特開 2016-63353 試験装置及びその校正方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】特開2016-63353(P2016-63353A)

(43)【公開日】2016年4月25日

(54)【発明の名称】試験装置及びその校正方法

(51)【国際特許分類】

   H04B 17/00 20150101AFI20160328BHJP

   H04B 7/04 20060101ALI20160328BHJP

【ＦＩ】

   H04B17/00 D

   H04B7/04

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

【全頁数】27

(21)【出願番号】特願2014-189022(P2014-189022)

(22)【出願日】2014年9月17日

(71)【出願人】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100072604

【弁理士】

【氏名又は名称】有我 軍一郎

(72)【発明者】

【氏名】山下 紘司

(72)【発明者】

【氏名】菅野 博文

(72)【発明者】

【氏名】大谷 暢

(72)【発明者】

【氏名】大嶋 真一郎

【テーマコード（参考）】

5K042

5K159

【Ｆターム（参考）】

5K042AA06

5K042DA16

5K042DA24

5K042FA03

5K042FA18

5K042FA21

5K042JA10

5K042LA11

5K159EE02

(57)【要約】

【課題】校正時間の短縮化を図ることができる試験装置及びその校正方法を提供する。
【解決手段】試験装置１は、信号を発生する信号発生部２０と、被試験装置から信号を受信する信号受信部２３と、増幅器を含む１以上の増幅器経路及び増幅器を含まない１以上のスルー経路のいずれか１つを選択する送信ＦＥ部３０と、入力信号を信号受信部２３側にループバックするループバック経路３ａ及び出力端子３７のいずれか一方に接続される送信ＦＥＬＢ切替部３１と、送信ＦＥＬＢ切替部３１又は入力端子３８からの信号を信号受信部２３に出力する受信ＦＥＬＢ切替部３４と、出力端子３７の信号レベルが校正の送信基準レベルとなっている状態においてループバック経路３ａを介して信号受信部２３が受信した信号レベルに基づいて送信ＦＥ部３０が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出部と、を備える。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

被試験装置（１１）に出力する第１の信号を発生する信号発生手段（２０）と、
前記被試験装置に接続された出力手段（３７）と、
前記信号発生手段と前記出力手段との間に設けられ入出力間において前記第１の信号を増幅する増幅器（３０５）を含む１以上の増幅器経路（３０ａ、３０ｂ）及び前記増幅器を含まない１以上のスルー経路（３０ｃ）のいずれか１つを選択する経路選択手段（３０）と、
前記被試験装置からの第２の信号を入力する入力手段（３８）と、
前記第２の信号を受信する信号受信手段（２３）と、
前記経路選択手段と前記出力手段との間に設けられ前記第１の信号を前記信号受信手段側にループバックするループバック経路（３ａ）及び前記出力手段のいずれか一方に接続される出力側ループバック手段（３１）と、
前記信号受信手段と前記入力手段との間に設けられ前記ループバック経路及び前記入力手段のいずれか一方に接続される入力側ループバック手段（３４）と、
前記経路選択手段が前記スルー経路を選択している際に前記信号発生手段が発生する前記第１の信号の前記出力手段での信号レベルが予め定められた校正の送信基準レベルとなっている状態を示す校正レベル出力状態において前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出手段（６ａ）と、
を備えたことを特徴とする試験装置。

【請求項2】

前記第２の信号を前記被試験装置から入力するとともに前記第１の信号を前記被試験装置に出力する入出力手段（３９）と、
前記入出力手段に接続され前記被試験装置から入力する信号と前記被試験装置に出力する信号とを分波する分波手段（３６）と、
前記出力側ループバック手段と前記出力手段との間に設けられ前記第１の信号を前記出力手段及び前記分波手段のいずれか一方に出力する第１の切替手段（３２）と、
前記入力側ループバック手段と前記入力手段との間に設けられ前記第２の信号を前記入力手段及び前記分波手段のいずれか一方から入力する第２の切替手段（３３）と、
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の試験装置。

【請求項3】

前記信号発生手段は、
信号を発生する信号発生源（２０１）と、
前記信号発生源が発生した信号のレベルを可変するレベル可変手段（２０３）と、
前記レベル可変手段の出力レベルに応じて前記信号発生手段の出力レベルが予め定められた目標レベルになるよう第１の制御信号を前記レベル可変手段に出力する第１の出力制御手段（２０６）と、
前記第１の出力制御手段に第２の制御信号を送出して前記第１の制御信号のレベルを可変する第２の出力調整手段（６ｂ）と、
工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において前記第２の制御信号のレベルを記憶する記憶手段（４）と、
を備え、
前記第２の出力調整手段は、工場出荷後に、前記記憶手段から前記第２の制御信号のレベルを読み出して前記第１の出力制御手段に設定するものであることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の試験装置。

【請求項4】

工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において、前記経路選択手段が１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷時信号レベルを記憶する送信側出荷時信号レベル記憶手段（４）を備え、
前記補正値算出手段は、工場出荷後に、前記校正レベル出力状態において、前記経路選択手段が前記１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷後信号レベルと前記出荷時信号レベルとの差分を前記１つの増幅器を含む増幅器経路のレベル変動を校正するための補正値とするものであることを特徴とする請求項１から請求項３までのいずれか１項に記載の試験装置。

【請求項5】

請求項１に記載の前記経路選択手段を第１の経路選択手段として備え、
前記信号受信手段と前記入力手段との間に設けられ前記第２の信号を増幅する増幅器（３５３）を含む１以上の増幅器経路（３５ａ、３５ｂ）及び前記増幅器を含まない１以上のスルー経路（３５ｃ）のいずれか１つを選択する第２の経路選択手段（３５）を備え、
前記補正値算出手段は、前記校正レベル出力状態において、前記第２の経路選択手段が前記スルー経路を選択し、前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記第２の経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出するものであることを特徴とする請求項１から請求項４までのいずれか１項に記載の試験装置。

【請求項6】

請求項１に記載の前記出力側ループバック手段、前記入力側ループバック手段及び前記ループバック経路をそれぞれ第１の出力側ループバック手段、第１の入力側ループバック手段及び第１のループバック経路として備え、
前記信号発生手段と前記第１の経路選択手段との間に設けられ前記第１の信号を前記信号受信手段側にループバックする第２のループバック経路（２ａ）及び前記第１の経路選択手段のいずれか一方に接続される第２の出力側ループバック手段（２１）と、
前記信号受信手段と前記第２の経路選択手段との間に設けられ前記第２のループバック経路及び前記第２の経路選択手段のいずれか一方に接続される第２の入力側ループバック手段（２２）と、
工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において前記第２のループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルを記憶する記憶手段（４）と、
を備え、
前記補正値算出手段は、工場出荷後に、前記校正レベル出力状態において前記第２のループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した工場出荷後信号レベルと前記記憶手段が記憶した信号レベルとの差分を前記信号発生手段のレベル変動を校正するための補正値とするものであることを特徴とする請求項５に記載の試験装置。

【請求項7】

工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において、前記第２の経路選択手段が１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷時信号レベルを記憶する受信側出荷時信号レベル記憶手段（４）を備え、
前記補正値算出手段は、工場出荷後に、前記校正レベル出力状態において、前記第２の経路選択手段が前記１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷後信号レベルと前記出荷時信号レベルとの差分を前記１つの増幅器を含む増幅器経路のレベル変動を校正するための補正値とするものであることを特徴とする請求項５又は請求項６に記載の試験装置。

【請求項8】

請求項１に記載の試験装置を校正する校正方法であって、
前記経路選択手段に前記スルー経路を設定するステップ（Ｓ１２）と、
前記出力側ループバック手段と前記入力側ループバック手段との間に前記ループバック経路（３ａ）を設定するステップ（Ｓ１５）と、
前記校正レベル出力状態において前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出ステップ（Ｓ１８）と、
を含むことを特徴とする試験装置の校正方法。

【請求項9】

請求項５に記載の試験装置を校正する校正方法であって、
前記第１及び前記第２の経路選択手段に前記スルー経路を設定するステップ（Ｓ３２）と、
前記出力側ループバック手段と前記入力側ループバック手段との間に前記ループバック経路を設定するステップ（Ｓ３５）と、
前記校正レベル出力状態において前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記第２の経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出ステップ（Ｓ３７）と、
を含むことを特徴とする試験装置の校正方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、例えば携帯端末の電気的特性を試験する試験装置及びその校正方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、この種の試験装置としては、特許文献１記載の移動端末試験システムが知られている。特許文献１記載の従来のものは、信号を発生する信号発生部と、この信号発生部と測定対象端末との間の経路を切り替えるインタフェースユニット（ＩＦユニット）と、試験の実施に先立って測定対象端末に代わってＩＦユニットの出力側に接続される校正用パワーメータ及び校正用受信機と、を備えている。

