特開 2021-149140 電子装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】特開2021-149140(P2021-149140A)

(43)【公開日】2021年9月27日

(54)【発明の名称】電子装置

(51)【国際特許分類】

   G06F 1/28 20060101AFI20210830BHJP

【ＦＩ】

   G06F1/28

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

【全頁数】12

(21)【出願番号】特願2020-45139(P2020-45139)

(22)【出願日】2020年3月16日

(71)【出願人】

【識別番号】390008235

【氏名又は名称】ファナック株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100077665

【弁理士】

【氏名又は名称】千葉 剛宏

(74)【代理人】

【識別番号】100116676

【弁理士】

【氏名又は名称】宮寺 利幸

(74)【代理人】

【識別番号】100191134

【弁理士】

【氏名又は名称】千馬 隆之

(74)【代理人】

【識別番号】100136548

【弁理士】

【氏名又は名称】仲宗根 康晴

(74)【代理人】

【識別番号】100136641

【弁理士】

【氏名又は名称】坂井 志郎

(74)【代理人】

【識別番号】100180448

【弁理士】

【氏名又は名称】関口 亨祐

(72)【発明者】

【氏名】五嶋 数哉

【テーマコード（参考）】

5B011

【Ｆターム（参考）】

5B011GG03

5B011GG06

(57)【要約】

【課題】電子部品から検出される物理情報に基づいて該電子部品の状態を精度よく分析することが容易な電子装置を提供する。
【解決手段】電子装置１０であって、ＣＰＵ１２_１を含む複数の電子部品１２_Ｎと、複数の電子部品１２_Ｎの各々の電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを検出する検出部１４と、を備え、ＣＰＵ１２_１は、複数の電子部品１２_Ｎの各々について、電圧Ｖ、電流Ｉの取得後に温度Ｔが取得される順序で、電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを検出部１４から周期的に取得する。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

ＣＰＵを含む複数の電子部品と、
前記複数の電子部品の各々の電圧、電流および温度を検出する検出部と、
を備え、
前記ＣＰＵは、前記複数の電子部品の各々について、前記電圧、前記電流の取得後に前記温度が取得される順序で、前記電圧、前記電流および前記温度を前記検出部から周期的に取得する、電子装置。

【請求項2】

請求項１に記載の電子装置であって、
前記順序は、前記電子部品の前記電圧および前記電流を取得してから別の前記電子部品の前記電圧および前記電流を取得することを繰り返すことにより前記複数の電子部品の前記電圧および前記電流を取得した後、前記複数の電子部品の前記温度を取得するものである、電子装置。

【請求項3】

請求項２に記載の電子装置であって、
前記順序は、前記複数の電子部品の前記電圧および前記電流の取得を予め決められた回数だけ繰り返した後、前記複数の電子部品の前記温度を取得するものである、電子装置。

【請求項4】

請求項１に記載の電子装置であって、
前記順序は、前記電子部品の前記電圧、前記電流および前記温度を取得してから別の前記電子部品の前記電圧、前記電流および前記温度を取得することを繰り返すものである、電子装置。

【請求項5】

請求項１〜４のいずれか１項に記載の電子装置であって、
前記ＣＰＵが前記電圧、前記電流および前記温度のいずれか１つを取得する取得周期の時間長は、前記検出部が前記電圧、前記電流および前記温度を検出する検出周期の時間長以下である、電子装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、電子装置に関する。

【背景技術】

【0002】

電子装置から検出可能な物理情報に基づくことで、電子装置の状態を監視する技術が提案されている。その技術の一例は、例えば特許文献１に開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特表２０１４−５１６４４６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

電子装置から検出可能な物理情報には、時間経過による変動幅が大きいものと小さいものとが存在する。時間経過による変動幅が大きい物理情報を例示すると、それは例えば電子装置の電圧や電流である。時間経過による変動幅が小さい物理情報を例示すると、それは例えば電子装置の温度である。

【0005】

ここで例えば、電子装置の電子部品の状態を、ある時点における該電子部品の電圧、電流および温度に基づいて分析しようとする場合を考える。この場合、時間経過による変動幅が大きい電圧と電流との各々の検出時刻をできるだけ互いに近くすることが、分析を精度よく行うためには好ましい。

