特開 2015-99128 信号処理装置および信号処理方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】特開2015-99128(P2015-99128A)

(43)【公開日】2015年5月28日

(54)【発明の名称】信号処理装置および信号処理方法

(51)【国際特許分類】

   G01R 23/173 20060101AFI20150501BHJP

【ＦＩ】

   G01R23/173 J

【審査請求】未請求

【請求項の数】6

【出願形態】ＯＬ

【全頁数】13

(21)【出願番号】特願2013-239947(P2013-239947)

(22)【出願日】2013年11月20日

(71)【出願人】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100072604

【弁理士】

【氏名又は名称】有我 軍一郎

(72)【発明者】

【氏名】吉冨 圭一

(57)【要約】

【課題】過去の任意の時間における測定信号について、過去の解析結果を読み出したり、再度解析を行ったり、解析条件を変更して新たな解析を行ったりする信号処理装置および信号処理方法を提供する。
【解決手段】制御装置がタッチセンサまたは操作部から測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力されると、記憶手段に記憶されている測定信号の所定の信号部分と、測定信号に対する解析処理の結果とを読み出し、表示装置に、記憶手段から読み出した測定信号の所定の信号部分と、測定信号に対する解析処理の結果とを表示する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

検査対象物（ＤＵＴ）からの測定信号（Ｓ）に対し所定の解析処理を行う制御装置（３０）と、
前記測定信号と前記制御装置による前記測定信号に対する解析処理の結果とを記憶する記憶手段（３２または３３）と、
前記制御装置に接続されていて前記測定信号と前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示する表示装置（５０）であって、操作者の接触操作を検知して操作に対応する信号を前記制御装置に出力するタッチセンサ（５２ａ）を備える表示装置（５０）と、
前記制御装置および前記表示装置を操作するための信号を出力する操作部（４０）とを備え、
前記制御装置は、前記タッチセンサまたは前記操作部から前記測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力されると、前記記憶手段に記憶されている前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを読み出し、前記表示装置に、前記記憶手段から読み出した前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示するように構成されている信号処理装置。

【請求項2】

前記表示装置は、前記測定信号の波形を表示する波形表示部（２１０）と、前記測定信号の前記所定の信号部分の前記解析処理の結果を表示する解析処理結果表示部（２２０）とを備えることを特徴とする、請求項１に記載の信号処理装置。

【請求項3】

前記表示手段の前記第２の出力信号の波形を表示する波形表示部（２１０）には、タッチパネル（５２）が設けられており、前記タッチセンサは、操作者のタッチ操作によって前記測定信号の前記所定の信号部分が選択されるように前記タッチセンサ（５２ａ）が配置されていることを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の信号処理装置。

【請求項4】

前記記憶手段は、ＲＡＭ（３２）または外部記憶装置（３３）であることを特徴とする、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の信号処理装置。

【請求項5】

前記制御装置は、前記タッチセンサまたは前記操作部から前記測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力され、さらに、前記タッチセンサまたは前記操作部から前記解析処理と異なる解析処理の指示入力があると、前記記憶手段に記憶されている前記測定信号の所定の信号部分を読み出し、前記読み出した前記測定信号の所定の信号部分に対し前記指示入力された新たな解析処理を行い、前記表示装置に、前記記憶手段から読み出した前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する前記新たな解析処理の結果とを表示するように構成されていることを特徴とする、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の信号処理装置。

【請求項6】

検査対象物（ＤＵＴ）からの測定信号（Ｓ）に対し所定の解析処理を行うステップ（Ｓ１３）と、
前記測定信号と前記制御装置による前記測定信号に対する解析処理の結果とを記憶するステップ（Ｓ１２およびＳ１４）と、
前記測定信号と前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示するステップ（Ｓ１２およびＳ１４）と、
前記測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力されると、前記記憶されている前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを読み出し、前記記憶手段から読み出した前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示するステップ（Ｓ１２およびＳ１８）とを含む信号処理方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、スペクトラムアナライザなどの信号処理装置および信号処理方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、信号を解析等するための信号処理装置としては、例えば、特許文献１に記載のスペクトルアナライザが知られている。

