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特開2015-215209Ｘ線吸収微細構造透過測定用の試料セル
発明の名称 Ｘ線吸収微細構造透過測定用の試料セル
出願人 公益財団法人高輝度光科学研究センター （識別番号 599112582）
特許公開件数ランキング 14682 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 12559 位（0件）（共同出願を含む）
出願人 国立大学法人京都大学 （識別番号 504132272）
特許公開件数ランキング 395 位（44件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 230 位（71件）（共同出願を含む）
出願人 株式会社タキモト （識別番号 513000126）
特許公開件数ランキング 14682 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 12559 位（0件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2015-215209
公報発行日 2015年12月3
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2015-215209
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