【0003】

この構成により、従来のものは、試験の実施前に、校正用パワーメータ及び校正用受信機を用いてＩＦユニットの出力を経路ごとに測定し、経路損失の校正値を予め求めて校正テーブルに登録することにより、実際の出力信号レベルを補正するようになっている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２００３−１８１０４号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、従来のものは、例えば、単一又は少数のアンテナを有する測定対象端末の試験では比較的容易に校正値を求めることができたが、近年のＣＡ（Carrier Aggregation）やＭＩＭＯ（Multiple Input Multiple Output）技術での試験では膨大な校正時間を要するという課題があった。

【0006】

ＣＡやＭＩＭＯ技術での試験においては、送信信号を合成する合成器や受信信号を分配する分配器が必要となり、合成器や分配器の個数が増加するに応じて信号発生部や信号受信部の個数が増加する。ＣＡやＭＩＭＯ技術での試験における送信側の構成を従来のものに適用すると、従来のＩＦユニットの構成は図１３〜図１５に示すようになる。図１３は２つの信号発生部１１１ａ及び１１１ｂを設けた場合のＩＦユニット１１０の構成、図１４は４つの信号発生部１２１ａ〜１２１ｄを設けた場合のＩＦユニット１２０の構成、図１５は８つの信号発生部１３１ａ〜１３１ｈを設けた場合のＩＦユニット１３０の構成を示す図である。図１３〜図１５に示すように、信号発生部が増加するに従って、ＩＦユニットの構成は複雑化する。

【0007】

図１３〜図１５において、ＩＦユニット１１０、１２０、１３０は、可変減衰器１１２、切替ＳＷ（スイッチ）１１３、合成器１１４、増幅器１１５を備えている。これらの構成を従来のものに適用すれば、信号のレベル損失が大きくなってしまい試験対象機が要求する試験装置の性能が満たせなくなるという問題があった。

【0008】

この問題を解決する従来技術を用いた対策方法としては以下が考えられる。
（１）信号発生部で大電力出力を可能とする。
（２）ＩＦユニットに増幅器を備える。
（３）ＩＦユニットに増幅器を備え、試験装置の出力信号のレベル確度はＩＦユニットにレベル検出部を備えることでＡＬＣ（Auto Level Control：自動レベル制御）を行う。

【0009】

（１）については、信号発生部に大電力を出力させることにより、ＩＦユニットのレベル損失を補うものであるが、このためにはリニアリティ性能の優れた増幅器を備える必要があり、電力、実装面積、放熱及びコスト性が悪く、ＣＡ数やＭＩＭＯアンテナ数の増加に伴って問題はより顕著となる。また、試験装置への入力信号については適用できず、ＩＦユニットのレベル損失分だけ入力信号のＳＮ比が悪化する問題がある。

【0010】

（２）については、ＩＦユニットのレベル損失をＩＦユニットに備えた増幅器により補うものであるが、一般に増幅器は経時変化や温度変化による増幅率の変動が生じてしまうため、出力及び入力のレベル確度が悪化するという問題がある。

【0011】

（３）については、ＩＦユニットのレベル損失を増幅器で補い、（２）で問題となったレベル確度をＩＦユニットにレベル検出部を備えることで解決するものであるが、レベル検出部を備える構成とする必要があり、デバイス実装面積が大きくなったりデバイスコストが増加したりするという問題が生じる。この問題は信号発生部の数に比例して悪化する。

【0012】

以上のように、従来技術では、信号発生部や信号受信部の個数が増加し、信号を伝送する経路が複雑化するＣＡやＭＩＭＯ技術等での試験での校正において、校正時間の短縮化を図ることができないという課題があった。

【0013】

本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、校正時間の短縮化を図ることができる試験装置及びその校正方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0014】

本発明の請求項１に係る試験装置は、被試験装置（１１）に出力する第１の信号を発生する信号発生手段（２０）と、前記被試験装置に接続された出力手段（３７）と、前記信号発生手段と前記出力手段との間に設けられ入出力間において前記第１の信号を増幅する増幅器（３０５）を含む１以上の増幅器経路（３０ａ、３０ｂ）及び前記増幅器を含まない１以上のスルー経路（３０ｃ）のいずれか１つを選択する経路選択手段（３０）と、前記被試験装置からの第２の信号を入力する入力手段（３８）と、前記第２の信号を受信する信号受信手段（２３）と、前記経路選択手段と前記出力手段との間に設けられ前記第１の信号を前記信号受信手段側にループバックするループバック経路（３ａ）及び前記出力手段のいずれか一方に接続される出力側ループバック手段（３１）と、前記信号受信手段と前記入力手段との間に設けられ前記ループバック経路及び前記入力手段のいずれか一方に接続される入力側ループバック手段（３４）と、前記経路選択手段が前記スルー経路を選択している際に前記信号発生手段が発生する前記第１の信号の前記出力手段での信号レベルが予め定められた校正の送信基準レベルとなっている状態を示す校正レベル出力状態において前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出手段（６ａ）と、を備えた構成を有している。

【0015】

この構成により、本発明の請求項１に係る試験装置は、補正値算出手段が、校正レベル出力状態においてループバック経路を介して信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出するので、校正時間の短縮化を図ることができる。

【0016】

本発明の請求項２に係る試験装置は、前記第２の信号を前記被試験装置から入力するとともに前記第１の信号を前記被試験装置に出力する入出力手段（３９）と、前記入出力手段に接続され前記被試験装置から入力する信号と前記被試験装置に出力する信号とを分波する分波手段（３６）と、前記出力側ループバック手段と前記出力手段との間に設けられ前記第１の信号を前記出力手段及び前記分波手段のいずれか一方に出力する第１の切替手段（３２）と、前記入力側ループバック手段と前記入力手段との間に設けられ前記第２の信号を前記入力手段及び前記分波手段のいずれか一方から入力する第２の切替手段（３３）と、を備えた構成を有している。

【0017】

この構成により、本発明の請求項２に係る試験装置は、被試験装置がシンプレクス通信又はデュプレクス通信のいずれの対応機種であっても校正時間の短縮化を図ることができる。

【0018】

本発明の請求項３に係る試験装置は、前記信号発生手段は、信号を発生する信号発生源（２０１）と、前記信号発生源が発生した信号のレベルを可変するレベル可変手段（２０３）と、前記レベル可変手段の出力レベルに応じて前記信号発生手段の出力レベルが予め定められた目標レベルになるよう第１の制御信号を前記レベル可変手段に出力する第１の出力制御手段（２０６）と、前記第１の出力制御手段に第２の制御信号を送出して前記第１の制御信号のレベルを可変する第２の出力調整手段（６ｂ）と、工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において前記第２の制御信号のレベルを記憶する記憶手段と、を備え、前記第２の出力調整手段は、工場出荷後に、前記記憶手段から前記第２の制御信号のレベルを読み出して前記第１の出力制御手段に設定するものである構成を有している。

【0019】

この構成により、本発明の請求項３に係る試験装置は、信号発生手段の出力における経時や温度変化によるレベル変動を校正することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0020】

本発明の請求項４に係る試験装置は、工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において、前記経路選択手段が１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷時信号レベルを記憶する送信側出荷時信号レベル記憶手段（４）を備え、前記補正値算出手段は、工場出荷後に、前記校正レベル出力状態において、前記経路選択手段が前記１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷後信号レベルと前記出荷時信号レベルとの差分を前記１つの増幅器を含む増幅器経路のレベル変動を校正するための補正値とするものである構成を有している。

【0021】

この構成により、本発明の請求項４に係る試験装置は、経路選択手段の増幅器の経時や温度変化によるレベル変動を校正することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0022】

