、通信規格表示窓２２、測定項目選択窓２３及び測定パラメータ設定領域２４を副表示領域１１ｂに表示する制御を行う。

【0049】

通信規格表示窓２２は、複数の通信規格の中からあらかじめ設定された一つ以上の通信規格を表示するようになっている。なお、これらの被測定対象の通信規格は、あらかじめ設定されるのみでなく、任意の操作で選択できるようになっていてもよい。

【0050】

すなわち、本実施形態においては被試験デバイス１００は、例えば１００Ｇイーサネット（登録商標）、４０Ｇイーサネット（登録商標）、ＳＴＭ（Synchronous Transport Module）−６４の各通信規格に従った通信を行うものである。なお、表２中の「１００ＧｂＥ」は１００Ｇイーサネット（登録商標）、「４０ＧｂＥ」は４０Ｇイーサネット（登録商標）を表している。

【0051】

測定項目選択窓２３は、プルダウンメニュー機能により、表１に示す第２階層の表示項目としての複数の測定項目（Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ、Ｓｋｅｗ、ＬＯＳなど）の中から一つの測定項目を選択可能に表示するようになっている。

【0052】

測定項目「Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ」は、信号生成部１４により出力されるデータフレームの周波数を測定対象の通信規格の基準周波数から所定周波数だけずらし、その周波数変化に対する被試験デバイス１００の耐性を測定するための項目である。

【0053】

測定項目「Ｓｋｅｗ」は、信号生成部１４により出力されるデータフレームのフレーム間の時間を変化させ、その時間変化に対する被試験デバイス１００の耐性を測定するための項目である。

【0054】

測定項目「ＬＯＳ」は、信号生成部１４により生成されたデータフレームの被試験デバイス１００への送信を所定時間停止させることにより、被試験デバイス１００が所定時間試験信号を受信していない状態を反映した応答を返すか否かを測定するようになっている。

【0055】

測定パラメータ設定領域２４は、測定項目選択窓２３で選択された測定項目に対応した測定パラメータを設定するための領域である。この測定パラメータは、選択された測定項目に対応した試験信号を信号生成部１４に生成させるとともに、被試験デバイス１００からの出力信号に対して、選択された測定項目に対応した解析処理を信号解析部１５に行わせるために必要なものであり、第３階層の表示項目に属する。

【0056】

以下、図３に示すように、測定項目として「Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ」が選択された場合を例に挙げて副表示領域１１ｂの構成を説明する。

【0057】

具体的には、測定パラメータ設定領域２４は、基準周波数表示窓２４ａ、及び周波数変化量設定窓２４ｂを有する。

【0058】

基準周波数表示窓２４ａは、通信規格表示窓２２に表示された通信規格に対応した試験信号の基準周波数を表示するようになっている。なお、基準周波数表示窓２４ａは、入力部１２の操作により表示値を変更することも可能となっている。

【0059】

周波数変化量設定窓２４ｂは、試験信号の周波数について、その基準周波数からのずれの大きさを上下キーにより設定可能に表示するようになっている。

【0060】

さらに、測定パラメータ設定領域２４は、測定パラメータの数値入力を行うテンキー２４ｃと、測定パラメータの単位を変更する単位切替キー２４ｄと、直前の数値を削除する後退キー（ＢＳ（backspace）キー）２４ｅと、入力した数値を決定する実行キー（Enterキー）２４ｆと、測定パラメータの数値を削除するクリアキー２４ｇと、を有していてもよい。

【0061】

【表1】

【表2】

【0062】

以下、図２〜７を参照しながら、本実施形態の測定装置１を用いた測定方法について説明する。

【0063】

まず、図２の状態において、操作者の入力部１２の操作により下位階層表示ボタン２０の押下状態がオンとなると、表示切替制御部１７ｂは、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示をオンとする制御信号を第１階層表示制御部１７ａ及び下位階層表示制御部１７ｃに出力する（表示切替段階）。

【0064】

これにより、下位階層表示制御部１７ｃは、図３に示すように副表示領域１１ｂを主表示領域１１ａ上に展開し、第２階層及び第３階層の表示項目を副表示領域１１ｂに表示する（下位階層表示段階）。

【0065】

この下位階層表示ボタン２０の押下状態がオンとなる前後で、下位階層表示ボタン２０や領域２１の配置箇所は、不変であってもよいし、主表示領域１１ａ内の任意の場所に移動されてもよい。

【0066】

なお、上記の説明では、下位階層表示ボタン２０の押下状態がオンとなると、第２階層及び第３階層の表示項目が副表示領域１１ｂに表示されるとしたが、本実施形態はこれに限定されない。例えば、下位階層表示ボタン２０の押下状態がオンとなると、第２階層の表示項目のみ表示され、さらに下位階層表示ボタン３０の押下状態がオンとなることにより、第３階層の表示項目が表示されてもよい。

