(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】特開2016-181737(P2016-181737A)
(43)【公開日】2016年10月13日
(54)【発明の名称】伝送線路
(51)【国際特許分類】
H01P 3/00 20060101AFI20160916BHJP
H05K 1/02 20060101ALI20160916BHJP
【FI】
H01P3/00 101
H05K1/02 P
【審査請求】未請求
【請求項の数】2
【出願形態】OL
【全頁数】9
(21)【出願番号】特願2015-59443(P2015-59443)
(22)【出願日】2015年3月23日
(71)【出願人】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100072604
【弁理士】
【氏名又は名称】有我 軍一郎
(72)【発明者】
【氏名】松田 修一
【テーマコード(参考)】
5E338
5J014
【Fターム(参考)】
5E338AA02
5E338AA18
5E338CC02
5E338CC05
5E338CC06
5E338CD02
5E338CD23
5E338CD25
5E338EE13
5J014CA43
5J014CA54
(57)【要約】
【課題】100GHzのミリ波帯域まで群遅延特性が良好なグランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路を提供する。
【解決手段】絶縁性の基板11と、基板11の表面に形成された信号線路パターン12と、基板11の表面において信号線路パターン12の両側に所定の距離を隔てて形成されたグランドパターン13a,13bと、基板11の裏面に形成されたグランドパターン14と、グランドパターン13a,13bとグランドパターン14を電気的に接続するスルーホール15と、を備え、基板11の両側面において、グランドパターン13a,13bとグランドパターン14に電気的に接続されるサイドグランドパターン16が形成されている。
【選択図】
図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
絶縁性の基板(11)と、前記基板の表面に形成された中心導体(12)と、前記基板の表面において前記中心導体の両側に所定の距離を隔てて形成された表面接地導体(13a,13b)と、前記基板の裏面に形成された裏面接地導体(14)と、前記表面接地導体と前記裏面接地導体を電気的に接続するスルーホール(15)と、を備えるグランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路(1)において、
前記基板の両側面において、前記表面接地導体と前記裏面接地導体に電気的に接続される側面接地導体(16)が形成されていることを特徴とする伝送線路。
【請求項2】
前記基板の少なくとも一端面において、前記表面接地導体と前記裏面接地導体と前記側面接地導体とに電気的に接続される端面接地導体(21a,21b,22a,22b)が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の伝送線路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、伝送線路に関し、特にグランデッドコプレーナ線路において群遅延特性を良好にする伝送線路に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、通信システムは高速化の一途をたどっており、50Gbit/sや100Gbit/sの通信システムの実用化に向けての議論が活発になされている。このような高速の通信システムに対応した通信装置、又は通信装置の品質評価を行う測定装置においては、高ビットレートのデジタル信号を波形の劣化を抑制して伝送させる必要がある。
【0003】
例えば、デジタル信号の誤り率を測定する装置は、伝送線路を介して擬似ランダムビット系列などのパルスパターン信号を被試験対象に対して送受信する。このようなパルスパターン信号は基本波成分と高調波成分を含むため、伝送線路には直流から高周波までの広帯域にわたって周波数特性が良好であることが求められる。
【0004】
従来、高速の電気信号を入出力する伝送線路として、一方の面に薄膜状の信号配線が形成され、他方の面に導電性を有する薄膜状の電気的基準面が形成され、他方の面は一方の面に掘り込まれて電気的基準面が形成されたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
【0005】
図11に特許文献1に開示された伝送線路の構成を示す。
図11(a)の斜視図に示すように、プラスチック製基板201上に10GHz以上の高周波帯域を有する高速信号増幅器IC202が搭載されている。高速信号増幅器IC202に対する信号入出力用の高速信号線203a,203bとして、プラスチック製基板201上にマイクロストリップ線路が形成されている。高速信号増幅器IC202は、電極パターンの形成された面を下にして、プラスチック製基板201上に形成された電極パッド205上に、ハンダバンプを用いてベアチップ搭載されている。高速信号線203a,203bの両端には、SMA型高周波コネクタ204a,204bが取り付けられ、高速信号増幅器IC202の入力信号強度と出力信号強度の比である利得特性を測定することができるようになっている。
【0006】