本発明の請求項５に係る試験装置は、請求項１に記載の前記経路選択手段を第１の経路選択手段として備え、前記信号受信手段と前記入力手段との間に設けられ前記第２の信号を増幅する増幅器（３５３）を含む１以上の増幅器経路（３５ａ、３５ｂ）及び前記増幅器を含まない１以上のスルー経路（３５ｃ）のいずれか１つを選択する第２の経路選択手段（３５）を備え、前記補正値算出手段は、前記校正レベル出力状態において、前記第２の経路選択手段が前記スルー経路を選択し、前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記第２の経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出するものである構成を有している。

【0023】

この構成により、本発明の請求項５に係る試験装置は、補正値算出手段が、校正レベル出力状態において、第２の経路選択手段がスルー経路を選択し、ループバック経路を介して信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて第２の経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出するので、校正時間の短縮化を図ることができる。

【0024】

本発明の請求項６に係る試験装置は、請求項１に記載の前記出力側ループバック手段、前記入力側ループバック手段及び前記ループバック経路をそれぞれ第１の出力側ループバック手段、第１の入力側ループバック手段及び第１のループバック経路として備え、前記信号発生手段と前記第１の経路選択手段との間に設けられ前記第１の信号を前記信号受信手段側にループバックする第２のループバック経路（２ａ）及び前記第１の経路選択手段のいずれか一方に接続される第２の出力側ループバック手段（２１）と、前記信号受信手段と前記第２の経路選択手段との間に設けられ前記第２のループバック経路及び前記第２の経路選択手段のいずれか一方に接続される第２の入力側ループバック手段（２２）と、工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において前記第２のループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルを記憶する記憶手段（４）と、を備え、前記補正値算出手段は、工場出荷後に、前記校正レベル出力状態において前記第２のループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した工場出荷後信号レベルと前記記憶手段が記憶した信号レベルとの差分を前記信号発生手段のレベル変動を校正するための補正値とするものである構成を有している。

【0025】

この構成により、本発明の請求項６に係る試験装置は、信号発生手段の出力における経時や温度変化によるレベル変動を校正することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0026】

本発明の請求項７に係る試験装置は、工場出荷時に、前記校正レベル出力状態において、前記第２の経路選択手段が１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷時信号レベルを記憶する受信側出荷時信号レベル記憶手段（４）を備え、前記補正値算出手段は、工場出荷後に、前記校正レベル出力状態において、前記第２の経路選択手段が前記１つの増幅器を含む増幅器経路を選択した場合の前記信号受信手段での出荷後信号レベルと前記出荷時信号レベルとの差分を前記１つの増幅器を含む増幅器経路のレベル変動を校正するための補正値とするものである構成を有している。

【0027】

この構成により、本発明の請求項７に係る試験装置は、第２の経路選択手段の増幅器の経時や温度変化によるレベル変動を校正することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0028】

本発明の請求項８に係る試験装置の校正方法は、請求項１に記載の試験装置を校正する校正方法であって、前記経路選択手段に前記スルー経路を設定するステップ（Ｓ１２）と、前記出力側ループバック手段と前記入力側ループバック手段との間に前記ループバック経路（３ａ）を設定するステップ（Ｓ１５）と、前記校正レベル出力状態において前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出ステップ（Ｓ１８）と、を含む構成を有している。

【0029】

この構成により、本発明の請求項８に係る試験装置の校正方法は、校正レベル出力状態においてループバック経路を介して信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出ステップを含むので、校正時間の短縮化を図ることができる。

【0030】

本発明の請求項９に係る試験装置の校正方法は、請求項５に記載の試験装置を校正する校正方法であって、前記第１及び前記第２の経路選択手段に前記スルー経路を設定するステップ（Ｓ３２）と、前記出力側ループバック手段と前記入力側ループバック手段との間に前記ループバック経路を設定するステップ（Ｓ３５）と、前記校正レベル出力状態において前記ループバック経路を介して前記信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて前記第２の経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出ステップ（Ｓ３７）と、を含む構成を有している。

【0031】

この構成により、本発明の請求項９に係る試験装置の校正方法は、校正レベル出力状態において、第２の経路選択手段がスルー経路を選択し、ループバック経路を介して信号受信手段が受信した信号レベルに基づいて第２の経路選択手段が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出する補正値算出ステップを含むので、校正時間の短縮化を図ることができる。

【発明の効果】

【0032】

本発明は、校正時間の短縮化を図ることができるという効果を有する試験装置及びその校正方法を提供することができるものである。

【図面の簡単な説明】

【0033】

【図1】本発明に係る試験装置の一実施形態におけるブロック構成図である。

【図2】本発明に係る試験装置の一実施形態における送受信部及びＦＥ部のブロック構成図である。

【図3】本発明に係る試験装置の一実施形態における信号発生部のブロック構成図である。

【図4】本発明に係る試験装置の一実施形態における送信ＦＥ部のブロック構成図である。

【図5】本発明に係る試験装置の一実施形態における受信ＦＥ部のブロック構成図である。

【図6】本発明に係る試験装置の一実施形態における工場出荷時校正のメインフローチャートである。

【図7】本発明に係る試験装置の一実施形態におけるＡＬＣオンでの送信系の工場出荷時校正のフローチャートである。

【図8】本発明に係る試験装置の一実施形態におけるＡＬＣオフでの送信系の工場出荷時校正のフローチャートである。

【図9】本発明に係る試験装置の一実施形態における受信系の工場出荷時校正のフローチャートである。

【図10】本発明に係る試験装置の一実施形態における工場出荷後校正のメインフローチャートである。

【図11】本発明に係る試験装置の一実施形態における送信系の工場出荷後校正のフローチャートである。

【図12】本発明に係る試験装置の一実施形態における受信系の工場出荷後校正のフローチャートである。

【図13】従来技術において、２つの信号発生部を設けた場合のＩＦユニットのブロック構成図である。

【図14】従来技術において、４つの信号発生部を設けた場合のＩＦユニットのブロック構成図である。

【図15】従来技術において、８つの信号発生部を設けた場合のＩＦユニットのブロック構成図である。

【発明を実施するための形態】

【0034】

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。

【0035】

［試験装置の構成］
まず、本発明に係る試験装置の一実施形態における構成について説明する。

【0036】

図１に示すように、本実施形態における試験装置１は、送受信部２、ＦＥ（フロントエンド）部３、記憶部４、操作部５、制御装置６、表示部７、入出力端子８を備え、ＤＵＴ（被試験装置）１１を試験するものである。

【0037】

試験装置１は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＲＯＭ（Read Only Memory）と、ＲＡＭ（Random Access Memory）と、各種インタフェースが接続される入出力回路等を備えたマイクロコンピュータを含む。試験装置１は、ＲＯＭに予め格納された制御プログラムを実行させることにより、マイクロコンピュータを、送受信部２、ＦＥ部３、記憶部４、操作部５、制御装置６、表示部７の機能部として機能させるようになっている。なお、送受信部２及びＦＥ部３の構成については後述する。

【0038】

記憶部４は、例えばハードディスクドライブで構成され、送受信部２の校正時に求めた各データを記憶するようになっている。この記憶部４は、記憶手段、送信側出荷時信号レベル記憶手段、受信側出荷時信号レベル記憶手段を構成する。

【0039】

操作部５は、キーボード、ダイヤル又はマウスのような入力デバイス、測定条件等を表示するディスプレイ、これらを制御する制御回路やソフトウェア等で構成され、各試験条件の入力や、表示部７の表示内容の設定等を行うため、試験者が操作するものである。

【0040】

制御装置６は、操作部５からの信号を入力し、送受信部２、ＦＥ部３、記憶部４の動作を制御するようになっている。また、制御装置６は、校正用の補正値を算出する補正値算出手段としての補正値算出部６ａと、第１レベル調整部２０６（後述）の出力レベルを調整する出力調整手段としての出力調整部６ｂと、を備えている。

【0041】

表示部７は、制御装置６からの制御信号に従って、校正時及び試験時の各種データを表示するようになっている。

【0042】

入出力端子８には、ＤＵＴ１１とともに、適宜、パワーメータ１２、スペクトラムアナライザ１３、シグナルジェネレータ１４が接続される。

【0043】

［送受信部２の構成］
次に、送受信部２の構成について図２を用いて説明する。

【0044】

送受信部２は、信号発生手段としての信号発生部２０（２０ａ〜２０ｄ）、第２の出力側ループバック手段としての送信ＬＢ（ループバック）切替部２１、第２の入力側ループバック手段としての受信ＬＢ切替部２２、信号受信手段としての信号受信部２３（２３ａ〜２３ｄ）を備えている。また、送受信部２は、送信ＬＢ切替部２１と受信ＬＢ切替部２２との間にループバック経路２ａを備えている。なお、本実施形態では、信号発生部２０及び信号受信部２３の個数を各４個としているが、本発明はこれに限定されない。

