発明の名称 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
出願人 株式会社大真空 (識別番号 149734)
特許公開件数ランキング 896 位(9件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 885 位(8件)(共同出願を含む)
公報番号 特開-2017-166903
公報発行日 2017年9月21
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2017-166903
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