プラスチック製基板201の底面、高速信号線203a,203bの下部には掘り込み206が形成されている。掘り込み206の壁面には、導電性の金属メッキにより、高速信号線203a,203bのインピーダンスが50Ωになるように、グランド面207が形成されている。また、高速信号増幅器IC202は、湿気等から素子を保護するために封止用樹脂208により、チップ全体が封止されている。
【0007】
図11(b)の断面図に示すように、高速信号線203a,203bは、上部が空気の部分と封止用樹脂208で覆われた部分とに分かれる。そこで、封止用樹脂208で覆われた部分における特性インピーダンスが、空気の部分における特性インピーダンスと等しくなるように、掘り込み206の深さを変えて、グランド面207が形成されている。
【0008】
図12のグラフは、高速信号増幅器IC202の周波数特性を示している。3dB周波数応答帯域は、12GHzであり、0.1GHzから10GHzの周波数範囲で安定した周波数特性が得られている。
【0009】
なお、特許文献1には、グランデッドコプレーナ線路を構成する伝送線路も開示されているが、グランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路の周波数特性については開示がない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0010】
【特許文献1】特開2004−40257号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0011】
しかしながら、特許文献1に開示された構成では、利得の周波数特性の3dB周波数応答帯域が12GHzであることから分かるように、群遅延の周波数特性を例えば100GHzのミリ波帯域まで伸ばすことができない。また、特許文献1には、グランデッドコプレーナ線路単体の周波数特性を伸ばすことについての開示がない。
【0012】
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、100GHzのミリ波帯域まで群遅延特性が良好なグランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0013】
上記課題を解決するために、本発明の請求項1の伝送線路は、絶縁性の基板と、前記基板の表面に形成された中心導体と、前記基板の表面において前記中心導体の両側に所定の距離を隔てて形成された表面接地導体と、前記基板の裏面に形成された裏面接地導体と、前記表面接地導体と前記裏面接地導体を電気的に接続するスルーホールと、を備えるグランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路において、前記基板の両側面において、前記表面接地導体と前記裏面接地導体に電気的に接続される側面接地導体が形成されていることを特徴とする。
【0014】
また、本発明の請求項2の伝送線路は、前記基板の少なくとも一端面において、前記表面接地導体と前記裏面接地導体と前記側面接地導体とに電気的に接続される端面接地導体が形成されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【0015】
本発明は、100GHzのミリ波帯域まで群遅延特性が良好なグランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路を提供する。
【図面の簡単な説明】
【0016】
【
図1】本発明の第1の実施形態としての伝送線路の表面側の構成を示す斜視図である。
【
図2】本発明の第1の実施形態としての伝送線路の裏面側の構成を示す斜視図である。
【
図4】サイドグランドパターンが有り、THピッチが0.5mmのシミュレーションモデルを示す斜視図である。
【
図5】サイドグランドパターンが無く、THピッチが0.5mmのシミュレーションモデルを示す斜視図である。
【
図6】
図4,5に示すモデルの群遅延特性のシミュレーション結果を示すグラフである。
【
図7】
図1,4に示すモデルの群遅延特性のシミュレーション結果を示すグラフである。
【
図8】THピッチが0.5mm、φ0.15の場合の群遅延特性のシミュレーション結果を示すグラフである。
【
図9】本発明の第2の実施形態としての伝送線路の構成を示す斜視図である。
【
図10】本発明の第2の実施形態としての伝送線路がMMICの伝送線路に接続される場合の構成を示す上面図である。
【
図11】従来の伝送線路の構成を示す斜視図及び断面図である。
【
図12】従来の伝送線路の周波数特性を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0017】
以下、本発明に係る伝送線路の実施形態について、図面を用いて説明する。本発明の伝送線路は、例えば50Gbit/sを超えるような高ビットレートのデジタル信号を伝送するための伝送線路であり、例えば電解効果トランジスタ(FET:Field effect transistor)などの半導体部品を含むMMIC(Microwave Monolithic Integrated Circuit)が実装される測定装置等において、MMICの伝送線路を他の部品の伝送線路や入出力コネクタ等に接続する用途で用いることができる。
【0018】
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態としての伝送線路1の構成について説明する。
図1,2は、本実施形態の伝送線路1の構成を示す斜視図である。
図3は
図1のA−A線断面図である。
【0019】