【0045】

信号発生部２０ａは、制御装置６の出力調整部６ｂからの制御信号に基づいて所定の信号（第１の信号）を発生するようになっている。なお、信号発生部２０ｂ〜２０ｄは、信号発生部２０ａと同じ構成であるので説明を省略する。

【0046】

具体的には、図３に示すように、信号発生部２０ａは、信号発生源２０１、送信信号処理部２０２、レベル可変手段としての可変減衰器２０３、増幅器２０４、レベル検出部２０５、第１の出力制御手段としての第１レベル調整部２０６、演算部２０７、第２レベル調整部２０８、切替部２０９、制御レベルモニタ部２１０、出力端子２１１を備えている。この信号発生部２０ａは、出力端子２１１から出力するＲＦ（無線周波数）信号の信号レベルを一定値に自動的に制御するＡＬＣオン状態と、自動的には制御しないＡＬＣオフ状態と、を有する。

【0047】

信号発生源２０１は、試験者が操作部５を操作して入力した情報に基づいて所定の信号を発生し、送信信号処理部２０２に出力するようになっている。

【0048】

送信信号処理部２０２は、例えば、ベースバンド変調部、直交変調器等を備え、ＤＵＴ１１に出力するＲＦ信号を生成するようになっている。

【0049】

可変減衰器２０３は、ＡＬＣオン状態では演算部２０７からの出力信号を、ＡＬＣオフ状態では第２レベル調整部２０８からの出力信号を、それぞれ制御信号として入力し、その制御信号のレベル（電圧）に応じて減衰量が可変されるようになっている。

【0050】

増幅器２０４は、可変減衰器２０３の出力信号レベルを増幅し、レベル検出部２０５及び出力端子２１１に出力するようになっている。

【0051】

レベル検出部２０５は、例えば検波器で構成され、増幅器２０４の出力信号を検波して演算部２０７に出力するようになっている。

【0052】

第１レベル調整部２０６は、例えばＤＡＣ（デジタルアナログ変換器）で構成され、ＡＬＣオン状態において出力調整部６ｂから入力するデジタル値の制御信号に基づいたレベルを有する信号を出力するようになっている。

【0053】

演算部２０７は、レベル検出部２０５の出力信号と第１レベル調整部２０６の出力信号とを加算し、加算結果を示す信号を切替部２０９及び出力調整部６ｂに出力するようになっている。ここで、出力調整部６ｂは、ＡＬＣオン状態において、演算部２０７からの信号に応じて、制御信号により第１レベル調整部２０６の出力信号レベルを増減し、出力端子２１１から出力する信号レベルを目標レベルになるよう制御する。

【0054】

第２レベル調整部２０８は、例えばＤＡＣで構成され、ＡＬＣオフ状態において出力調整部６ｂから入力するデジタル値の制御信号に基づいたレベルを有する信号を出力するようになっている。

【0055】

切替部２０９は、接点２０９ａ及び２０９ｂを有し、ＡＬＣオン状態とＡＬＣオフ状態とを切り替えるものであって、ＡＬＣオン状態では接点２０９ａを選択し、ＡＬＣオフ状態では接点２０９ｂを選択するようになっている。その結果、ＡＬＣオン状態では可変減衰器２０３は演算部２０７の出力信号により減衰量が制御され、ＡＬＣオフ状態では可変減衰器２０３は第２レベル調整部２０８の出力信号により減衰量が制御される。

【0056】

制御レベルモニタ部２１０は、例えばＡＤＣ（アナログデジタル変換器）で構成され、可変減衰器２０３に入力される制御信号のレベルを監視し、そのレベルを示すデジタル値の信号を出力調整部６ｂに出力するようになっている。

【0057】

図２に戻り、送受信部２の構成の説明を続ける。

【0058】

送信ＬＢ切替部２１は、図示しないスイッチを切り替えることによって、信号発生部２０からの信号を送信ＦＥ部３０（後述）又は受信ＬＢ切替部２２（ループバック経路２ａ経由）に出力するようになっている。なお、ループバック経路２ａは、第２のループバック経路を構成する。

【0059】

受信ＬＢ切替部２２は、図示しないスイッチを切り替えることによって、送信ＬＢ切替部２１（ループバック経路２ａ経由）又は受信ＦＥ部３５（後述）からの信号を信号受信部２３に出力するようになっている。

【0060】

前述のように、送受信部２は、送信ＬＢ切替部２１及び受信ＬＢ切替部２２を備えているので、両者の内部スイッチの切り替えにより、信号受信部２３ａ〜２３ｄは、それぞれ、ループバック経路２ａを介し、信号発生部２０ａ〜２０ｄの出力信号を受信することができる。

【0061】

信号受信部２３は、受信ＬＢ切替部２２から入力するＲＦ信号のレベルを測定できるようになっている。また、信号受信部２３は、例えば、直交復調器、ベースバンド復調部等を備え、ＤＵＴ１１からのＲＦ信号（第２の信号）を受信してベースバンド信号に復調するようになっている。

【0062】

［ＦＥ部３の構成］
次に、ＦＥ部３の構成について説明する。ＦＥ部３は、送信ＦＥ部３０、送信ＦＥＬＢ（フロントエンドループバック）切替部３１、第１の切替手段としての送信切替部３２、第２の切替手段としての受信切替部３３、受信ＦＥＬＢ切替部３４、受信ＦＥ部３５、分波手段としての分波器３６、出力手段としての出力端子３７（３７ａ〜３７ｄ）、入力手段としての入力端子３８（３８ａ〜３８ｄ）、入出力手段としての入出力端子３９（３９ａ〜３９ｄ）を備えている。また、ＦＥ部３は、送信ＦＥＬＢ切替部３１と受信ＦＥＬＢ切替部３４との間にループバック経路３ａを備えている。

【0063】

送信ＦＥ部３０は、例えば、図４に示す構成を有する。すなわち、送信ＦＥ部３０は、入力端子３０１（３０１ａ〜３０１ｄ）、可変減衰器３０２（３０２ａ、３０２ｂ）、切替ＳＷ３０３（３０３ａ〜３０３ｎ）、合成器３０４（３０４ａ、３０４ｂ）、増幅器３０５（３０５ａ、３０５ｂ）、出力端子３０７（３０７ａ〜３０７ｄ）を備えている。この送信ＦＥ部３０は、経路選択手段及び第１の経路選択手段を構成する。

【0064】

入力端子３０１ａ〜３０１ｄは、それぞれ、送信ＬＢ切替部２１を介し、信号発生部２０ａ〜２０ｄからの信号を入力するようになっている。

【0065】

可変減衰器３０２ａ及び３０２ｂは、それぞれ、入力端子３０１ａ及び３０１ｂが入力した信号の信号レベルを減衰するようになっている。

【0066】

切替ＳＷ３０３ａ〜３０３ｎは、制御装置６からの制御信号に基づいて経路を切り替えるようになっている。なお、送信ＦＥ部３０内の全ての経路を設定するための情報は、記憶部４に記憶されており、その情報を制御装置が読み出して切替ＳＷ３０３ａ〜３０３ｎを切り替えるようになっている。

【0067】

合成器３０４ａは、入力端子３０１ａ及び３０１ｂが入力した信号を、可変減衰器３０２ａ及び切替ＳＷ３０３ａと、可変減衰器３０２ｂ及び切替ＳＷ３０３ｂと、を介して合成するようになっている。この合成器３０４ａは、例えば通信規格ＬＴＥ（Long Term Evolution）−Ａｄｖａｎｃｅｄにおける周波数広帯域化（ＣＡ：キャリアアグリゲーション）に対応したＤＵＴを試験する際に用いられる。合成器３０４ｂもこれと同様である。

【0068】

増幅器３０５ａ及び３０５ｂは、入力信号を所定増幅率で増幅するようになっている。

【0069】

図４に示すように、送信ＦＥ部３０は、増幅器を含む１以上の増幅器経路と増幅器を含まない１以上のスルー経路とを有し、切替ＳＷ３０３の切り替えにより、複数の経路のうちのいずれか１つを選択するようになっている。

