特開2020-204598(P2020-204598A)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特開2020-204598固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】特開2020-204598(P2020-204598A)
(43)【公開日】2020年12月24日
(54)【発明の名称】固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法
(51)【国際特許分類】
   G01N 21/85 20060101AFI20201127BHJP
【FI】
   G01N21/85 A
【審査請求】未請求
【請求項の数】4
【出願形態】OL
【全頁数】11
(21)【出願番号】特願2019-113653(P2019-113653)
(22)【出願日】2019年6月19日
(71)【出願人】
【識別番号】000112912
【氏名又は名称】フロイント産業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100195752
【弁理士】
【氏名又は名称】奥村 一正
(72)【発明者】
【氏名】蜂谷 栄一
(72)【発明者】
【氏名】菊地 智弘
(72)【発明者】
【氏名】星野 嵩宜
(72)【発明者】
【氏名】安達 岳郎
【テーマコード(参考)】
2G051
【Fターム(参考)】
2G051AA02
2G051AB03
2G051AB07
2G051CA04
2G051CB01
2G051CB05
2G051EA14
2G051EA16
2G051EB01
2G051EC01
(57)【要約】      (修正有)
【課題】固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる教示装置と教示方法を提供する。
【解決手段】固形製剤外観検査における教示装置20であって、良品画像を記憶する良品画像記憶部3と、不良品画像を記憶する不良品画像記憶部2と、不良個所の大きさを演算する不良個所演算部5と、前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部4と、前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部6と、を備える。
【選択図】図1
【特許請求の範囲】
【請求項1】
固形製剤外観検査における教示装置であって、
良品画像を記憶する良品画像記憶部と、
不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、
前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、
前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置。
【請求項2】
前記不良品画像記憶部は、不良カテゴリー毎に不良品画像を記憶し、
前記不良個所演算部は、前記不良カテゴリー毎に不良個所の大きさを演算し、
前記不良判断閾値設定部は、前記不良カテゴリー毎に不良判断閾値を設定することを特徴とする請求項1記載の固形製剤外観検査における教示装置。
【請求項3】
前記不良判断閾値設定部は、前記不良カテゴリー毎における複数の前記不良個所の最小の大きさと、複数の前記不良候補の最大の大きさとから前記不良カテゴリー毎の前記不良判断閾値を設定することを特徴とする請求項2に記載の固形製剤外観検査における教示装置。
【請求項4】
固形製剤外観検査における教示方法であって、
良品画像を記憶するとともに、不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶する画像記憶工程と、
不良カテゴリー毎に前記不良個所の大きさを演算するともに、前記良品画像から不良候補の大きさを演算する演算工程と、
前記不良カテゴリー毎の前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから前記不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、固形製剤外観検査における教示を簡易的に行う、固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
錠剤やカプセル剤等の固形製剤には、薬の種類や製造者を明示する文字やマーク等(本明細書においては、「文字等」と定義する。)が印刷される。この文字等は、印刷時ににじみや欠けが生じることがあり全数検査されている。また、文字等の印刷に先立って固形製剤の割れ、異物付着、欠け等の検査が全数行われている。
【0003】
特許文献1には、錠剤表面の欠陥や印刷の外観検査を行なうとともに、当該外観検査のためのティーチング(教示)を行なう構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特許文献1:特開平6−258226号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、外観検査の場合、どの程度の欠陥で不良品と判断するかは、印刷にじみの場所、程度が印刷デザインによっても異なる。そして不良品は文字の検査における欠陥だけでなく、外観における欠け、割れ、異物付着等があり、それぞれを検出しつつ良品を誤って不良判定しない検査パラメータを設定しなければならない。従って一つの不良カテゴリーだけでも教示パラメータ作成には膨大な試行錯誤が必要であり、初期の設定作業に非常に多くの時間がかかるという問題があった。
【0006】
本発明は、上記問題点を解決して、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上記課題を解決するために本発明は、固形製剤外観検査における教示装置であって、