図1〜3に示すように、本実施形態の伝送線路1は、いわゆるグランデッドコプレーナ線路構造を成しており、絶縁性の基板11と、基板11の表面に形成された信号線路パターン12と、基板11の表面において信号線路パターン12の両側に所定の距離を隔てて形成されたグランドパターン13a,13bと、基板11の裏面の全面に形成されたグランドパターン14と、グランドパターン13a,13bとグランドパターン14を電気的に接続するスルーホール15と、を備える。
【0020】
さらに、本実施形態の伝送線路1は、上記のグランデッドコプレーナ線路構造に加えて、基板11の両側面に形成され、グランドパターン13a,13bとグランドパターン14に電気的に接続されるサイドグランドパターン16を備える。
【0021】
基板11は、石英ガラスやセラミックなどを用いることができる。スルーホール15は、基板11を貫通するように基板11をレーザ等で孔開けすることによって形成される。スルーホール15は、その内壁面に金などの導電性材料が蒸着されるか、あるいは、導電性材料が埋め込まれることにより、グランドパターン13a,13b及びグランドパターン14に導通するようになっている。
【0022】
信号線路パターン12、グランドパターン13a,13b,14、及びサイドグランドパターン16は、スルーホール15が形成された基板11にマスクパターンを形成し、金の薄膜をスパッタリングで蒸着することで形成される。このとき同時にスルーホール15の側壁にも金の薄膜が蒸着されるとよい。
【0023】
信号線路パターン12とグランドパターン13a,13bとの間のギャップ幅は、伝送線路1の特性インピーダンスが50Ωになる値に設定されている。
【0024】
基板11の両側面にサイドグランドパターン16が無い通常のグランデッドコプレーナ線路においては、グランドパターン13a,13bとグランドパターン14の電位は、スルーホール15により導通が取れることで等電位となる。
【0025】
しかしながら、デジタル信号は、繰り返し周波数である基本波と、その整数倍の周波数を持つ高調波の重ね合わせで構成されており、伝送されるデジタル信号のビットレートが高くなれば、基本波と高調波の波長はそれぞれ短くなる。このため、デジタル信号の伝送方向(Y方向)の各位置において、常にグランドパターン13a,13bとグランドパターン14を等電位にするためには、基本波と高調波の波長が短くなった分、スルーホール15の個数を増やしてY方向のスルーホール15の間隔を狭くする必要がある。ただし、隣り合うスルーホール15の間隔は、孔加工の精度や基板強度などによる製造上の限界から、スルーホール15の直径の2倍以上、より好ましくは3倍以上に制限される。
【0026】
伝送されるデジタル信号のビットレートが高くなり、その基本波と高調波の波長に対してスルーホール15の間隔が相対的に広くなると、グランデッドコプレーナ線路の本来の伝送モードであるTEMモード以外の伝送モードが生じてしまう。これにより、共振が発生し、その共振周波数の前後の周波数の群遅延特性が大幅に悪化する。これは、ビットレートが高いデジタル信号の伝送においては、波形が崩れる原因となる。
【0027】
そこで、本実施形態においては、スルーホール15だけでなく、基板11の両側面に位置するサイドグランドパターン16からも、表面と裏面のグランドパターン13a,13b,14間の導通を取る。これにより、高ビットレートのデジタル信号に対しても、伝送方向(Y方向)の各位置においてグランドパターン13a,13bとグランドパターン14を等電位にすることができる。
【0028】
このように、スルーホール15に加えて、基板11の両側面にサイドグランドパターン16を設けることで周波数特性が向上し、100GHzまで群遅延特性が良好なデジタル信号の伝送線路を実現できる。特に、ビットレートが50Gbit/sを超えるようなデジタル信号の伝送において、波形の劣化が少ない高品位な伝送が可能となる。
【0029】
図1,4,5に示す本実施形態の伝送線路1のモデルに対して、50GHzから99GHzにわたって群遅延特性に関する電磁界シミュレーションを行った結果を
図6,7に、示す。このシミュレーションでは、サイドグランドパターンの有無や、スルーホールの基板長さ方向の間隔(以下、「THピッチ」ともいう)に応じた群遅延特性の変化を調べた。
【0030】
図1は、サイドグランドパターンが有り、THピッチが1mmのモデルを示している。
図4は、サイドグランドパターンが有り、THピッチが0.5mmのモデルを示している。
図5は、サイドグランドパターンが無く、THピッチが0.5mmのモデルを示している。
【0031】
その他のシミュレーション条件は以下のとおりである。
・基板:比誘電率3.58、誘電正接1×10
−4、幅1.6mm、長さ3.0mm、厚さ0.2mm
・信号線路パターン幅:0.35mm
・信号線路パターンとグランドパターンのギャップ幅:0.08mm
・信号線路パターン、グランドパターン、及びサイドグランドパターン:1μm厚の金
・スルーホールの信号線路パターン中心からの幅方向の距離:0.5mm
・スルーホールの直径:φ0.2
【0032】
図6に示したシミュレーション結果から以下のことが分かる。
・THピッチが0.5mmでサイドグランドパターンが有る場合(
図4)と無い場合(
図5)とでは、サイドグランドパターンが無い場合の群遅延特性の82GHz付近に変曲点が見られるが、サイドグランドパターンが有る場合の群遅延特性では82GHz付近に変曲点は見られない。THピッチが0.5mmでサイドグランドパターンが有る場合の群遅延特性は、50GHz〜99GHzの周波数において非常に良好な特性を示していると言える。