【0070】

増幅器を１つ含む増幅器経路としては、例えば、入力端子３０１ａ〜可変減衰器３０２ａ〜切替ＳＷ３０３ａ〜合成器３０４ａ〜切替ＳＷ３０３ｃ〜増幅器３０５ａ〜切替ＳＷ３０３ｄ〜切替ＳＷ３０３ｇ〜切替ＳＷ３０３ｅ〜切替ＳＷ３０３ｈ〜出力端子３０７ａ（増幅器経路３０ａ）がある。

【0071】

増幅器を２つ含む増幅器経路としては、例えば、前述の増幅器を１つ含む増幅器経路の切替ＳＷ３０３ｇを切り替えて、切替ＳＷ３０３ｇ〜合成器３０４ｂ〜切替ＳＷ３０３ｉ〜増幅器３０５ｂ〜切替ＳＷ３０３ｊ〜切替ＳＷ３０３ｍ〜切替ＳＷ３０３ｈ〜出力端子３０７ａ（増幅器経路３０ｂ）がある。

【0072】

増幅器を含まないスルー経路としては、例えば、入力端子３０１ａ〜可変減衰器３０２ａ〜切替ＳＷ３０３ａ〜切替ＳＷ３０３ｅ〜切替ＳＷ３０３ｈ〜出力端子３０７ａ（スルー経路３０ｃ）がある。

【0073】

なお、説明を省略するが、図４を参照すれば、切替ＳＷ３０３の切り替えによって、入力端子３０１ｂと出力端子３０７ｂとの間、入力端子３０１ｃと出力端子３０７ｃとの間、入力端子３０１ｄと出力端子３０７ｄとの間にも、それぞれ、増幅器を１つ又は２つ含む増幅器経路やスルー経路が設定できることがわかる。

【0074】

図２に戻り、送信ＦＥＬＢ切替部３１は、図示しないスイッチを切り替えることによって、送信ＦＥ部３０からの信号を送信切替部３２又は受信ＦＥＬＢ切替部３４（ループバック経路３ａ経由）に出力するようになっている。この送信ＦＥＬＢ切替部３１は、出力側ループバック手段及び第１の出力側ループバック手段を構成する。また、ループバック経路３ａは、第１のループバック経路を構成する。

【0075】

送信切替部３２は、図示しないスイッチを切り替えることによって、送信ＦＥＬＢ切替部３１からの信号を出力端子３７又は分波器３６に出力するようになっている。ここで、送信切替部３２は、ＤＵＴ１１がシンプレクス（片方向）通信の対応機種であれば、送信ＦＥＬＢ切替部３１からの信号を出力端子３７に出力し、ＤＵＴ１１がデュプレクス（双方向）通信の対応機種であれば、送信ＦＥＬＢ切替部３１からの信号を分波器３６経由で入出力端子３９に出力する。

【0076】

受信切替部３３は、図示しないスイッチを切り替えることによって、分波器３６又は入力端子３８からの信号を受信ＦＥＬＢ切替部３４に出力するようになっている。ここで、受信切替部３３は、ＤＵＴ１１がシンプレクス通信の対応機種であれば、入力端子３８からの信号を受信ＦＥＬＢ切替部３４に出力し、ＤＵＴ１１がデュプレクス通信の対応機種であれば、入出力端子３９からの信号を分波器３６経由で受信ＦＥＬＢ切替部３４に出力する。

【0077】

受信ＦＥＬＢ切替部３４は、図示しないスイッチを切り替えることによって、送信ＦＥＬＢ切替部３１（ループバック経路３ａ経由）又は受信切替部３３からの信号を受信ＦＥ部３５に出力するようになっている。この受信ＦＥＬＢ切替部３４は、入力側ループバック手段及び第１の入力側ループバック手段を構成する。

【0078】

受信ＦＥ部３５は、例えば、図５に示す構成を有する。すなわち、受信ＦＥ部３５は、入力端子３５１（３５１ａ〜３５１ｄ）、切替ＳＷ３５２（３５２ａ〜３５２ｉ）、増幅器３５３（３５３ａ、３５３ｂ）、分配器３５４（３５４ａ）、出力端子３５５（３５５ａ〜３５５ｄ）を備えている。この受信ＦＥ部３５は、第２の経路選択手段を構成する。

【0079】

入力端子３５１ａ〜３５１ｄは、それぞれ、信号発生部２０ａ〜２０ｄ又は入力端子３８ａ〜３８ｄからの信号を入力するようになっている。

【0080】

切替ＳＷ３５２ａ〜３５２ｉは、制御装置６からの制御信号に基づいて経路を切り替えるようになっている。なお、受信ＦＥ部３５内の全ての経路を設定するための情報は、記憶部４に記憶されており、その情報を制御装置が読み出して切替ＳＷ３５２ａ〜３５２ｉを切り替えるようになっている。

【0081】

分配器３５４ａは、入力信号を２つに分配するようになっている。この分配器３５４ａは、例えば通信規格ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄにおける周波数広帯域化に対応したＤＵＴを試験する際に用いられる。

【0082】

増幅器３５３ａ及び３５３ｂは、入力信号を所定増幅率で増幅するようになっている。

【0083】

図５に示すように、受信ＦＥ部３５は、増幅器を含む１以上の増幅器経路と増幅器を含まない１以上のスルー経路とを有し、切替ＳＷ３５２の切り替えにより、複数の経路のうちのいずれか１つを選択するようになっている。

【0084】

増幅器を１つ含む増幅器経路としては、例えば、入力端子３５１ａ〜切替ＳＷ３５２ａ〜増幅器３５３ａ〜切替ＳＷ３５２ｂ〜切替ＳＷ３５２ｃ〜切替ＳＷ３５２ｄ〜切替ＳＷ３５２ｈ〜出力端子３５５ａ（増幅器経路３５ａ）がある。

【0085】

増幅器を２つ含む増幅器経路としては、例えば、前述の増幅器を１つ含む増幅器経路の切替ＳＷ３５２ｄを切り替えて、切替ＳＷ３５２ｄ〜切替ＳＷ３５２ｅ〜切替ＳＷ３５２ｆ〜増幅器３５３ｂ〜切替ＳＷ３５２ｇ〜分配器３５４ａ〜切替ＳＷ３５２ｈ〜出力端子３５５ａ（増幅器経路３５ｂ）がある。

【0086】

増幅器を含まないスルー経路としては、入力端子３５１ａ〜切替ＳＷ３５２ａ〜切替ＳＷ３５２ｂ〜切替ＳＷ３５２ｃ〜切替ＳＷ３５２ｄ〜切替ＳＷ３５２ｈ〜出力端子３５５ａ（スルー経路３５ｃ）がある。

【0087】

なお、説明を省略するが、図５を参照すれば、切替ＳＷ３５２の切り替えによって、入力端子３５１ｂと出力端子３５５ｂとの間、入力端子３５１ｃと出力端子３５５ｃとの間、入力端子３５１ｄと出力端子３５５ｄとの間にも、それぞれ、増幅器を１つ又は２つ含む増幅器経路やスルー経路が設定できることがわかる。

【0088】

図２に戻り、分波器３６は、ＤＵＴ１１がデュプレクス通信の対応機種である場合に用いられるもので、入出力端子３９に接続され、ＤＵＴ１１から入力する信号とＤＵＴ１１に出力する信号とを分波するようになっている。

【0089】

出力端子３７、入力端子３８及び入出力端子３９のうちのいずれか１つは、制御装置６の制御により切り替えられて入出力端子８（図１参照）に接続されるようになっている。

【0090】

なお、図２においては、送受信部２と送信ＦＥ部３とを分離した構成を説明したが、これらを合体させた構成としてもよい。

【0091】

［試験装置１の動作］
次に、本実施形態における試験装置１の動作について図６〜図１２を用いて説明する。なお、以下の説明において、ループバック経路３ａを第１のループバック経路３ａと呼び、ループバック経路２ａを第２のループバック経路２ａと呼ぶ。

【0092】

［試験装置１の工場出荷時校正］
図６は、試験装置１の工場出荷時校正のメインフローチャートである。図６に示すように、試験装置１は、ＡＬＣオンでの送信系の工場出荷時校正（ステップＳ１）と、ＡＬＣオフでの送信系の工場出荷時校正（ステップＳ２）と、受信系の工場出荷時校正（ステップＳ３）とが実行される。