【0067】

なお、通信規格表示窓２２には、あらかじめ設定された一つ以上の通信規格が表示されている。なお、これらの被測定対象の通信規格は、あらかじめ設定されるのみでなく、任意の操作で選択できるようになっていてもよい。ここでは、図３に示すように、通信規格として「１００ＧｂＥ」が表示されているとする。

【0068】

次に、操作者の入力部１２の操作により、測定項目選択窓２３において所望の測定項目が選択されると、下位階層表示制御部１７ｃは、測定パラメータ設定領域２４において、選択された測定項目に対応した測定パラメータの表示を行う。ここでは、図３に示すように、測定項目として「Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ」が選択されたとする。

【0069】

次に、下位階層表示制御部１７ｃは、通信規格表示窓２２に表示された通信規格「１００ＧｂＥ」に対応した基準周波数を基準周波数表示窓２４ａに表示する。

【0070】

次に、操作者の入力部１２の操作により、周波数変化量設定窓２４ｂにおいて試験信号の所望の周波数が設定される。

【0071】

次に、操作者の入力部１２の操作により、下位階層表示ボタン２０の押下状態がオフとなると、表示切替制御部１７ｂは、主表示領域１１ａ上に表示されていた副表示領域１１ｂの表示をオフとする制御信号を第１階層表示制御部１７ａに出力する。これにより、図２に示すように、第１階層表示制御部１７ａは、副表示領域１１ｂが設定されていた領域の表示を、副表示領域１１ｂが設定される前の主表示領域１１ａの状態に戻す。

【0072】

なお、下位階層表示ボタン２０の押下状態がオフとなる前後で、下位階層表示ボタン２０や領域２１の配置箇所は、不変であってもよいし、主表示領域１１ａ内の任意の場所に移動されてもよい。

【0073】

次に、操作者の入力部１２の操作により、被試験デバイス１００に対する測定を開始する制御信号が制御部１３から信号生成部１４及び信号解析部１５に出力される。

【0074】

次に、信号生成部１４は、測定パラメータ設定領域２４で設定された測定パラメータに対応した試験信号を生成する。さらに、信号解析部１５は、測定項目選択窓２３で設定された測定項目に対応した解析処理を行う。

【0075】

次に、第１階層表示制御部１７ａは、図４に示すように主表示領域１１ａに、通信規格「１００ＧｂＥ」に関する信号解析結果を逐次表示する。ここでは、操作者の入力部１２の操作により、周波数変化量設定窓２４ｂにおいて試験信号の所望の周波数が設定される度に、信号解析結果のデータ点が主表示領域１１ａに追加表示されるようになっているとよい。

【0076】

なお、信号解析結果のうち１００Ｇイーサネット（登録商標）の規定を満たさないデータについては、その旨を操作者が認識しやすくなるように他のデータと表示形式を変えることが望ましい（例えば図４中の黒丸がエラーデータを示している）。

【0077】

さらに、上記の測定中に、操作者の入力部１２の操作により、下位階層表示ボタン２０の押下状態がオンとなると、下位階層表示制御部１７ｃは、図５に示すように、図３に示した測定開始前の状態の副表示領域１１ｂを主表示領域１１ａ上に表示する。

【0078】

このとき、第１階層表示制御部１７ａは、主表示領域１１ａ内の副表示領域１１ｂ以外の領域１１ｃに信号解析部１５の信号解析結果の一部を表示させる制御を行うようになっている（第１階層表示段階）。

【0079】

なお、第１階層表示制御部１７ａは、図６に示すように適宜信号解析結果を示すグラフの縮尺や表示範囲の数値を変更してもよい。

【0080】

一方、図７に示すように通信規格表示窓２２において表示される通信規格が例えば「ＳＴＭ−６４」であるとする。

【0081】

この場合には、下位階層表示制御部１７ｃは、通信規格表示窓２２に表示された通信規格「ＳＴＭ−６４」に対応した基準周波数を基準周波数表示窓２４ａに表示する。このとき、操作者の入力部１２の操作により、周波数変化量設定窓２４ｂにおいて試験信号の所望の周波数が設定されてもよい。

【0082】

そして、操作者の入力部１２の操作により、被試験デバイス１００に対する測定が開始されると、第１階層表示制御部１７ａは、副表示領域１１ｂが表示された状態で、図７に示すように主表示領域１１ａの一部の領域１１ｃに、通信規格「ＳＴＭ−６４」に関する信号解析結果（図中の□）を逐次表示する。

【0083】

以上説明したように、本実施形態によれば、下位階層表示ボタン２０の押下により、副表示領域１１ｂの表示のオン／オフが切り替わっても、主表示領域１１ａの一部に信号解析結果を表示したままにすることができる。また、第１階層よりも下位の階層の表示項目の表示がオンからオフに変化した場合には、第１階層の表示領域の全体にわたって信号解析結果を表示することが可能である。

【0084】

これにより、現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながら測定パラメータの設定を行うことが可能であり、多数の通信規格に対応した多様な測定機能を迅速かつ正確に操作可能なユーザインターフェースを備えた測定装置を実現できる。

