特開2018-91669ポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法
発明の名称 ポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法
出願人 国立大学法人 千葉大学 （識別番号 304021831）
特許公開件数ランキング 611 位（37件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 786 位（25件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2018-91669
公報発行日 2018年6月14
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2018-91669
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