特開2016-217727IP Force 特許公報全文掲載

ホーム > 特許ランキング > 富士電機株式会社 > 特開2016-217727

技術分野

検査装置及び検査方法

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】物体の欠陥の検査において、欠陥が位置する領域を光で照射しなくても、欠陥を検出することを可能にする。
【解決手段】検査装置は、光学系（光源部１０及び反射部２０）、検出部３０、及び判断部４０を備える。光学系は、物体７０の表面の一部に加熱用の光を照射する。検出部３０は、した一部及びその周囲においてした表面の温度分布を検出する。判断部４０は、した光をした一部に照射したときのした一部及びした周囲における温度分布に基づいて、物体７０の欠陥の有無を判断する。
【選択図】図１

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

特許文献１に記載の方法で物体の欠陥を検出するためには、欠陥が位置する領域を光（具体的には、赤外線）で照射する必要がある。本発明者は、欠陥が位置する領域を光で照射しなくても、欠陥を検出することが可能な方法を検討した。 本発明は事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、物体の欠陥の検査において、欠陥が位置する領域を光で照射しなくても、欠陥を検出することを可能にすることにある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る検査装置は、光学系、検出部、及び判断部を備える。光学系は、物体の表面の一部に加熱用の光を照射する。検出部は、した一部及びその周囲においてした表面の温度分布を検出する。判断部は、した光をした一部に照射したときのした一部及びした周囲における温度分布に基づいて、物体の欠陥の有無を判断する。
【発明の効果】
物体の欠陥の検査において、欠陥が位置する領域を光で照射しなくても、欠陥を検出することを可能にする。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第１の検査装置の構成を示す図である。

【図2】（ａ）は、物体における温度分布の第１例を説明するための図であり、（ｂ）は、物体における温度分布の第２例を説明するための図である。

【図3】物体の表面に照射される光のパターンの第１例を説明するための図である。

【図4】物体の表面に照射される光のパターンの第２例を説明するための図である。

【図5】物体の表面に照射される光のパターンの第３例を説明するための図である。

【図6】物体の表面に照射される光のパターンの第４例を説明するための図である。

【図7】第２の検査装置の構成を示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

１０ 光源部　　 ２０ 反射部　　 ３０ 検出部　　 ４０ 判断部　　 ５２ 反射制御部　　 ５４ 光制御部　　 ６０ 車両　　 ７０ 物体　　 １００ 光源　　 ２００ 反射面　　 ２１２ 第１回転軸　　 ２１４ 第２回転軸　　 ７１０ 照射領域　　 ７１２ 照射領域　　 ７１４ 照射領域　　 ７２０ 欠陥　　 ７２２ 欠陥　　 ７２４ 欠陥

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

［広告欄］

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります

Copyright © Science Impact Inc. All Rights Reserved.