【0085】

さらに、本実施形態によれば、入力部１２を表示部１１の表面に設けられたタッチパネルで構成することにより、装置の小型化を図れるとともに、良好な操作性を得ることができる。

【0086】

（第２の実施形態）
続いて、本発明の第２の実施形態としての測定装置について図面を参照しながら説明する。なお、第１の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。

【0087】

本実施形態の測定装置１は、第１の実施形態と同様に、表示部１１、入力部１２、制御部１３、信号生成部１４、信号解析部１５、入出力部１６、及び表示制御部１７を備えている（図１参照）。本実施形態においては、被試験デバイス１００は、例えば携帯電話などの無線端末機器、あるいは基地局装置である。

【0088】

入出力部１６は、例えば同軸ケーブルにより被試験デバイス１００と測定装置１とを接続するための端子を有している。

【0089】

信号生成部１４は、被試験デバイス１００に送信する試験信号としてのＲＦ（無線周波数）信号を生成するようになっている。

【0090】

信号解析部１５は、信号生成部１４から出力された上記ＲＦ信号に対する被試験デバイス１００からの応答信号を受信し、当該受信した応答信号から被試験デバイス１００の受信状態情報を抽出して、それらを解析するようになっている。

【0091】

図８に示すように、通信規格表示窓２２は、複数の通信規格の中からあらかじめ設定された一つ以上の通信規格を表示するようになっている。なお、これらの被測定対象の通信規格は、あらかじめ設定されるのみでなく、任意の操作で選択できるようになっていてもよい。

【0092】

本実施形態においては被試験デバイス１００は、例えばＷ−ＣＤＭＡ（Wideband Code Division Multiple Access）、ＧＳＭ（登録商標）（Global System for Mobile Communications）、ＬＴＥ（Long Term Evolution）、ＣＤＭＡ２０００（Code Division Multiple Access 2000）、ＥＶ−ＤＯ（Evolution Data Only）、ＴＤ−ＳＣＤＭＡ（Time Division Synchronous Code Division Multiple Access）の各通信規格に従った通信を行うものである。

【0093】

測定項目選択窓２３は、プルダウンメニュー機能により、表３に示す第２階層の表示項目としての複数の測定項目の中から一つの測定項目を選択可能に表示するようになっている。

【0094】

すなわち、測定項目としては、信号レベル（ＬＶ）、変調精度（ＥＶＭ）、ビット誤り率（ＢＥＲ）、隣接チャネル漏洩電力（ＡＣＰ）などが挙げられる。

【0095】

以下、図８に示すように、通信規格として表４に示す「Ｗ−ＣＤＭＡ」、測定項目として「ＡＣＰ」が選択された場合を例に挙げて副表示領域１１ｂの構成を説明する。

【0096】

この場合には、測定パラメータ設定領域２４には、試験信号パワー設定窓２４ｉ，２４ｊが表示される。

【0097】

試験信号パワー設定窓２４ｉ，２４ｊは、例えば、通信規格表示窓２２に表示された通信規格「Ｗ−ＣＤＭＡ」に対応した試験信号のパワーの最小値と最大値を表示するようになっている。ＡＣＰの測定では、基地局装置のアンプなどが被測定対象となり、例えば試験信号のパワーの最小値は１０ｄＢｍ、最大値は３０ｄＢｍとなる。また、測定の周期は例えば１００ｍｓで、試験信号のパワーは例えば０．２ｄＢｍの刻みで変化されるようになっている。

【0098】

これにより、適切な範囲で試験信号のパワーを変化させながらＡＣＰ測定を行うことができるようになっている。なお、試験信号パワー設定窓２４ｉ，２４ｊは、入力部１２の操作により表示値を変更することも可能となっている。

【0099】

なお、測定項目として「ＢＥＲ」が選択された場合には、例えばＷ−ＣＤＭＡの無線端末機器が被測定対象となり、例えば試験信号のパワーの最小値は−１３０ｄＢｍ、最大値は−１１０ｄＢｍとなる。また、測定の周期は例えば３０ｓで、試験信号のパワーは例えば０．２ｄＢｍの刻みで変化されるようになっている。

【表3】

【表4】

【0100】

上記の構成により、第１の実施形態と同様に、現在進行している測定の測定結果や分析結果を確認しながら測定パラメータの設定を行うことが可能であり、多数の通信規格に対応した多様な測定機能を迅速かつ正確に操作可能なユーザインターフェースを備えた測定装置を実現できる。

【符号の説明】

【0101】

１ 測定装置
１１ 表示部
１１ａ 主表示領域
１１ｂ 副表示領域
１１ｃ 領域
１２ 入力部
１３ 制御部
１４ 信号生成部
１５ 信号解析部
１６ 入出力部
１７ 表示制御部
１７ａ 第１階層表示制御部
１７ｂ 表示切替制御部
１７ｃ 下位階層表示制御部
２０，３０ 下位階層表示ボタン
２３ 測定項目選択窓
２４ 測定パラメータ設定領域
１００ 被試験デバイス

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】