【0006】

そこで、本発明は、電子部品から検出される物理情報に基づいて該電子部品の状態を精度よく分析することが容易な電子装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一つの態様は、電子装置であって、ＣＰＵを含む複数の電子部品と、前記複数の電子部品の各々の電圧、電流および温度を検出する検出部と、を備え、前記ＣＰＵは、前記複数の電子部品の各々について、前記電圧、前記電流の取得後に前記温度が取得される順序で、前記電圧、前記電流および前記温度を前記検出部から周期的に取得する。

【発明の効果】

【0008】

本発明によれば、電子部品から検出される物理情報に基づいて該電子部品の状態を精度よく分析することが容易な電子装置が提供される。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】実施の形態の電子装置の概略構成図である。

【図2】実施の形態の検出部による物理情報の検出制御について説明するためのタイムチャートである。

【図3】実施の形態のＣＰＵによる物理情報の取得処理について説明するための第１のタイムチャートである。

【図4】実施の形態のＣＰＵによる物理情報の取得処理について図３に引き続き説明するための第２のタイムチャートである。

【図5】本実施の形態が適用されないＣＰＵによる取得処理を例示するタイムチャートである。

【図6】変形例１のＣＰＵによる物理情報の取得処理について説明するためのタイムチャートである。

【図7】変形例２のＣＰＵによる物理情報の取得処理について説明するためのタイムチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0010】

本発明の電子装置について、好適な実施の形態を掲げ、添付の図面を参照しながら以下、詳細に説明する。

【0011】

［実施の形態］
図１は、実施の形態の電子装置１０の概略構成図である。

【0012】

電子装置１０は、それは例えば工作機械を制御するために提供される数値制御装置であって、複数の電子部品１２_Ｎと、検出部１４と、を備える。

【0013】

複数の電子部品１２_Ｎは、その総数はＮ（Ｎは自然数）であって、ＣＰＵ（Central Processing Memory）１２_１を含む。電子装置１０は、ＣＰＵ１２_１がメイン処理とサブ処理とを制御周期（ＩＴＰ）内に完了させることを繰り返すことにより動作する。

【0014】

ＣＰＵ１２_１のメイン処理とは、本実施の形態では工作機械の制御処理のことであり、サブ処理とはメイン処理以外の処理のことである。サブ処理には、電子部品１２_Ｎから検出される物理情報に基づいて、電子部品１２_Ｎの異常を察知する予知保全（以下、分析処理とも呼ぶ）が含まれる。

【0015】

複数の電子部品１２_Ｎのうち、ＣＰＵ１２_１以外のものとしては、限定されないが、本実施の形態ではＤＳＰ（Digital Signal Processor）１２_２、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）１２_３およびメモリ１２_４が含まれる。これらはＣＰＵ１２_１とシリアルバスを介して接続される。

【0016】

メモリ１２_４は、それは例えばＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭ（Random Access Memory）等のハードウェアである。メモリ１２_４には、図示しないが、ＣＰＵ１２_１が読み取って実行可能な所定の制御プログラムが記憶される。ＣＰＵ１２_１は、この所定の制御プログラムを実行することにより、前述のメイン処理およびサブ処理を実現する。

【0017】

検出部１４は、複数の電子部品１２_Ｎの各々から複数の物理情報を検出するものであって、それは例えば複数のセンサを有するセンサ群として構成される。

【0018】

本実施の形態では、ＣＰＵ１２_１を含む複数の電子部品１２_Ｎの各々に、電圧センサ、電流センサおよび温度センサを有する検出部１４を設ける。これにより、ＣＰＵ１２_１を含む複数の電子部品１２_Ｎの各々の電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔが検出されるようになる。

【0019】

図２は、実施の形態の検出部１４による物理情報の検出制御について説明するためのタイムチャートである。

【0020】

検出部１４は、自己の最小の制御周期として設定される検出周期Ｃに従って物理情報を検出する。検出部１４は、図２に示すように、ある時点Ｐ_１で、自身が設けられた電子部品１２_Ｎの電圧Ｖ（Ｖ_Ｎ、Ｐ１）、電流Ｉ（Ｉ_Ｎ、Ｐ１）および温度Ｔ（Ｔ_Ｎ、Ｐ１）を検出する。そしてその後、時点Ｐ_１から検出周期Ｃ後の時点Ｐ_２で電圧Ｖ（Ｖ_Ｎ、Ｐ２）、電流Ｉ（Ｉ_Ｎ、Ｐ２）および温度Ｔ（Ｔ_Ｎ、Ｐ２）を再び検出する。