【0093】

［送信系の工場出荷時校正］
図７は、図６に示したステップＳ１で実行されるＡＬＣオンでの送信系の工場出荷時校正のフローチャートである。なお、初期状態では、送信ＬＢ切替部２１が送信ＦＥ部３０側に接続され、送信ＦＥＬＢ切替部３１が送信切替部３２側に接続され、送信切替部３２が出力端子３７側に接続されているものとする。

【0094】

試験装置１の入出力端子８にパワーメータ１２を接続し、制御装置６は、切替部２０９に接点２０９ａを選択させてＡＬＣオン状態にする（ステップＳ１１）。

【0095】

制御装置６は、送信ＦＥ部３０内の経路を、増幅器を含まないスルー経路に設定する(ステップＳ１２)。具体的には、図４において、例えば、信号発生部２０ａの出力信号が伝送される経路では、入力端子３０１ａ〜可変減衰器３０２ａ〜切替ＳＷ３０３ａ〜切替ＳＷ３０３ｅ〜切替ＳＷ３０３ｈ〜出力端子３０７ａのスルー経路３０ｃが形成できるよう制御装置６が該当する切替ＳＷを切り替える。信号発生部２０ｂ〜２０ｄも信号発生部２０ａと同様に設定される。

【0096】

制御装置６は、信号発生部２０の信号発生源２０１に信号を発生させ、出力端子３７の測定レベルが予め定められた校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）となるよう第１レベル調整部２０６にて可変減衰器２０３の減衰量を追い込みながら調整する。なお、出力端子３７の測定レベルが校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）となった状態が本発明に係る校正レベル出力状態である。

【0097】

制御装置６は、出力端子３７の測定レベルが校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）となったときの、第１レベル調整部２０６に対する設定値（TX_ALC_ONDAC）のデータを記憶部４に記憶する(ステップＳ１３)。

【0098】

制御レベルモニタ部２１０は、出力端子３７の測定レベルが校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）となったときの可変減衰器２０３の制御レベルを読み取り、そのデータを制御装置６に送出する。制御装置６は、その時の可変減衰器２０３の制御レベル（TX_ALC_OFFDAC）のデータを記憶部４に記憶する（ステップＳ１４）。なお、以下のステップＳ１５〜Ｓ１９は、出力端子３７の測定レベルが校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）となった状態での信号発生部２０の出力信号を用いた処理である。

【0099】

制御装置６は、送信ＦＥＬＢ切替部３１及び受信ＦＥＬＢ切替部３４に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＦＥＬＢ切替部３１の出力側が受信ＦＥＬＢ切替部３４になるよう、また受信ＦＥＬＢ切替部３４の入力側が送信ＦＥＬＢ切替部３１になるよう第１のループバック経路３ａを設定する（ステップＳ１５）。

【0100】

制御装置６は、受信ＦＥ部３５内の経路を、増幅器を含まないスルー経路に設定する(ステップＳ１６)。具体的には、図５において、例えば、信号発生部２０ａの出力信号が伝送される経路では、入力端子３５１ａ〜切替ＳＷ３５２ａ〜切替ＳＷ３５２ｂ〜切替ＳＷ３５２ｃ〜切替ＳＷ３５２ｄ〜切替ＳＷ３５２ｈ〜出力端子３５５ａのスルー経路３５ｃが形成できるよう制御装置６が該当する切替ＳＷを切り替える。信号発生部２０ｂ〜２０ｄに関する経路も信号発生部２０ａと同様に設定される。

【0101】

信号受信部２３は、受信レベル（TX_FELB_LEV）を測定する。この受信レベル（TX_FELB_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ１７）。

【0102】

制御装置６は、送信ＦＥ部３０に含まれる各切替ＳＷを適宜切り替え、信号受信部２３は、送信ＦＥ部３０の経路ごとの受信レベルを測定し、それらと受信レベル（TX_FELB_LEV）との測定レベル差（ΔTX_FELBx_LEV）を算出する。ここで、ｘは経路ごとに予め設定された識別番号を示し、経路がｋとおりあればｘ＝１〜ｋである。この測定レベル差（ΔTX_FELBx_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ１８）。記憶された測定レベル差（ΔTX_FELBx_LEV）のデータを用いて送信ＦＥ部３０の経路ごとの補正を行えば、試験装置１の入出力端子８における校正となる。すなわち、測定レベル差（ΔTX_FELBx_LEV）は送信ＦＥ部３０が有する各経路の損失差を校正するための補正値である。

【0103】

制御装置６は、送信ＦＥ部３０に含まれる各切替ＳＷを適宜切り替え、１つの増幅器３０５のみを通る増幅器経路を順次設定する。具体的には、図４において、例えば、信号発生部２０ａの出力信号が伝送される経路では、入力端子３０１ａ〜可変減衰器３０２ａ〜切替ＳＷ３０３ａ〜合成器３０４ａ〜切替ＳＷ３０３ｃ〜増幅器３０５ａ〜切替ＳＷ３０３ｄ〜切替ＳＷ３０３ｇ〜切替ＳＷ３０３ｅ〜切替ＳＷ３０３ｈ〜出力端子３０７ａの増幅器経路３０ａが形成できるよう制御装置６が該当する切替ＳＷを切り替える。

【0104】

信号受信部２３は、順次、１つの増幅器３０５のみを通る増幅器経路ごとに、受信レベル（TX_AMPn_LEV）を測定する。ここで、ｎは増幅器ごとに予め設定された識別番号を示し、図４に示した構成の場合では、増幅器は３個なのでｎ＝１〜３である。この受信レベル（TX_AMPn_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される(ステップＳ１９)。記憶された受信レベル（TX_AMPn_LEV）のデータは、増幅器３０５及び温度変動によるレベル変動を補正する際の基準値となる。

【0105】

図８は、図６に示したステップＳ２で実行されるＡＬＣオフでの送信系の工場出荷時校正のフローチャートである。

【0106】

試験装置１の入出力端子８にはスペクトラムアナライザ１３を接続し、制御装置６は、切替部２０９に接点２０９ｂを選択させてＡＬＣオフ状態にする（ステップＳ２１）。

【0107】

制御装置６は、送信ＦＥ部３０内の経路を、増幅器を含まないスルー経路に設定する(ステップＳ２２)。

【0108】

制御装置６は、出力端子３７の測定レベルが校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）であるときの、スペクトラムアナライザ１３の測定レベル（SPA_REF_LEV）を測定する(ステップＳ２３)。

【0109】

制御装置６は、第２レベル調整部２０８の調整可能範囲の下限から上限までを所定ビット単位で動作させる制御信号をそのレベルを変更しながら第２レベル調整部２０８に出力したときの出力端子３７の測定レベルと、測定レベル（SPA_REF_LEV）とのレベル差（ΔSPA_REF_LEV）を算出して記憶部４に記憶する（ステップＳ２４）。ここで、所定ビット単位としては、１ビット単位でもよいし、例えば１０ビット単位で簡易化した測定を行った後で測定レベルを補間して１ビット単位の結果を得ることもできる。

【0110】

制御装置６は、ステップＳ２４で測定したデータにより、出力端子３７における出力レベルの変化（Δ出力レベル）に対する第２レベル調整部２０８への制御信号のレベルの変化を示すテーブル（OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC,Δ出力レベル)）を作成する（ステップＳ２５）。

【0111】

試験装置１の入出力端子８に、スペクトラムアナライザ１３に代えてパワーメータ１２を接続する（ステップＳ２６）。

【0112】

制御装置６は、送信ＦＥ部３０内の経路を、増幅器を含まないスルー経路に設定する。次いで、制御装置６は、送信切替部３２の出力信号が出力端子３７側になるよう送信切替部３２に含まれる切替ＳＷを設定し、入出力端子８での信号レベル（TX_SPX）をパワーメータ１２により測定する。

【0113】

制御装置６は、送信切替部３２の出力信号が分波器３６側になるよう送信切替部３２に含まれる切替ＳＷを設定し、入出力端子３９を経由して入出力端子８から出力される信号レベル（TX_DPX）をパワーメータ１２により測定する。

【0114】

制御装置６は、信号レベル（TX_SPX）と信号レベル（TX_DPX）とのレベル差（ΔTX_SPX_DPX）を算出して記憶部４に記憶する（ステップＳ２７）。

【0115】

［受信系の工場出荷時校正］
図９は、図６に示したステップＳ３で実行される受信系の工場出荷時校正のフローチャートである。なお、初期状態は、受信ＬＢ切替部２２が受信ＦＥ部３５側に接続され、受信ＦＥＬＢ切替部３４が受信切替部３３側に接続され、受信切替部３３が入力端子３８側に接続されているものとする。

