特開2016-76261セキュアテストモードを有するメモリデバイスとその方法

発明の名称　セキュアテストモードを有するメモリデバイスとその方法

出願人　華邦電子股▲ふん▼有限公司　（識別番号 595039162）

　　　　特許公開件数ランキング 12172 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 10138 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2016-76261

公報発行日　2016年5月12

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2016-76261

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