特開2016-219846IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

本願の開示は、概して可撓性マイクロ電子アセンブリ及びその関連方法に関するものである。

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】比較的可撓性のない個々の部品の近傍においてもマイクロ電子アセンブリの可撓性を高め得るマイクロ電子アセンブリ及びそれに関連する製造方法を提供する。
【解決手段】本開示は概して基板及び電子部品を含むシステム及び方法に関する。基板は、孔を含む回路基板、ルーティング層及び孔の中に少なくとも部分的に位置する第1の相互接続部を含む。電子部品は第2の相互接続部を含み、第2相互接続部は第1の相互接続部と連結されて、電子部品とルーティング層との間で相互接続が形成される。
【選択図】図1

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

比較的可撓性のない個々の部品の近傍においてもマイクロ電子アセンブリの可撓性を高め得るマイクロ電子アセンブリ及びそれに関連する製造方法を提供する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

マイクロ電子アセンブリは、孔を含む回路基板と、ルーティング層と、前記孔の中に少なくとも部分的に位置する第1の相互接続部とを含む基板;及び第2の相互接続部を含む電子部品;を含み、前記第2の相互接続部は前記第1の相互接続部と連結されて、前記電子部品と前記ルーティング層との間で相互接続が形成される。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】図1は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリの概略断面図である。

【図2A】図2Aは、例示の実施形態における熱の印加によるマイクロ電子アセンブリの形成を示す。

【図2B】図2Bは、例示の実施形態における熱の印加によるマイクロ電子アセンブリの形成を示す。

【図2C】図2Cは、例示の実施形態における熱の印加によるマイクロ電子アセンブリの分離を示す。

【図3】図3は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリの部分拡大図である。

【図4】図4は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリの概略断面図である。

【図5】図5は、例示の実施形態における屈曲状態のマイクロ電子アセンブリの概略断面図である。

【図6】図6は、例示の実施形態におけるマイクロ電子アセンブリを製造するためのフローチャートである。

【図7】図7は、例示の実施形態における少なくとも1つのマイクロ電子アセンブリを包含する電子装置のブロック図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

100、400 マイクロ電子アセンブリ   102 チップパッケージ   104 パッド   106、412 基板   108 プリント基板   110 ルーティング層   112 はんだバンプ   114 孔   116、408 相互接続   118 誘電体   200 相互動作の方向   202 パンチパッド   204 支持板   206 相互動作の方向   300 変性領域   302 非変性領域   402 導電性接着剤   404 第1の部分   406 第2の部分   410 シリコンダイ   700 電子装置   710 電子アセンブリ

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