【0003】

特許文献１は、周波数掃引同調方式のスペクトルアナライザを開示しており、その周波数掃引同調方式のスペクトルアナライザは、複数個のバッファメモリ部を備え、測定データを時系列的、一時的に蓄積していくことにより、電子装置からの障害検出信号が出力された時に、ある時間幅だけ過去に遡った測定データが得られるように構成されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開平６−１６０４４６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、特許文献１に記載されたスペクトルアナライザは、周波数掃引同調方式のスペクトラムアナライザであるため、掃引周波数における解析信号のスペクトラムデータは記憶できるが、信号の時間変動波形を記憶することはできない。このため、特許文献１に記載されたスペクトルアナライザでは、例えば、デジタル通信におけるＥＶＭ等の詳細な解析データについて、過去に遡って確認することができない。

【0006】

本発明は、上述のような課題に鑑みてなされたものであり、過去の任意の時間における測定信号について、過去の解析結果を読み出したり、再度解析を行ったり、解析条件を変更して新たな解析を行ったりすることが可能な信号処理装置および信号処理方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の請求項１に係る信号処理装置（１００）は、検査対象物（ＤＵＴ）からの測定信号（Ｓ）に対し所定の解析処理を行う制御装置（３０）と、前記測定信号と前記制御装置による前記測定信号に対する解析処理の結果とを記憶する記憶手段（３２または３３）と、前記制御装置に接続されていて前記測定信号と前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示する表示装置（５０）であって、操作者の接触操作を検知して操作に対応する信号を前記制御装置に出力するタッチセンサ（５２ａ）を備える表示装置（５０）と、前記制御装置および前記表示装置を操作するための信号を出力する操作部（４０）とを備え、前記制御装置は、前記タッチセンサまたは前記操作部から前記測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力されると、前記記憶手段に記憶されている前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを読み出し、前記表示装置に、前記記憶手段から読み出した前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示するように構成されている。

【0008】

この構成により、本発明の請求項１に係る信号処理装置は、過去の任意の時間における測定信号について、過去の解析結果を読み出したり、再度解析を行ったり、解析条件を変更して新たな解析を行ったりすることを可能にする。

【0009】

本発明の請求項２に係る信号処理装置において、前記表示装置は、前記測定信号の波形を表示する波形表示部（２１０）と、前記測定信号の前記所定の信号部分の前記解析処理の結果を表示する解析処理結果表示部（２２０）とを備えることを特徴とする。

【0010】

この構成により、本発明の請求項２に係る信号処理装置は、表示装置に表示された測定信号の信号部分を選択することによって、所望の信号部分の解析処理結果を解析処理結果表示部に表示することを可能にする。

【0011】

本発明の請求項３に係る信号処理装置において、前記表示手段の前記第２の出力信号の波形を表示する波形表示部（２１０）には、タッチパネル（５２）が設けられており、前記タッチセンサは、操作者のタッチ操作によって前記測定信号の前記所定の信号部分が選択されるように前記タッチセンサ（５２ａ）が配置されていることを特徴とする。

【0012】

この構成により、本発明の請求項３に係る信号処理装置は、操作者のタッチ操作によって所定の信号部分を選択できるため、ユーザの直感的な操作を可能にする。

【0013】

本発明の請求項４に係る信号処理装置において、前記記憶手段は、ＲＡＭ（３２）または外部記憶装置（３３）であることを特徴とする。

【0014】

この構成により、本発明の請求項４に係る信号処理装置は、多数の所定の信号部分およびそれらの解析結果を記憶させることを可能にする。

【0015】

本発明の請求項５に係る信号処理装置において、前記制御装置は、前記タッチセンサまたは前記操作部から前記測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力され、さらに、前記タッチセンサまたは前記操作部から前記解析処理と異なる解析処理の指示入力があると、前記記憶手段に記憶されている前記測定信号の所定の信号部分を読み出し、前記読み出した前記測定信号の所定の信号部分に対し前記指示入力された新たな解析処理を行い、前記表示装置に、前記記憶手段から読み出した前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する前記新たな解析処理の結果とを表示するように構成されていることを特徴とする。