【0033】
また、
図7に示したシミュレーション結果から以下のことが分かる。
・サイドグランドパターンが有り、THピッチが0.5mm(
図4)又は1mm(
図1)の場合では、THピッチが1mmの場合の群遅延特性は85GHz以上で複数の変曲点が見られるが、THピッチが狭い0.5mmの場合の群遅延特性は、50GHz〜99GHzの周波数において非常に良好な周波数特性を示していると言える。
【0034】
なお、上記の解析ではTHピッチを0.5mmとしたが、一般的な薄膜基板製造によるTHピッチは、スルーホールの直径がφ0.2の場合には0.6mm(φ0.2の3倍)が限界である。THピッチを0.5mmよりも狭くするには、スルーホールの径を小さくすることが考えられる。例えばφ0.15であれば、THピッチを0.45mmまで狭めることが可能である。
【0035】
図8に、THピッチが0.5mm、φ0.15で、サイドグランドパターンが有る場合の群遅延特性のシミュレーション結果を示す。この場合には、
図6,7に示したTHピッチが0.5mm、φ0.2で、サイドグランドパターンが有る場合と同様の群遅延特性が得られた。
【0036】
以上説明したように、本実施形態の伝送線路1は、グランデッドコプレーナ線路構造において、絶縁性の基板11の両側面にサイドグランドパターン16が形成されている。このサイドグランドパターン16は、基板11の表面に形成された信号線路パターン12の両側に所定の距離を隔てて形成されたグランドパターン13a,13bと、基板11の裏面に形成されたグランドパターン14と、に電気的に接続されるようになっている。
【0037】
これにより、グランデッドコプレーナ線路構造の伝送線路に対して、スルーホールに加えてサイドグランドパターンを設けることで、スルーホールのみが設けられた場合と比較して、100GHzのミリ波帯域まで群遅延特性が良好となり、ビットレートが50Gbit/sを超えるようなデジタル信号の伝送において、波形の劣化が少ない高品位な伝送が可能となる。
【0038】
(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態としての伝送線路2について図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。
【0039】
図9に示すように、本実施形態の伝送線路2は、第1の実施形態の構成に加えて、デジタル信号の伝送方向(Y方向)に垂直な基板11の前方端面及び後方端面の少なくとも一方において、グランドパターン13a,13b,14及びサイドグランドパターン16に電気的に接続されるグランド導通パターン21a,21b,22a,22bが形成されている。
【0040】
図10は、2つのMMIC30,40の伝送線路を伝送線路2で接続する際の構成を示している。MMIC30のグランド電極31a,31bは、ボンディングワイヤ32a,32bによって、伝送線路2のグランドパターン13a,13bにそれぞれ電気的に接続されている。また、MMIC30の信号電極31cは、ボンディングワイヤ32cによって、伝送線路2の信号線路パターン12に電気的に接続されている。
【0041】
同様に、MMIC40のグランド電極41a,41bは、ボンディングワイヤ42a,42bによって、伝送線路2のグランドパターン13a,13bにそれぞれ電気的に接続されている。また、MMIC40の信号電極41cは、ボンディングワイヤ42cによって、伝送線路2の信号線路パターン12に電気的に接続されている。
【0042】
例えばMMIC30側に注目すれば、表面のグランドパターン13a,13bは、ボンディングワイヤ32a,32bを介して、MMIC30に最も近いスルーホールよりもMMIC30に近い位置で接地される。一方、サイドグランドパターン16やグランド導通パターン21a,21bを備えていない従来の伝送線路にあっては、裏面のグランドパターンにとってのMMIC30に最も近い接地位置は、MMIC30に最も近いスルーホールの位置となる。
【0043】
これに対し、本実施形態の伝送線路2においては、裏面のグランドパターン14が、グランド導通パターン21a,21b,22a,22bを介して、MMIC30やMMIC40に最も近い端部からも接地されることになる。
【0044】
これにより、デジタル信号の伝送方向(Y方向)の各位置において、常にグランドパターン13a,13bとグランドパターン14が等電位になりやすくなり、ひいてはIC回路全体としての性能を安定させることができる。
【0045】
以上説明したように、本実施形態の伝送線路2は、基板11の少なくとも一端面において、グランドパターン13a,13bとグランドパターン14に電気的に接続されるグランド導通パターン21a,21b,22a,22bが形成されている。
【0046】
これにより、第1の実施形態の効果に加えて、第1の実施形態よりもグランドパターン13a,13bとグランドパターン14が等電位になりやすくなり、本実施形態の伝送線路2で接続されるIC部品の性能が向上する。
【符号の説明】
【0047】
1,2 伝送線路
11 基板
12 信号線路パターン(中心導体)
13a,13b グランドパターン(表面接地導体)
14 グランドパターン(裏面接地導体)
15 スルーホール
16 サイドグランドパターン(側面接地導体)
21a,21b,22a,22b グランド導通パターン(端面接地導体)
30,40 MMIC
31a,31b,41a,41b グランド電極
31c,41c 信号電極
32a,32b,32c,42a,42b,42c ボンディングワイヤ