【0116】

試験装置１の入出力端子８にパワーメータ１２を接続し、制御装置６は、切替部２０９に接点２０９ａを選択させてＡＬＣオン状態にする（ステップＳ３１）。

【0117】

制御装置６は、送信ＦＥ部３０内の経路及び受信ＦＥ部３５内の経路を、増幅器を含まないスルー経路に設定する(ステップＳ３２)。

【0118】

制御装置６は、信号発生部２０の信号発生源２０１に信号を発生させ、出力端子３７の測定レベルが予め定められた校正の送信基準レベル（TX_BASE_LEV）となるよう第１レベル調整部２０６にて可変減衰器２０３の減衰量を追い込みながら調整する。

【0119】

制御装置６は、送信ＬＢ切替部２１及び受信ＬＢ切替部２２に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＬＢ切替部２１の出力側が受信ＬＢ切替部２２になるよう、また受信ＬＢ切替部２２の入力側が送信ＬＢ切替部２１になるよう第２のループバック経路２ａを設定する（ステップＳ３３）。

【0120】

信号受信部２３は、受信レベル（RX_ALC_LEV）を測定する。この受信レベル（RX_ALC_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ３４）。

【0121】

制御装置６は、第２のループバック経路２ａの設定を解除し、第１のループバック経路３ａを設定する（ステップＳ３５）。すなわち、制御装置６は、送信ＬＢ切替部２１及び受信ＬＢ切替部２２に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＬＢ切替部２１の出力側が送信ＦＥ部３０になるよう、また受信ＬＢ切替部２２の入力側が受信ＦＥ部３５になるよう設定することにより第２のループバック経路２ａの設定を解除する。また、制御装置６は、送信ＦＥＬＢ切替部３１及び受信ＦＥＬＢ切替部３４に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＦＥＬＢ切替部３１の出力側が受信ＦＥＬＢ切替部３４になるよう、また受信ＦＥＬＢ切替部３４の入力側が送信ＦＥＬＢ切替部３１になるよう第１のループバック経路３ａを設定する。

【0122】

信号受信部２３は、受信レベル（RX_FELB_LEV）を測定し、この受信レベル（RX_FELB_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ３６）。

【0123】

制御装置６は、受信ＦＥ部３５に含まれる各切替ＳＷを適宜切り替え、信号受信部２３は、受信ＦＥ部３５の経路ごとの受信レベルを測定し、それらと受信レベル（RX_FELB_LEV）との測定レベル差（ΔRX_FELBx_LEV）を算出する。ここで、ｘは経路ごとに予め設定された識別番号を示し、経路がｋとおりあればｘ＝１〜ｋである。この測定レベル差（ΔRX_FELBx_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ３７）。

【0124】

信号受信部２３は、順次、１つの増幅器３５３のみを通る増幅器経路ごとに、受信レベル（RX_AMPn_LEV）を測定する。ここで、ｎは増幅器ごとに予め設定された識別番号を示し、図５に示した構成の場合では、増幅器は７個なのでｎ＝１〜７である。この受信レベル（RX_AMPn_LEV）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される(ステップＳ３８)。

【0125】

試験装置１の入出力端子８にシグナルジェネレータ１４を接続し、制御装置６は、入出力端子８と入力端子３８とを接続して入力端子３８から信号入力する状態に設定する（ステップＳ３９）。シグナルジェネレータ１４の出力レベルは、出力レベル（RX_BASE_LEV）とする。

【0126】

制御装置６は、受信ＦＥ部３５内の経路を、増幅器を含まないスルー経路に設定する(ステップＳ４０)。

【0127】

信号受信部２３は、受信レベル（RX_BASE_LEV_SPX）を測定する。この受信レベル（RX_BASE_LEV_SPX）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ４１）。

【0128】

制御装置６は、受信切替部３３の入力信号が分波器３６側になるよう受信切替部３３に含まれる切替ＳＷを設定し（ステップＳ４２）、シグナルジェネレータ１４からの信号を入出力端子８経由で入出力端子３９から入力するよう設定する（ステップＳ４３）。

【0129】

信号受信部２３は、受信レベル（RX_BASE_LEV_DPX）を測定する。この受信レベル（RX_BASE_LEV_DPX）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ４４）。

【0130】

［試験装置１の工場出荷後校正］
次に、ユーザが実施する試験装置１の工場出荷後校正について、図１０〜図１２を用いて説明する。

【0131】

図１０は、試験装置１の工場出荷後校正のメインフローチャートである。図１０に示すように、試験装置１は、送信系の工場出荷後校正（ステップＳ４）と、受信系の工場出荷後校正（ステップＳ５）と、を行う。

【0132】

［送信系の工場出荷後校正］
図１１は、図１０に示したステップＳ４で実行される送信系の工場出荷後校正のフローチャートである。なお、初期状態は、送信ＬＢ切替部２１が送信ＦＥ部３０側に接続され、送信ＦＥＬＢ切替部３１が送信切替部３２側に接続され、送信切替部３２が出力端子３７側に接続されているものとする。

【0133】

制御装置６の出力調整部６ｂは、切替部２０９に接点２０９ａを選択させてＡＬＣオン状態にする（ステップＳ５１）。

【0134】

出力調整部６ｂは、設定値（TX_ALC_ONDAC）のデータを記憶部４から読み出す（ステップＳ５２）。

【0135】

出力調整部６ｂは、読み出した設定値（TX_ALC_ONDAC）のデータを第１レベル調整部２０６に設定する（ステップＳ５３）。

【0136】

制御レベルモニタ部２１０は、可変減衰器２０３の制御レベルを読み取り、そのデータを出力調整部６ｂに送出する。出力調整部６ｂは、その時の可変減衰器２０３の制御レベル（TX_ALC_OFFDAC）のデータを記憶部４に記憶する（ステップＳ５４）。これにより、信号発生部２０の出力端子２１１における経時や温度変化によるレベル変動を補正（校正）することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0137】

信号受信部２３は、順次、１つの増幅器３０５のみを通る増幅器経路ごとに、受信レベル（TX_AMPn_LEV2）を測定する。この受信レベル（TX_AMPn_LEV2）のデータは、出力調整部６ｂによって記憶部４に記憶される(ステップＳ５５)。

【0138】

制御装置６の補正値算出部６ａは、受信レベル（TX_AMPn_LEV）及び受信レベル（TX_AMPn_LEV2）のデータを記憶部４から読み出し、両者の差分（ΔTX_AMPn_LEV）を算出して記憶部４に記憶する（ステップＳ５６）。これが補正値となり、これにより、送信ＦＥ部３０の増幅器の経時や温度変化によるレベル変動を補正（校正）することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0139】

［受信系の工場出荷後校正］
図１２は、図１０に示したステップＳ５で実行される受信系の工場出荷後校正のフローチャートである。なお、初期状態は、受信ＬＢ切替部２２が受信ＦＥ部３５側に接続され、受信ＦＥＬＢ切替部３４が受信切替部３３側に接続され、受信切替部３３が入力端子３８側に接続されているものとする。

【0140】

制御装置６は、切替部２０９に接点２０９ａを選択させてＡＬＣオン状態にする（ステップＳ６１）。

【0141】

制御装置６は、送信ＬＢ切替部２１及び受信ＬＢ切替部２２に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＬＢ切替部２１の出力側が受信ＬＢ切替部２２になるよう、また受信ＬＢ切替部２２の入力側が送信ＬＢ切替部２１になるよう第２のループバック経路２ａを設定する（ステップＳ６２）。

【0142】

信号受信部２３は、受信レベル（RX_ALC_LEV2）を測定する。この受信レベル（RX_ALC_LEV2）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される（ステップＳ６３）。

【0143】

制御装置６の補正値算出部６ａは、受信レベル（RX_ALC_LEV）及び受信レベル（RX_ALC_LEV2）のデータを記憶部４から読み出し、両者の差分（ΔRX_ALC_LEV）を算出して記憶部４に記憶する（ステップＳ６４）。これが補正値となり、これにより、信号受信部２３の経時や温度変化によるレベル変動を補正（校正）することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0144】