【0016】

この構成により、本発明の請求項５に係る信号処理装置は、測定信号の所定の信号部分に対し、信号処理装置に入力したときとは異なる解析処理を行うことを可能にする。

【0017】

本発明の請求項６に係る信号処理方法は、検査対象物（ＤＵＴ）からの測定信号（Ｓ）に対し所定の解析処理を行うステップ（Ｓ１３）と、前記測定信号と前記制御装置による前記測定信号に対する解析処理の結果とを記憶するステップ（Ｓ１２およびＳ１４）と、前記測定信号と前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示するステップ（Ｓ１２およびＳ１４）と、前記測定信号の所定の信号部分を特定する信号が入力されると、前記記憶されている前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを読み出し、前記記憶手段から読み出した前記測定信号の所定の信号部分と、前記測定信号に対する解析処理の結果とを表示するステップ（Ｓ１２およびＳ１８）とを含む。

【0018】

この構成により、本発明の請求項６に係る信号処理方法は、過去の任意の時間における測定信号について、過去の解析結果を読み出したり、再度解析を行ったり、解析条件を変更して新たな解析を行ったりすることを可能にする。

【発明の効果】

【0019】

本発明によると、過去の任意の時間における測定信号について、過去の解析結果を読み出したり、再度解析を行ったり、解析条件を変更して新たな解析を行ったりすることが可能な信号処理装置および信号処理方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0020】

【図1】本発明の実施の形態に係る信号処理装置の構成を示す機能ブロック図である。

【図2】本発明の実施の形態に係る信号処理装置の信号表示部の表示の一例を示す図である。

【図3】本発明の実施の形態に係る信号処理装置の信号表示部の表示の他の一例を示す図である。

【図4】本発明の実施の形態に係る信号処理装置の信号表示部の表示のさらに他の一例を示す図である。

【図5】本発明の実施の形態に係る信号処理装置の信号表示部の表示のさらに他の一例を示す図である。

【図6】本発明の実施の形態に係る信号処理装置の信号表示部の表示のさらに他の一例を示す図である。

【図7】本発明の実施の形態に係る信号処理装置による信号解析処理のフローチャートの一例である。

【発明を実施するための形態】

【0021】

以下、本発明の実施の形態に係る信号処理装置および信号処理方法について、図面を参照しながら説明する。

【0022】

なお、図面の理解の容易さの観点から、図面において、信号波形は、実際の測定値に基づくものではなく、抽象化もしくは簡略化したもの、または観念的に表したものである。

【0023】

本発明の実施の形態に係る信号処理装置は、概略を説明すると、例えば、携帯電話装置や基地局などの検査対象物（Device Under Test；ＤＵＴ）の設計時に作成されたテストパターンに基づいて検査対象物を測定した測定信号の解析処理を行うものである。

【0024】

本発明の実施の形態に係る信号処理装置は、例えば、測定信号に対し所定の処理ソフト（スペクトラムアナライズソフトウェア）を用いて所望の周波数スペクトラム波形となるグラフを生成し、さらに、この周波数スペクトラム波形のパターン認識処理を行って信号成分を分離させた後、信号成分の中心周波数、信号帯域幅、入力電力値などをパラメータとして、変調システム（通信方式）に応じて特定される解析ソフト（変調システム解析ソフトウェア）に基づいて解析処理を行い、これにより、測定信号の劣化の割合を示す変調精度、キャリア周波数、送信電力や規格値とのマッチングの程度などを判別することができるものである。

【0025】

詳細に説明すると、図１に、本発明の実施の形態にかかる信号処理装置１００の概略の構成を示す。信号処理装置１００は、信号解析部１０と表示装置５０とを備える。

【0026】

信号解析部１０は、ＤＵＴ２０からの測定信号Ｓを制御装置３０での解析処理に適した測定信号Ｓに処理する信号処理部１０ａと、信号処理部１０ａで処理された測定信号Ｓの解析処理を行ったりするための制御装置３０とを備える。