良品画像を記憶する良品画像記憶部と、
不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、
前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、
前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置を提供するものである。
【0008】
この構成により、固形製剤外観検査における教示作業のほとんどを自動化できるため、教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
【0009】
前記不良品画像記憶部は、不良カテゴリー毎に不良品画像を記憶し、 前記不良個所演算部は、前記不良カテゴリー毎に不良個所の大きさを演算し、 前記不良判断閾値設定部は、前記不良カテゴリー毎に不良判断閾値を設定する構成としてもよい。
【0010】
この構成により、不良カテゴリー毎に不良判断閾値を設定することができるため、よりきめ細かな教示を行える。
【0011】
前記不良判断閾値設定部は、前記不良カテゴリー毎における複数の前記不良個所の最小の大きさと、複数の前記不良候補の最大の大きさとから前記不良カテゴリー毎の前記不良判断閾値を設定する構成としてもよい。
【0012】
この構成により、不良個所の大きさの最小値と不良候補の大きさの最大値とから不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定するため、過検出や見逃しの少ない不良判断閾値を設定することができる。
【0013】
また、上記課題を解決するために本発明は、固形製剤外観検査における教示方法であって、 良品画像を記憶するとともに、不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶する画像記憶工程と、 不良カテゴリー毎に前記不良個所の大きさを演算するともに、前記良品画像から不良候補の大きさを演算する演算工程と、 前記不良カテゴリー毎の前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから前記不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法を提供するものである。
【0014】
この構成により、固形製剤外観検査における教示作業のほとんどを自動化できるため、教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
図1】本発明の実施例1における固形製剤外観検査における教示装置の構成を説明する図である。
図2】本発明の実施例1における良品の固形製剤Tを説明する図である。
図3】本発明の実施例1における固形製剤Tにおける不良個所を説明する図であり、(a)は、異物付着の不良カテゴリー、(b)は、欠けの不良カテゴリーを説明する図である。
図4】本発明の実施例2における良品の固形製剤Tを説明する図である。
図5】本発明の実施例2における固形製剤Tにおける不良個所を説明する図であり、(a)は、文字にじみの不良カテゴリー、(b)は、文字飛びの不良カテゴリーを説明する図である。
図6】本発明の実施例2における文字にじみの不良例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例1】
【0016】
以下、図1図3を参照しながら、本発明の実施例1ついて説明する。図1は、本発明の実施例1における固形製剤外観検査における教示装置の構成を説明する図である。図2は、本発明の実施例1における固形製剤Tを説明する図である。図3は、本発明の実施例1における固形製剤Tにおける不良個所を説明する図であり、(a)は、異物付着の不良カテゴリー、(b)は、欠けの不良カテゴリーを説明する図である。
【0017】
(固形製剤外観検査における教示装置) 本発明の実施例1における固形製剤外観検査における教示装置(以下、「教示装置」という。)について図1を参照して説明する。教示装置20は、撮像部1、不良品画像記憶部2、良品画像記憶部3、不良個所演算部4、不良候補演算部5、不良判断閾値設定部6、操作部7、表示部8等から構成されている。そして、教示装置20は、固形製剤(本願発明においては、固形製剤を錠剤やカプセル錠等の固形の薬剤と定義する。)における外観検査のための教示パラメータを簡易に作成することができる。
【0018】
撮像部1は、白黒カメラで構成され、不良品及び良品の固形製剤Tを撮像する。実施例1においては、1台であるが、必要に応じて複数台の撮像部を備えるようにしてもよい。例えば、複数の撮像部で固形製剤Tの正面、背面、側面などを撮像するようにしてもよい。また、外観検査機に設置した撮像部を用いて固形製剤Tを撮像するようにしてもよい。撮像部1には、対象物である固形製剤Tを背景と明確に分離して撮像するために図示しない照明部を設けている。実施例1において、固形製剤Tの表面は白く撮像され、不良個所は黒く撮像されるように撮像部1、図示しない照明部を設定している。
【0019】
なお、実施例1においては、撮像部1が教示装置20に組み込まれた構成としたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、別置の撮像部1から撮像データを取り込んで処理しても良い。また撮像部1をカラーカメラとし、取り込んだ撮像データをグレースケール等に変換しても良い。
【0020】