【0021】

検出部１４が出力する物理情報の値は、直前の検出時点における検出値である。つまり、Ｐ_ｍ−Ｐ_ｍ＋１間の時間帯（時点Ｐ_ｍを含み、時点Ｐ_ｍ＋１を除く。以下同じ）における検出部１４の出力値は、該時間帯内である限り、時点Ｐ_ｍで検出された物理情報となる。検出周期Ｃは検出部１４の最小の制御周期であるため、検出周期Ｃおきに訪れる各時点Ｐ_１、Ｐ_２、…、Ｐ_ｍ、…以外で検出部１４が物理情報を検出することはない。

【0022】

なお、図２では電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔの各々の検出タイミング（時点Ｐ_１…Ｐ_ｍ、…）が統一されているが、電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔの各々の検出タイミングは互いに異なってもよい。また、電圧Ｖを検出する検出周期Ｃ、電流Ｉを検出する検出周期Ｃおよび温度Ｔを検出する検出周期Ｃは、時間長が互いに異なっていてもよい。

【0023】

電子部品１２_Ｎから検出される複数の物理情報は、分析処理を実行するためにＣＰＵ１２_１が取得する。以下、物理情報を取得するためにＣＰＵ１２_１が行う処理を取得処理とも呼ぶ。取得処理には、複数の物理情報をメモリ１２_４に記憶させることも含まれる。

【0024】

分析処理、すなわち予知保全は、取得処理によって取得した物理情報を統計学的処理や機械学習などを用いて分析し、異常判定や残存寿命の推定を行うことで実現される処理である。なお、前述の通り本実施の形態ではこれらの処理を含む分析処理をＣＰＵ１２_１が行うこととして説明しているが、これに限定されるものではない。例えば、複数の電子部品１２_ＮのうちのＣＰＵ１２_１以外のものが分析処理を行ってもよいし、電子装置１０の外部装置に必要な情報を適宜出力することで、当該外部装置に分析処理を行わせてもよい。

【0025】

取得処理は、ＣＰＵ１２_１のサブ処理に該当する。したがって、取得処理の実行には、他処理も含めて１ＩＴＰ内に完了しなければならない。そこで、本実施の形態では、ＣＰＵ１２_１が１ＩＴＰのうちに取得する物理情報の数を１つに制限する。これにより、１ＩＴＰ内において取得処理に要する処理時間を最小限にすることができる。

【0026】

また、本実施の形態では、複数の電子部品１２_Ｎの各々について電圧Ｖ、電流Ｉの取得後に温度Ｔが取得される順序で、ＣＰＵ１２_１に物理情報を取得させる。この順序の指定は、前述の制御プログラムにより指定できる。

【0027】

本実施の形態では、ＣＰＵ１２_１が物理情報を取得する順序を、具体的に次の通りに例示する。すなわち、ＣＰＵ１２_１は、まず自己の電圧Ｖおよび電流Ｉを取得する。次いで、ＤＳＰ１２_２の電圧Ｖおよび電流Ｉ、ＡＳＩＣ１２_３の電圧Ｖおよび電流Ｉ、メモリ１２_４の電圧Ｖおよび電流Ｉを、この順序で取得する。そして、これらを取得した後、ＣＰＵ１２_１の温度Ｔ、ＤＳＰ１２_２の温度Ｔ、ＡＳＩＣ１２_３の温度Ｔ、およびメモリ１２_４の温度Ｔを取得する。

【0028】

このように、ＣＰＵ１２_１は、まずは電子部品１２_Ｎの電圧Ｖおよび電流Ｉを取得してから別の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖおよび電流Ｉを取得することを繰り返すことにより、複数の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖおよび電流Ｉを取得する。そしてその後、複数の電子部品１２_Ｎの温度Ｔを取得する。取得処理はこれを１セットとして、電子装置１０の稼働中周期的に繰り返される。

