特開2017-198520日射計測装置ならびにこれを使用する照射状態分析装置および光分布測定装置

発明の名称　日射計測装置ならびにこれを使用する照射状態分析装置および光分布測定装置

出願人　国立大学法人豊橋技術科学大学　（識別番号 304027349）

　　　　特許公開件数ランキング 1310 位（5件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 997 位（12件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2017-198520

公報発行日　2017年11月2

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2017-198520

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