制御装置６は、第２のループバック経路２ａの設定を解除し、第１のループバック経路３ａを設定する（ステップＳ６５）。すなわち、制御装置６は、送信ＬＢ切替部２１及び受信ＬＢ切替部２２に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＬＢ切替部２１の出力側が送信ＦＥ部３０になるよう、また受信ＬＢ切替部２２の入力側が受信ＦＥ部３５になるよう設定することにより第２のループバック経路２ａの設定を解除する。また、制御装置６は、送信ＦＥＬＢ切替部３１及び受信ＦＥＬＢ切替部３４に含まれる各切替ＳＷを切り替えて、送信ＦＥＬＢ切替部３１の出力側が受信ＦＥＬＢ切替部３４になるよう、また受信ＦＥＬＢ切替部３４の入力側が送信ＦＥＬＢ切替部３１になるよう第１のループバック経路３ａを設定する。

【0145】

信号受信部２３は、順次、１つの増幅器３５３のみを通る増幅器経路ごとに、受信レベル（RX_AMPn_LEV2）を測定する。この受信レベル（RX_AMPn_LEV2）のデータは、制御装置６によって記憶部４に記憶される(ステップＳ６６)。

【0146】

制御装置６の補正値算出部６ａは、受信レベル（RX_AMPn_LEV）及び受信レベル（RX_AMPn_LEV2）のデータを記憶部４から読み出し、両者の差分（ΔRX_AMPn_LEV）を算出して記憶部４に記憶する（ステップＳ６７）。これが補正値となり、これにより、受信ＦＥ部３５の増幅器の経時や温度変化によるレベル変動を補正（校正）することができ、工場出荷時と同等の信号レベルが得られることとなる。

【0147】

［送信系及び受信系の補正値］
試験装置１は、前述の各校正時に求めた補正値を適用して試験を実施する。以下、送信系及び受信系の補正値を整理する。

【0148】

［送信系の補正値］
以下、出力端子３７を用いて信号をＤＵＴ１１に出力することをＳＰＸで表し、入出力端子３９を用いて信号をＤＵＴ１１に出力することをＤＰＸで表す。

【0149】

校正の基準経路であるＳＰＸスルー経路（送信ＦＥ部３０がスルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0150】

［数１］
CMP=TX_ALC_OFFDAC

【0151】

ＳＰＸ合成器経路（送信ＦＥ部３０の増幅器スルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0152】

［数２］
CMP=TX_ALC_OFFDAC＋OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC, ΔTX_FELBx_LEV)

【0153】

ＳＰＸ合成器経路と増幅器経路とを組み合わせた経路での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0154】

［数３］
CMP=TX_ALC_OFFDAC＋OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC, ΔLEV)
ただし、ΔLEV＝ΔTX_FELBx_LEV＋ΔTX_AMPn_LEV

【0155】

ＤＰＸスルー経路（送信ＦＥ部３０がスルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0156】

［数４］
CMP=TX_ALC_OFFDAC＋OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC, ΔTX_SPX_DPX)

【0157】

ＤＰＸ合成器経路（送信ＦＥ部３０の増幅器スルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0158】

［数５］
CMP=TX_ALC_OFFDAC＋OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC, ΔLEV)
ただし、ΔLEV＝ΔTX_FELBx_LEV＋ΔTX_SPX_DPX

【0159】

ＤＰＸ合成器経路と増幅器経路とを組み合わせた経路での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0160】

［数６］
CMP=TX_ALC_OFFDAC＋OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC, ΔLEV)
ただし、ΔLEV＝ΔTX_FELBx_LEV＋ΔTX_AMPn_LEV＋ΔTX_SPX_DPX

【0161】

［受信系の補正値］
以下、入力端子３８を用いてＤＵＴ１１から信号を入力することをＳＰＸで表し、入出力端子３９を用いてＤＵＴ１１から信号を入力することをＤＰＸで表す。

【0162】

まず、受信系の補正値を次式で定義する。

【0163】

［数７］
補正値[dBFS]＝基準レベル測定値[dBFS]＋経時・温度変化による測定値差[dBFS]＋経路による測定値差[dBFS]

【0164】

ＳＰＸスルー経路（受信ＦＥ部３５がスルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0165】

［数８］
CMP=RX_BASE_LEV_SPX＋RX_ALC_LEV−RX_ALC_LEV2

【0166】

ＳＰＸ分配器経路（受信ＦＥ部３５の増幅器スルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0167】

［数９］
CMP=RX_BASE_LEV_SPX＋RX_ALC_LEV−RX_ALC_LEV2＋ΔRX_FELBx_LEV

【0168】

ＳＰＸ分配器経路と増幅器経路とを組み合わせた経路での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0169】

［数１０］
CMP=RX_BASE_LEV_SPX＋RX_ALC_LEV−RX_ALC_LEV2＋ΔRX_FELBx_LEV＋ΔRX_AMPn_LEV

【0170】

ＤＰＸスルー経路（受信ＦＥ部３５がスルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0171】

［数１１］
CMP=RX_BASE_LEV_DPX＋RX_ALC_LEV−RX_ALC_LEV2

【0172】

ＤＰＸ分配器経路（受信ＦＥ部３５の増幅器スルー経路）での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0173】

［数１２］
CMP=RX_BASE_LEV_DPX＋RX_ALC_LEV−RX_ALC_LEV2＋ΔRX_FELBx_LEV

【0174】

ＤＰＸ合成器経路と増幅器経路とを組み合わせた経路での補正値ＣＭＰは次式で示される。

【0175】

［数１３］
CMP=RX_BASE_LEV_SPX＋RX_ALC_LEV−RX_ALC_LEV2＋ΔRX_FELBx_LEV＋ΔRX_AMPn_LEV

【0176】

以上のように、本実施形態における試験装置１は、校正レベル出力状態において第１のループバック経路３ａを介して信号受信部２３が受信した信号レベルに基づいて送信ＬＢＦＥ部３０が有する各経路の損失を校正するための補正値を算出するので、校正時間の短縮化を図ることができる。

【0177】

なお、前述の実施形態のステップＳ１９、ステップＳ３８、ステップＳ５５、ステップＳ６６において、１つの増幅器のみを通る経路でスルー経路との差分を求めて補正値としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、試験装置１に精密なレベル確度が要求されない場合は、もっとも多くの増幅器を通る経路（図４に示した構成では３個の増幅器を経由する経路）での特性の差分を平均化して補正値とすることで、前述の手順は簡略化可能で校正にかかる時間を短縮できる。

【産業上の利用可能性】

【0178】

以上のように、本発明に係る試験装置及びその校正方法は、校正時間の短縮化を図ることができるという効果を有し、携帯端末の電気的特性を試験する試験装置及びその校正方法として有用である。

【符号の説明】

【0179】

１ 試験装置
２ａ 第２のループバック経路
３ａ 第１のループバック経路
４ 記憶部（記憶手段、送信側出荷時信号レベル記憶手段、受信側出荷時信号レベル記憶手段）
６ａ 補正値算出部（補正値算出手段）
６ｂ 出力調整部（第２の出力調整手段）
１１ ＤＵＴ（被試験装置）
１２ パワーメータ
１３ スペクトラムアナライザ
１４ シグナルジェネレータ
２０（２０ａ〜２０ｄ） 信号発生部（信号発生手段）
２１ 送信ＬＢ切替部（第２の出力側ループバック手段）
２２ 受信ＬＢ切替部（第２の入力側ループバック手段）
２３（２３ａ〜２３ｄ） 信号受信部（信号受信手段）
３０ 送信ＦＥ部（経路選択手段、第１の経路選択手段）
３０ａ、３５ａ 増幅器経路
３０ｂ、３５ｂ 増幅器経路
３０ｃ、３５ｃ スルー経路
３１ 送信ＦＥＬＢ切替部（出力側ループバック手段）
３２ 送信切替部（第１の切替手段）
３３ 受信切替部（第２の切替手段）
３４ 受信ＦＥＬＢ切替部（入力側ループバック手段）
３５ 受信ＦＥ部（第２の経路選択手段）
３６ 分波器（分波手段）
３７ 出力端子（出力手段）
３８（３８ａ〜３８ｄ） 入力端子（入力手段）
３９ 入出力端子（入出力手段）
２０１ 信号発生源
２０３ 可変減衰器（レベル可変手段）
２０６ 第１レベル調整部（第１の出力制御手段）
３０５、３５３ 増幅器

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】