知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
特開2017-127308大規模ＦＥＴアレイを用いた分析物測定のための方法および装置
- 1
2
3
4
5
6
7
8
9
9A
9B
10
11A
11B-1
11B-2
11B-3
11C-1
11C-2
11C-3
11D-1
- 11D-2
11D-3
11E
12
13
14
15
16
17
18
19
20
20A
21
22
23
24
25
26
27
- 28A
28B
29
30
31
32
33
33A
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
- 46
47
48
49
50
51
52
53
54
55
56
57
58
59A
59B
59C
60
61
62
63
- 64
65
66
67
68
69
70
71A
71B
71C
71D