【0027】

ここで、ＤＵＴ２０は、検査対象物で、例えば、ＬＴＥ、ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ、ＷＣＤＭＡ（登録商標）、ｃｄｍａ２０００、ＰＤＣ、ＰＨＳ、ＩＥＥＥ８０２．１１ａ、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂ、ＩＥＥＥ８０２．１１ｇ、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎ、ＩＥＥＥ８０２．１１ａｃの通信規格を採用する携帯電話装置や基地局などである。

【0028】

信号処理部１０ａは、ＡＴＴ（アッテネータ；減衰器）１１と、周波数混合器（ＭＩＸ）１２と、所定の範囲の周波数のみを通過させる（言い換えると、所定の範囲外の周波数は減衰させる）バンドパスフィルタ回路（band-pass filter circuit）１３と、ＡＤＣ（アナログ・デジタル・コンバータ）１４と、局部発振器（local oscillator；ＬＯ）１５とを備える。

【0029】

ＡＴＴ１１は、内部に抵抗を有し、高周波の被測定信号としての測定信号Ｓを制御装置３０における信号分析可能で測定に影響を与えない最適なミキサ入力レベル（例えば、デシベル）に減衰させるためのもので、インピーダンスを変化させない電子部品である。

【0030】

局部発振器１５は、ローカル信号として、元の測定信号Ｓの周波数の値から、変換先の周波数の値の分だけ高い周波数あるいは低い周波数の正弦波を発生させるものである。局部発振器１５から発振されるローカル信号は、測定する周波数によって変わる。

【0031】

周波数混合器１２は、ＡＴＴ１１で減衰された測定信号Ｓと局部発振器１５から発振されたローカル信号とを混合し、２つの信号の和および差の周波数成分を含む出力信号を生成するものである。

【0032】

ＡＤＣ１４は、バンドパスフィルタ１３を通過した信号をデジタルデータに変換し、その変換された測定信号Ｓを、表示装置５０に例えば周波数スペクトラム波形のグラフ表示を制御するための制御装置３０に入力する。

【0033】

制御装置３０は、解析処理部３０ａ、測定信号記憶処理部３０ｂ、表示制御部３０ｃ等の各種の機能ブロックを備える。解析処理部３０ａは、例えば、スペクトラムアナライズソフトウエアに基づいて高速フーリエ変換処理を行うＦＦＴ解析部３５を備える。

【0034】

制御装置３０には、格納手段としてのＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）３１、ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）３２および操作部４０が接続されている。

【0035】

ＲＯＭ３１は、測定信号Ｓに対し所定の解析処理を実行するための各種の解析ソフトを格納する。例えば、解析ソフトには、スペクトラムアナライズソフトウエア、測定信号Ｓの劣化の割合を示す変調精度、キャリア周波数、送信電力を測定するための変調解析ソフトウエアや、スペクトログラム（Spectrogram）、累積確率分布（ＣＣＤＦ： Complementary Cumulative. Distribution Function）、周波数対時間、電力対時間、位相対時間などの解析処理等をするためのソフトウエアが含まれている。

【0036】

ＲＡＭ３２は、制御装置３０の制御動作のための作業エリアとして使用され、また、例えば一時的記憶手段としても使用される。例えば、記憶手段として、ＲＡＭ３２に、測定信号Ｓと測定信号Ｓの解析結果とを記憶してもよい。

【0037】

スペクトラムアナライズソフトは、信号処理部１０ａの各構成要素（１１〜１５）およびＦＦＴ解析部３５を動作させることによって、表示画面に、ＤＵＴ２０からの測定信号Ｓを周波数と入力電力値（振幅レベル）とのスペクトラムとして、グラフにより表示させるようにするためのアプリケーションである。

【0038】

上記のとおり、解析ソフト（群）は、信号処理部１０ａの各構成要素（１１〜１５）および解析処理部３０ａを動作させることによって、測定信号Ｓのスペクトラムに対して所定の解析処理を施すためのアプリケーションである。解析ソフト（群）は、測定信号Ｓのスペクトラムから選択された信号成分の少なくとも中心周波数、信号帯域幅および中心周波数と信号帯域幅から特定される検査対象物の通信方式（変調システム）ごとに複数用意されている。

