特開2016-189419IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

処理ガスのプラズマ化によって得られた活性種を用いて基板に処理を行う基板処理装置

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】複数の基板を処理容器内に棚状に配置して処理を行うにあたり、基板の面内に均一性高く処理を行うと共にプラズマによる基板のダメージが抑えられる技術を提供すること。
【解決手段】各々処理容器の側壁に沿って、処理容器の外方へ向けて膨らむように縦方向に形成される第1のプラズマ形成室及び第2のプラズマ形成室と、各プラズマ形成室内に配置され、複数の基板の各々に対して処理ガスを供給するための第1のガス供給部及び第2のガス供給部と、処理容器の外側において第1のプラズマ形成室及び第2のプラズマ形成室の間に縦方向に沿って設けられ、各プラズマ形成室内にプラズマを発生させるために両プラズマ形成室に対して共用化された導電体と、を備える装置を構成する。この構成により導電体の長さを短くできると共に基板への活性種の供給量を多くすることができるため、の課題に対応できる。
【選択図】図1

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明はこのような事情においてなされたものであり、その目的は、複数の基板を処理容器内に棚状に配置して一括して処理を行うにあたり、基板の面内に均一性高く処理を行うと共に、プラズマによる基板のダメージが抑えられる技術を提供することである。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の基板処理装置は、複数の基板が棚状に配置される縦型の処理容器と、 前記処理容器内を排気して真空雰囲気を形成するための排気機構と、 各々前記処理容器の側壁に沿って、処理容器の外方へ向けて膨らむように縦方向に形成され、互いに処理容器の周方向に離間して配置された第1のプラズマ形成室及び第2のプラズマ形成室と、 第1のプラズマ形成室及び第2のプラズマ形成室内に夫々配置され、前記複数・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、処理容器の外方へ向けて膨らみ、処理容器の周方向に互いに離れて設けられる第1のプラズマ形成室及び第2のプラズマ形成室と、第1のプラズマ形成室と第2のプラズマ形成室との間に縦方向に沿って設けられ、第1のプラズマ形成室及び第2のプラズマ形成室内にプラズマを発生させるために両プラズマ形成室に対して共用化された導電体と、が設けられている。このような構成によれば、第1のプラズマ形成室、第2のプラズマ形成室で夫々処理ガスの活性種を生成することができるので、基板に供給される活性種の量が不足することを防ぐことができる。その結果として、基板の面内における処理の均一性が低下することを防ぐことができる。また、各プラズマ形成室に対して個別に導電体を設ける場合に比べて、当該導電体の長さを抑えることができるので、導電体の各部の電位差によって異常放電が発生することが抑えられる。その結果として、基板がダメージを受けることを抑えることができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明の縦型熱処理装置の縦断側面図である。

【図2】縦型熱処理装置の横断平面図である。

【図3】縦型熱処理装置に設けられるアンテナの構成を示す概略斜視図である。

【図4】縦型熱処理装置に形成される電界を示す模式図である。

【図5】縦型熱処理装置に形成される電界を示す模式図である。

【図6】縦型熱処理装置におけるガスの給断を示すタイミングチャートである。

【図7】縦型熱処理装置における導電部材の他の配置例を示す説明図である。

【図8】評価試験で用いる比較例の装置の概略構成図である。

【図9】評価試験の結果を示すグラフ図である。

【図10】評価試験の結果を示すグラフ図である。

【図11】評価試験の結果を示すグラフ図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

W ウエハ   1 縦型熱処理装置   11 処理容器   2 マニホールド   3 ウエハボート   4 プラズマ発生部   41、42 プラズマ形成用ボックス   44 蛇行アンテナ   45 棒状導電部材   48 高周波電源   63、64 ガスノズル

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