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特開2017-194483マルチＩＣデバイスをテストするための方法および装置
発明の名称 マルチＩＣデバイスをテストするための方法および装置
出願人 フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド （識別番号 504199127）
特許公開件数ランキング 13870 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 3848 位（1件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2017-194483
公報発行日 2017年10月26
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2017-194483
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