特開2016-161353劣化検出装置および劣化検出方法

発明の名称　劣化検出装置および劣化検出方法

出願人　富士通テン株式会社　（識別番号 237592）

　　　　特許公開件数ランキング 149 位（219件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 206 位（148件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2016-161353

公報発行日　2016年9月5

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2016-161353

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