不良品画像記憶部2、及び良品画像記憶部3には、それぞれ複数の画像を記憶することができ、これらはパソコンの記憶部により構成している。不良個所演算部4は不良画像中で不良個所が存在するとして指定された範囲に存在する不良の大きさを演算する。また、不良候補演算部5は良品画像に存在する不良候補、つまり、大きさが小さく不良にはならないものの背景とは異なる色合いで(実施例1においては黒く)撮像されている部分の大きさを演算する。不良判断閾値設定部6は、不良画像における不良個所の大きさと、良品画像における不良候補の大きさとから良否判断に用いる不良判断閾値を設定する。不良個所演算部4、不良候補演算部5、及び不良判断閾値設定部6は、パソコンで実行されるソフトウエアで構成される。
【0021】
なお、実施例1においては、不良個所演算部4、不良候補演算部5、及び不良判断閾値設定部6は、パソコンで実行されるソフトウエアで構成しているが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、電子回路で構成してもよい。
【0022】
操作部7は、タッチパネルからなり、ソフトウエアにより、キーを表示してデータの入力を行うことができる。表示部8は、撮像部1が撮像した画像や、不良品画像記憶部2、及び良品画像記憶部3に記憶されている画像を表示して確認することができる。
【0023】
なお、実施例1においては、操作部7をタッチパネルで構成したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、マウス等の機器を用いて入力操作するように構成してもよい。
【0024】
(固形製剤外観検査における教示方法) まず、画像記憶工程を実施し、固形製剤Tの代表的な不良品を撮像部1で撮像して不良品画像記憶部2に不良カテゴリー毎に記憶させるとともに、固形製剤Tの良品を撮像部1で撮像して良品画像記憶部3に記憶させる。実施例1における不良カテゴリーは、固形製剤Tに対する異物付着A(図3(a)参照)と欠けB(図3(b)参照)である。代表的な不良品は複数撮像して記憶させることが望ましく、複数の異物付着Aを有する不良品と、複数の欠けBを有する不良品の画像を撮像して記憶する。代表的な良品の撮像も複数撮像することが望ましい。撮像された代表的な複数の良品画像は良品画像記憶部3に記憶される。
【0025】
異物付着Aの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を図3(a)に示す。固形製剤Tの表面は白く撮像されるように撮像部1や図示しない照明部が設定されているが、異物付着Aがあるとその部分は暗い画像となる。また、図3(b)に欠けBの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を示す。欠けBも画像中に暗く撮像される。一方、良品の固形製剤Tの良品画像の例を図2に示す。理想的な良品画像は全面が白く撮像されるが、中には図2に不良候補Xで示すように、暗い点が撮像されることがある。これは、固形製剤Tの表面の凹凸等によるものか、細かい欠けで大きさから不良とはしないものであり、不良ではない。外観検査においては、この良品画像における不良候補Xと不良画像における異物付着Aや欠けBとを区別することにより良否判定を行う。
【0026】
良品画像における不良候補Xと不良品画像における異物付着Aや欠けBとを区別するために、外観検査機では固形製剤Tの画像における暗い部分の大きさに基づいて、良品の不良候補Xと不良品である異物付着Aや欠けBとを区別している。具体的には、画像における不良個所が黒くなるように画像濃度を動的閾値法により2値化し、黒い部分の大きさを計測して予め決められた閾値以上か否かを判断し、閾値以上の大きさであれば不良品と判断している。逆に黒く撮像された部分の大きさが閾値未満の大きさであれば、良品と判断している。
【0027】
このため、実施例1における教示装置20においては、不良品画像記憶部2に記憶された不良品画像を不良カテゴリー毎に、不良個所演算部4において動的閾値法により2値化して、黒い部分(不良個所)の大きさを計測する。具体的には、不良個所範囲指定工程を実施し、オペレータが表示部8に表示された画像を見ながら操作部7を用いて不良個所を囲む四角形を設定する。不良個所が指定されれば、次に、演算工程を実施し、不良個所演算部4が不良カテゴリー毎に不良個所の大きさを演算するともに、不良候補演算部5が良品画像から不良候補Xの大きさを演算する。不良個所及び不良候補Xの大きさは面積値で表しているが、周囲長等の他のパラエータを用いて表してもよい。不良カテゴリー毎に複数の不良個所の大きさが計測できれば、不良個所演算部4がそれら複数の不良個所の大きさのうち最小の面積値を算出する。また、不良候補演算部5が不良候補Xの大きさのうち、最も大きな面積値を有する不良候補Xを抽出する。
【0028】
なお、実施例1においては、不良個所範囲指定工程を実施し、オペレータが表示部8に表示された画像を見ながら操作部7を用いて不良個所を囲む四角形を設定するように構成したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所範囲指定工程を実施せずに、教示装置20が上述の演算工程を実施して、自動的に不良個所を特定するように構成してもよい。
【0029】
不良個所演算部4及び不良候補演算部5で行う2値化のレベルは、動的閾値法で決められる。動的閾値法とは、画像を平均化して平均画像を算出し、元の画像と平均画像との差分をとり近傍の輝度と比べて突出している領域のみを黒色又は白色にして抽出する2値化方法であって、輝度ムラのある画像でも不良個所を検出することができる。
【0030】
そして、不良判断閾値設定工程を実施し、それぞれ演算された不良カテゴリー毎の不良個所の大きさの最小値と不良候補Xの大きさの最大値とを不良判断閾値設定部6が比較して中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値(教示パラメータ)を設定する。
【0031】
