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特開2018-54449反射スペクトルの測定方法
発明の名称 反射スペクトルの測定方法
出願人 花王株式会社 （識別番号 918）
特許公開件数ランキング 24 位（246件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 26 位（233件）（共同出願を含む）
出願人 国立大学法人 香川大学 （識別番号 304028346）
特許公開件数ランキング 4997 位（2件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 1805 位（5件）（共同出願を含む）
出願人 アオイ電子株式会社 （識別番号 390022471）
特許公開件数ランキング 2891 位（2件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 4093 位（1件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2018-54449
公報発行日 2018年4月5
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2018-54449
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