【0039】

操作部４０は、例えば、信号処理装置１０および表示装置５０を操作するためのもので、電源の投入時、測定・解析処理の開始時、解析結果の表示時などに、ユーザによって操作されるものである。操作部４０は、例えば、後述する表示装置５０の表示パネル５１の信号表示部５１ａに表示された信号の一部を特定して選択するためにも用いることができる。

【0040】

また、制御装置３０には表示装置５０が接続されている。表示装置５０は、表示パネル５１とタッチパネル５２とを備えている。表示パネル５１は、例えば、制御装置３０からの信号を表示する信号表示部５１ａと、所定の画像を表示する画像表示部５１ｂとを備えている。

【0041】

タッチパネル５２は、信号表示部５１ａおよび画像表示部５１ｂに設けられており、また、信号処理装置１０の操作者によるタッチ操作等の接触操作による信号入力を検知するタッチセンサ５２ａを備えている。

【0042】

本実施の形態において、表示装置５０は、例えば、液晶ディスプレイ（Liquid Crystal Display）やＥＬディスプレイ（Electroluminescence Display）などの、フラットパネル・ディスプレイを用いて構成されている。

【0043】

また、タッチパネル５２は、例えば、人体の一部（指先など）や静電ペンなどの接触を検知する静電容量方式のものであり、その検知信号は制御装置３０に出力される。また、静電容量方式に代えて、ペン先などの堅い物質の接触を検知して、その検知信号を制御装置３０に出力する方式のものや、その他の方式（例えば、ＬＣＤパネル内にタッチパネルを内蔵するイン・セル型やオン・セル型の構造）のものを用いてもよい。

【0044】

表示装置５０において、表示パネル５１の信号表示部５１ａには、制御装置３０からの映像信号を入力することによって、スペクトラムアナライズソフトウェアによる所定のアナライズ処理の結果として、測定信号Ｓの周波数軸上の強度を周波数ドメイン（横軸を周波数、縦軸を振幅レベル）とする、周波数スペクトラム波形のグラフを表示することができる。

【0045】

さらに、信号表示部５１ａには、測定の一過程として選択された信号成分に対する解析処理のための各処理パラメータ（少なくとも、中心周波数、信号帯域幅および入力電力値）や、後述する変調システム解析ソフトウェア（以下、単に「解析ソフト」と称す）の変調システムをリストとして表示することができる。

【0046】

解析処理の対象として選択された信号成分を解析するための解析ソフトにおいて、複数の解析ソフトが変調システム（通信方式）の異なる候補として選出される場合、変調システムは、変調システムとしての可能性の高いものから順に表示することができる。これによると、変調システムに適した解析ソフトによる解析処理を即座に実施することが可能になる。

【0047】

さらに、信号表示部５１ａに、測定の一過程または最終過程として、解析処理の対象である信号成分の変調システムに対応する解析ソフトによって、例えば自動的に所定の解析処理が行われた際の解析結果２２０を表示することができる（例えば、図２から図６参照）。

【0048】

このように、測定信号Ｓに対する解析処理を行うための解析ソフトの変調システムを、選択された信号成分に応じて自動的にリストアップすることができるので、選択された信号成分の変調システムに対応する解析ソフトをより確実に選択できるようになる。

【0049】

したがって、ユーザの経験値などによらず、常に測定信号Ｓの変調システムに適した解析ソフトによる解析処理を実現することが可能となる。

【0050】

また、表示パネル５１の画像表示部５１ｂには、例えば、機能を選択するためのスイッチ類を表すアイコンや設定値などを入力するためのキーボードが表示される。

【0051】

タッチパネル５２は、信号表示部５１ａに表示されるグラフや波形や画像表示部５１ｂに表示されるアイコンやキーボードなどに対応する位置情報を検知信号として制御装置３０に出力する。

