特開2019-211209一次元または二次元検出器を用いた回折Ｘ線の強度を測定する方法

発明の名称　一次元または二次元検出器を用いた回折Ｘ線の強度を測定する方法

出願人　独立行政法人物質・材料研究機構　（識別番号 301023238）

　　　　特許公開件数ランキング 431 位（30件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 361 位（29件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2019-211209

公報発行日　2019年12月12

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2019-211209

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