特開2015-75410荷電粒子ビーム分布測定システムおよび荷電粒子ビーム分布測定方法

発明の名称　荷電粒子ビーム分布測定システムおよび荷電粒子ビーム分布測定方法

出願人　独立行政法人放射線医学総合研究所　（識別番号 301032942）

　　　　特許公開件数ランキング 1192 位（10件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 765 位（16件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2015-75410

公報発行日　2015年4月20

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2015-75410

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