【0052】

なお、タッチパネル５２から出力される位置情報は、タッチパネル５２に設けられるタッチセンサ５２ａが、例えばマトリックス状に配設されたものであれば、タッチ操作位置の行方向の番地と列方向の番地との組み合わせからなる数ビットのデジタルデータになる。

【0053】

本実施の形態においては、後述の通り、例えば、表示パネル５１上の信号表示部５１ａの波形表示部２１０の所定の位置をタップすることによって、解析処理の対象となる信号部分が表されている例えば区間２１１の選択を行うことができる（例えば、図２参照）。これにより、解析処理の対象としたい信号部分の選択を表示画面上でのタップ操作によって行うことができる。

【0054】

このような表示装置５０における信号表示部５１ａおよび画像表示部５１ｂの表示や、タッチパネル５２におけるタッチセンサ５２ａの作動は、制御装置３０における表示制御部３０ｃによって実行される。

【0055】

図２は、変調システム解析ソフトウエアにより測定信号Ｓを解析処理した結果を信号表示部５１ａに表示した表示画面の一例を示す。表示画面２００は、ＡＤＣ１４から制御装置３０に、所定の処理がされた測定信号Ｓが入力されると、その測定信号Ｓの波形を時間の経過に応じて表示する波形表示部２１０と、測定信号Ｓが制御装置３０に入力されて変調システム解析ソフトウエアによって解析処理された結果を示す解析処理結果表示部２２０とを含む。

【0056】

解析処理結果表示部２２０は、測定信号Ｓの所定の信号部分の解析結果に関して、位相と振幅とを極座標においてＩ/Ｑ平面上に個々の点として表すグラフ表示部２２１と、エラーベクトル振幅（ＥＶＭ）表示部２２２とを含む。また、この解析結果は、測定信号Ｓの所定の信号部分に対応させて、ＲＡＭ３２または外部記憶装置３３に記憶させる。

【0057】

波形表示部２１０は、ＤＵＴ２０から信号処理部１０ａに入力されて測定信号Ｓの所定の処理が行われた測定信号Ｓを信号波形２１０ｆとして示す。信号波形２１０ｆは、解析処理を行った所定時間ごとの信号部分を区間ごとに波形表示部２１０上で区切られて表示されている。

【0058】

図２に向かって、信号波形２１０ｆは、波形表示部２１０上に、時間の経過とともに区間に区切られた状態で、右端から左端に向かって進行するように表示される。このため、図２に向かって、右端の第１の区間２１１が最新の測定信号Ｓの信号部分を表し、その左側の第２の区間２１２が、過去に入力された測定信号Ｓの信号部分を表し、そのさらに左側の第３の区間２１３が、さらに過去に入力された測定信号Ｓの信号部分を表し、右端の第４の区間２１４が、第３の区間より過去に入力された測定信号Ｓの信号部分を表す。

【0059】

信号波形２１０ｆは、波形表示部２１０に表示されるとともに、区間ごとに、ＲＡＭ３２または外部記憶装置３３に記憶される。

【0060】

波形表示部２１０上には、タッチパネル５２が設けられていて、タッチセンサ５２ａが区間２１１〜２１４ごとを選択できるように配置されている。このため、例えば、区間２１１がタップされると、図２に示すように、区間２１１のフレームが強調され、その区間内の信号部分に関するデータがＲＡＭ３２または外部記憶装置３３から読み出される。

【0061】

また、図３に示すように、波形表示部２１０の上を左から右にスワイプすると、信号波形２１０ｆの全体を右方向に移動させることができ、これにより、過去の測定信号Ｓの部分を示す例えば区間２１５を波形表示部２１０に表示させることができる。

【0062】

なお、スワイプに代えて、制御装置３０に接続されている操作部４０のキーボードを用いて、図３に示すように、人差し指の形をしたカーソル４０ａで信号波形２１０ｆをドラッグしたり、測定日時を入力したりすることによって所望の信号部分が波形表示部２１０に表示されるようにしてもよい。