ここで、実施例1においては、不良個所の大きさの最小値と不良候補Xの大きさの最大値とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所の大きさの最小値に余裕度αを考慮した(最小値−α)と不良候補Xの大きさの最大値に余裕度βを考慮した(最大値+β)とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としてもよい。
【0032】
実施例1においては、不良品画像記憶部3に複数の不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶し、良品画像記憶部4に複数の良品画像を記憶し、不良個所を指定すれば、その後の不良カテゴリー毎の不良個所の大きさ計測と最小値演算、不良候補の大きさ計測と最大値演算、そして不良判断閾値の設定までを教示装置20が自動で行うことができる。このため、たいへん容易に教示パラメータ作成を行うことができる。
【0033】
なお、実施例1においては、不良個所の大きさ及び不良候補の大きさを面積値で表すように構成したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所の大きさ及び不良候補の大きさを周囲長で表すように構成してもよい。
【0034】
また、実施例1においては、不良個所や不良候補が暗くなるように撮像部1や図示しない照明部を設定したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所や不良候補が白くなるように撮像部1や図示しない照明部を設定してもよい。
【0035】
このように、実施
例1においては、固形製剤外観検査における教示装置であって、 良品画像を記憶する良品画像記憶部と、 不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、 前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、 前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、 前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
【0036】
また、固形製剤外観検査における教示方法であって、 良品画像を記憶するとともに、不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶する画像記憶工程と、 不良カテゴリー毎に前記不良個所の大きさを演算するともに、前記良品画像から不良候補の大きさを演算する演算工程と、 前記不良カテゴリー毎の前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから前記不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
【実施例2】
【0037】
本発明の実施例2は、固形製剤に印刷された文字等の印刷検査のための教示パラメータを設定する点で実施例1と異なっている。図4は、本発明の実施例2における良品の固形製剤Tを説明する図である。図5は、本発明の実施例2における固形製剤Tにおける不良個所を説明する図であり、(a)は、文字にじみの不良カテゴリー、(b)は、文字飛びの不良カテゴリーを説明する図である。図6は、本発明の実施例2における文字にじみの不良例を説明する図である。
【0038】
実施例2においても教示装置20を用いて教示パラメータの設定を行う。実施例2における固形製剤Tは、その表面に文字等が印刷されたものである。まず、画像記憶工程を実施し、固形製剤Tの代表的な不良品を撮像部1で撮像して不良品画像記憶部2に不良カテゴリー毎に記憶させるとともに、固形製剤Tの良品を撮像部1で撮像して良品画像記憶部3に記憶させる。実施例2における不良カテゴリーは、固形製剤Tに対する文字にじみC(図5(a)参照)と文字飛びD(図5(b)参照)である。不良品は複数撮像して記憶させることが望ましく、複数の文字にじみCを有する不良品と、複数の文字飛びDを有する不良品の画像を撮像して記憶する。文字等が正しく印刷された良品(図4参照)の撮像も複数撮像することが望ましい。撮像された複数の良品画像は良品画像記憶部3に記憶される。
【0039】
文字にじみCの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を図5(a)に示す。固形製剤Tの表面は白く撮像され、印刷された文字等は黒くなるように撮像部1や図示しない照明部が設定されているが、文字にじみCがあるとその部分は文字色と同様に暗い画像となる。また、図5(b)に文字飛びDの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を示す。文字飛びDも画像中に暗く撮像される。一方、良品の固形製剤Tの良品画像の例を図4に示す。理想的な良品画像は表面が白く撮像され、その表面に文字等が印刷されている(文字等は黒く撮像される。)が、中には図4に不良候補Xで示すように、暗い点が撮像されることがある。これは、固形製剤Tの表面の凹凸等によるものであり、不良ではない。外観検査においては、この良品画像における不良候補Xと不良画像における文字にじみCや文字飛びDとを区別することにより良否判定を行う。
【0040】
良品画像における不良候補Xと不良品画像における文字にじみCや文字飛びDとを区別するために、外観検査機では固形製剤Tの画像における暗い部分の大きさに基づいて、良品の不良候補Xと不良品である文字にじみCや文字飛びDとを区別している。すなわち、画像における印刷文字等が黒くなるように画像濃度を2値化し、印刷文字等以外の黒い部分の大きさを計測して予め決められた閾値以上か否かを判断し、閾値以上の大きさであれば不良品と判断している。逆に黒く撮像された部分の大きさが閾値未満の大きさであれば、良品と判断している。
