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公報発行日 2016年12月22
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【図1】図1は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリの概略断面図である。
【図2A】図2Aは、例示の実施形態における熱の印加によるマイクロ電子アセンブリの形成を示す。
【図2B】図2Bは、例示の実施形態における熱の印加によるマイクロ電子アセンブリの形成を示す。
【図2C】図2Cは、例示の実施形態における熱の印加によるマイクロ電子アセンブリの分離を示す。
【図3】図3は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリの部分拡大図である。
【図4】図4は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリの概略断面図である。
【図5】図5は、例示の実施形態における屈曲状態のマイクロ電子アセンブリの概略断面図である。
【図6】図6は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリを製造するためのフローチャートである。
【図7】図7は、例示の実施形態における少なくとも1つのマイクロ電子アセンブリを包含する電子装置のブロック図である。
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