【0063】

図２に示すように、区間２１１がタップされてそのフレームが強調されると、解析処理結果表示部２２０には、区間２１１に示されている測定信号Ｓの解析処理の結果が示される。例えば、図２に示すように、測定信号Ｓの解析処理の結果として、Frequency Error（周波数誤差）２．４５Ｈｚ、０．００２ｐｐｍ、Output Power（出力電力）−８．９１ｄＢｍ、Total EVM(rms) ２０．２９％、Total EVM(peak) ９４．８９％と、サブキャリアに対するＥＶＭ（ベクトル誤差）を表す波形が表示される。

【0064】

通常は、区間２１１のように右端の位置の区間のフレームが強調されて、解析処理結果表示部２２０には、その区間に示されている最新の測定信号Ｓの部分の解析処理された結果が表示される。

【0065】

このように、最新の測定信号Ｓが、時間の経過とともに、順次、波形表示部２１０の右端にある区間に表示される。

【0066】

制御装置３０の測定信号記憶処理部３０ｂは、最新の測定信号Ｓが、このように表示されると、順次、この最新の測定信号Ｓの部分自体のデータを記憶手段のＲＡＭ３２または外部記憶装置３３に記憶させる。

【0067】

また、測定信号記憶処理部３０ｂは、この測定信号Ｓの部分の記憶とともに、この測定信号Ｓの部分の解析処理結果も区間に関連付けて記憶手段に記憶させる。

【0068】

なお、多数の区間２１１等に表示された測定信号Ｓの多数の部分を記憶させたい場合、または、ＲＡＭ３２を主として制御装置３０の作業領域として用いる場合等には、記憶手段として、制御装置３０に接続されている外部記憶装置３３を用いるようにしてもよい。

【0069】

これにより、例えば、図４において、区間２１４の測定信号Ｓの部分の解析処理の結果は、その区間が波形表示部２１０の右端にある時に既に求めているため、区間２１４をタップしてそのフレームを強調すると、解析処理結果表示部２２０には、区間２１４の測定信号Ｓの部分の解析処理の結果が即時に表示される。

【0070】

図５は、変調システム解析ソフトウエアにより測定信号Ｓを解析処理した結果を信号表示部５１ａに表示した表示画面の他の一例を示す。図５では、波形表示部２１０に表示されている３つの区間２１１、２１２、２１３を同時にまたは既定の短時間内に連続してタップすることにより、３つの区間の全てのフレームを強調した状態を示す。

【0071】

この場合には、変調システム解析ソフトウエアにより、選択した区間２１１、２１２、２１３に関して、平均値（Average）、最大値（Max）、最小値（図示せず）を算出して表示することができる。

【0072】

また、選択した区間２１１、２１２、２１３の信号部分に関するグラフを重ね合わせて表示することができる。例えば、Ｇｒａｐｈに示すＩ/Ｑ座標のグラフにおいて、シンボルタイミング時におけるＩ/Ｑ平面上のステートのマッピングのコンスタレーションダイアグラムが点の集まり、ステート周辺でドットが拡散することがある。このように、時間経過による測定値の変化が認識しやすくなる。

【0073】

また、重ね合わせる複数の区間を選択する際に、ノイズ等の特異点を含む測定信号Ｓの部分を含む区間を除くことも容易に行うことができるため、解析の精度を高めることができる。

【0074】

図６は、変調システム解析ソフトウエアにより測定信号Ｓを解析処理した結果を信号表示部５１ａに表示した表示画面のさらに他の一例を示す。図６では、波形表示部２１０に表示されている４つの区間２１１、２１２、２１３、２１４において、信号波形２１０ｆの上方に、それぞれの区間の解析処理結果を重ねて表示している。ここでは、各区間において、破線で示す信号がFrequency Errorを表し、実線で示す信号がTotal EVMを表している。これにより、過去の測定信号の解析結果を参照する際に目的の測定信号の部分のある区間を容易に探し出すことができるようになる。

