特開2018-180545欠陥検出方法、欠陥検出のためのシステムおよび訓練方法

発明の名称　欠陥検出方法、欠陥検出のためのシステムおよび訓練方法

出願人　三星ディスプレイ株式會社　（識別番号 512187343）

　　　　特許公開件数ランキング 133 位（81件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 217 位（45件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2018-180545

公報発行日　2018年11月15

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2018-180545

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