【図1】この発明の実施の形態によるカテーテルの平面図である。

【図2】図１に示す線II−IIにおける筒部材の断面図である。

【図3】図１に示す線III−IIIにおける筒部材の断面図である。

【図4】高分子アクチュエータの屈曲の原理を説明するための図である。

【図5】図１に示すカテーテルの製造方法を示す工程図である。

【図6】図５に示す工程図の工程(ａ)、工程(ｂ)、工程(ｅ)，(ｆ)および工程(ｇ)における模式図である。

【図7】図１に示すカテーテルの別の製造方法を示す工程図である。

【図8】筒部材２，４における断面形状を示す図である。

【図9】式(１)を用いて計算した断面二次モーメントのデータを示す図である。

【図10】断面二次モーメントとチューブの高さとの関係を示す図である。

【図11】長さ方向に垂直な断面形状の高さが０.１ｍｍであるときの筒部材２の断面図である。

【図12】筒部材１側から見たカテーテルの側面図である。

【図13】図１に示すカテーテルの屈曲方向を説明するための図である。

【図14】筒部材２の短径方向と筒部材４の短径方向との関係を示す断面図である。

【図15】この発明の実施の形態による別のカテーテルの断面図である。

【図16】この発明の実施の形態による更に別のカテーテルの平面図である。

【図17】図１６に示す線XVII−XVII間における筒部材２Ａの断面図である。

【図18】この発明の実施の形態による更に別のカテーテルの断面図である。

【図19】高分子アクチュエータの断面形状を示す断面図である。

【図20】実施例１、実施例２および比較例のカテーテルの断面を示す写真である。

【図21】カテーテルにおける変位とクランプからの距離との関係を示す図である。

【図22】変位の測定方法を説明するための図である。

【図23】実施例１、実施例２および比較例におけるカテーテルの曲率を示す図である。