【0075】

図７は、本実施の形態に係る信号処理装置１００の制御装置３０で実行される信号解析処理の一例を示すフローチャートである。

【0076】

制御装置３０は、操作者の操作部４０等からの入力があると、操作者の指示した解析処理に適した解析ソフトをＲＯＭ３１から読み出す（Ｓ１１）。

【0077】

次に、制御装置３０は、検査対象物２０からの測定信号を表示装置５０の信号表示部５１ａに表示し（Ｓ１２）、それとともに、その測定信号をＲＡＭ３２または外部記憶装置３３に記憶する（Ｓ１２）。

【0078】

制御装置３０は、測定信号の保存および表示（Ｓ１２）の処理とともに、その測定信号に対し解析ソフトによって所定の解析処理を行う（Ｓ１３）。解析処理の結果がでると、制御装置３０は、その結果を表示装置５０の信号表示部５１ａに表示するとともに（Ｓ１４）、ＲＡＭ３２または外部記憶装置３３に記憶する（Ｓ１４）。

【0079】

次に、制御装置３０は、操作者が、信号表示部５１ａの波形表示部２１０のいずれかの区間のタッチセンサに触れたか否かを判別し（Ｓ１５）、操作者が、例えば、図４に示すように、波形表示部２１０の区間２１４のタッチセンサに触れると、続いて、解析ソフトが変更されたか否か判別する（Ｓ１６）。これは、選択した区間の信号に対し、操作者が異なる信号解析処理を希望する場合があるからである。

【0080】

制御装置３０は、区間が選択されていないと判断したときには、区間が選択されたか否かの判断を繰り返す（Ｓ１５）。

【0081】

次に、制御装置３０は、選択された区間の信号部分に対する解析ソフトが変更されたか否かを判別する（Ｓ１６）。

【0082】

制御装置３０が、解析ソフトが変更されたと判別したときには、解析ソフトをＲＯＭ３１から読み出して選択された区間の信号部分に対し解析処理を行う（Ｓ１７）。

【0083】

制御装置３０が、解析ソフトは変更されていないと判別したときには、その時点での解析ソフトによって選択された区間の信号部分に対し解析処理を行う（Ｓ１７）。

【0084】

続いて、その解析処理を行った結果を表示装置５０の信号表示部５１ａに表示する（Ｓ１８）。

【0085】

この後、制御装置３０は、操作者から信号解析処理の要求の入力があると、この信号解析処理を繰り返す。

【0086】

本実施の形態における信号処理装置１００は、表示装置５０の表示パネル５１において、信号表示部５１ａに対応するようにして設けられた、タッチ操作に伴う位置情報を出力するタッチセンサ５２ａを有するタッチパネル５２を備えているので、区間２１１他の選択等をタッチ操作によって行えるので、ユーザの直感的な操作が可能となる。

【0087】

また、上記した本実施の形態では、本発明に係る信号処理装置をスペクトラムアナライザなどの信号処理装置１００に適用した場合を例に説明したが、これに限らず、例えばスペクトラムアナライザ以外の汎用測定器にも同様に適用可能である。

【0088】

本発明は上記した実施の形態に限定されるものでなく、特許請求の範囲の技術的範囲には、発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々、設計変更した形態が含まれる。

【0089】

以上により、本発明によると、過去の任意の時間における測定信号について、過去の解析結果を読み出したり、再度解析を行ったり、解析条件を変更して新たな解析を行ったりすることが可能な信号処理装置および信号処理方法を提供することができる。

【符号の説明】

【0090】

１０ 信号解析部
１０ａ 信号処理部
１１ ＡＴＴ
１２ 周波数混合器
１３ バンドパスフィルタ回路
１４ ＡＤＣ
１５ 局部発振器
３０ 制御装置
４０ 操作部
３０ａ 解析処理部
３０ｂ 測定信号記憶処理部
３０ｃ 表示制御部
３１ ＲＯＭ
３２ ＲＡＭ（記憶手段）
３３ 外部記憶装置（記憶手段）
４０ 操作部
５０ 表示装置
５１ａ 信号表示部
５２ａ タッチセンサ
２１０ 波形表示部
２２０ 解析処理結果表示部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】