【0041】
文字にじみCの検査は、正しい文字等に繋がっているので、不良部分の分離をする必要がある。そのため正しい文字等の画像をテンプレートとして予め記憶しておき、検査対象の固形製剤Tの印刷文字等の画像位置に重ね合わせたときに、重ならずテンプレートからはみ出る部分の大きさが所定以上であれば、文字にじみCとして検出する。
【0042】
ここで、文字にじみCの検査は、図6のような場合がある。図6(a)は、本来の文字「E」に一つの文字にじみCが存在する場合であり、図6(b)は、本来の文字「E」に複数の文字にじみCが存在する場合である。複数の文字にじみCを合計した大きさで良否の閾値を設定すると一つ一つの文字にじみCが検出できない可能性がある。このため、実施例2においては、個々の文字にじみCを別々にその大きさを計測して良否判断の閾値を設定している。
【0043】
実施例2における教示装置20においては、不良品画像記憶部2に記憶された不良品画像を不良カテゴリー毎に、不良個所演算部4において動的閾値法により2値化して、黒い部分(不良個所)の大きさを計測する。具体的には、不良個所範囲指定工程を実施し、オペレータが表示部8に表示された画像を見ながら操作部7を用いて不良個所を囲む四角形を設定するか、文字等のテンプレートと重ならない部分を不良個所として設定する。不良個所が指定されれば、次に、演算工程を実施し、不良個所演算部4が不良カテゴリー毎に不良個所の大きさを演算するともに、不良候補演算部5が良品画像から不良候補の大きさを演算する。不良個所及び不良候補Xの大きさは面積値で表しているが、周囲長等の他のパラエータを用いて表してもよい。不良カテゴリー毎に複数の不良個所の大きさが計測できれば、不良個所演算部4がそれら複数の不良個所の大きさのうち最小の面積値を算出する。また、不良候補演算部5が不良候補Xの大きさのうち、最も大きな面積値を抽出する。
【0044】
そして、不良判断閾値設定工程を実施し、それぞれ演算された不良カテゴリー毎の不良個所の大きさの最小値と不良候補Xの大きさの最大値とを不良判断閾値設定部6が比較して中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値(教示パラメータ)を設定する。
【0045】
ここで、実施例2においては、不良個所の大きさの最小値と不良候補Xの大きさの最大値とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所の大きさの最小値に余裕度αを考慮した(最小値−α)と不良候補Xの大きさの最大値に余裕度βを考慮した(最大値+β)とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としてもよい。
【0046】
なお、実施例2においては、文字にじみCと文字飛びDの不良カテゴリーについて説明したが、文字欠けについても検査パラメータの設定が可能である。つまり、文字等のテンプレートを固形製剤Tの表面に重ねた部分に暗くない、つまり明るい部分が閾値以上の大きさであれば、文字欠けと判断することができる。この場合は、文字欠けと判断できる不良個所の白い部分の大きさに基づいて不良判断閾値を設定すればよい。
【0047】
実施例2においても、不良品画像記憶部3に複数の不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶し、良品画像記憶部4に複数の良品画像を記憶し、不良個所を指定すれば、その後の不良カテゴリー毎の不良個所の大きさ計測と最小値演算、不良候補の大きさ計測と最大値演算、そして不良判断閾値の設定までを教示装置20が自動で行うことができる。このため、たいへん容易に教示パラメータ作成を行うことができる。
【0048】
このように、実施例2においては、固形製剤外観検査における教示装置であって、 良品画像を記憶する良品画像記憶部と、 不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、 前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、 前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、 前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
【0049】
また、固形製剤外観検査における教示方法であって、 良品画像を記憶するとともに、不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶する画像記憶工程と、 不良カテゴリー毎に前記不良個所の大きさを演算するともに、前記良品画像から不良候補の大きさを演算する演算工程と、 前記不良カテゴリー毎の前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから前記不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【0050】
本発明における固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法は、固形製剤の外観検査分野に幅広く適用することができる。
【符号の説明】
【0051】
1:撮像部 2:不良品画像記憶部 3:良品画像記憶部 4:不良個所演算部 5:不良候補演算部 6:不良判断閾値設定部 7:操作部 8:表示部 20:固形製剤外観検査における教示装置 T:固形製剤 A:不良個所(異物付着) B:不良個所(欠け) C:不良個所(文字にじみ) D:不良個所(文字飛び) X:不良候補
図1
図2
図3
図4
図5
図6