【0029】

これにより、ＣＰＵ１２_１は、複数の電子部品１２_Ｎの各々について時間経過による変動幅が比較的大きい電圧Ｖおよび電流Ｉをお互いに近いタイミングで取得しやすくなる。なお、以上の順序において、電圧Ｖと電流Ｉとの取得の順番は特に限定されない。また、電圧Ｖならびに電流Ｉを取得するときの複数の電子部品１２_Ｎの順番、および温度Ｔを取得するときの複数の電子部品１２_Ｎの順番も、特に限定されない。

【0030】

図３は、実施の形態のＣＰＵ１２_１による物理情報の取得処理について説明するための第１のタイムチャートである。なお、図３に示した情報のうち、Ｖ、ＩおよびＴは、いずれもＣＰＵ１２_１の電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔである（後で説明する図４−図７も同様）。

【0031】

前述の順序に基づくＣＰＵ１２_１の取得処理について、例を挙げながら説明する。前述の通り、ＣＰＵ１２_１は、まずは自己の電圧Ｖを取得した後、１ＩＴＰ後に電流Ｉを取得する。ここで、ＣＰＵ１２_１の電圧Ｖは、図３では時間長が検出周期ＣであるＰ_１−Ｐ_２の時間帯内で取得される。つまり、ここで取得されるＣＰＵ１２_１の電圧Ｖは、時点Ｐ_１で検出された電圧Ｖ_１、Ｐ１である。同様に、Ｐ_１−Ｐ_２の時間帯内で取得されるＣＰＵ１２_１の電流Ｉは、時点Ｐ_１で検出された電流Ｉ_１、Ｐ１である。

【0032】

ＣＰＵ１２_１は、同様の取得処理をＤＳＰ１２_２、ＡＳＩＣ１２_３およびメモリ１２_４についても順番に行うことにより、ＤＳＰ１２_２、ＡＳＩＣ１２_３およびメモリ１２_４の各々の電圧Ｖおよび電流Ｉを順々に取得していく。

【0033】

図４は、実施の形態のＣＰＵ１２_１による物理情報の取得処理について図３に引き続き説明するための第２のタイムチャートである。なお、図４のタイムチャート中のＶ_１、Ｐ１、Ｉ_１、Ｐ１、…、Ｖ_４、Ｐ２およびＩ_４、Ｐ２は、ＣＰＵ１２_１の電圧Ｖ_１、Ｐ１、電流Ｉ_１、Ｐ１、…、メモリ１２_４の電圧Ｖ_４、Ｐ２およびメモリ１２_４のＩ_４、Ｐ２が取得されたタイミングをそれぞれ示す。

【0034】

ＣＰＵ１２_１は、複数の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖおよび電流Ｉを一通り取得した後は、続いてＣＰＵ１２_１の温度Ｔを取得する。また、それに続いて、ＤＳＰ１２_２、ＡＳＩＣ１２_３およびメモリ１２_４の各々の温度Ｔを順番に取得する。

【0035】

以上の通りに取得されるＣＰＵ１２_１の温度Ｔは、図４の例示ではＰ_３−Ｐ_４の時間帯内で取得されている。つまり、図４の例示で取得されるＣＰＵ１２_１の温度Ｔは、電圧Ｖ_１、Ｐ１および電流Ｉ_１、Ｐ１の検出タイミングであった時点Ｐ_１（図３参照）とは異なる時点Ｐ_３を検出タイミングとする温度Ｔ_１、Ｐ３である。これと同様に、図４の例示ではＤＳＰ１２_２の温度Ｔとして温度Ｔ_２、Ｐ３が、
ＡＳＩＣ１２_３の温度として温度Ｔ_３、Ｐ３が、メモリ１２_４の温度として温度Ｔ_４、Ｐ４が、それぞれＣＰＵ１２_１により取得される。

【0036】

以上の順序で複数の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを取得することにより、分析処理を精度よく行うことが可能となる。すなわち、電圧Ｖおよび電流Ｉは温度Ｔと比較して時間経過による変動幅が大きいため、検出時刻が異なればその検出値も全く異なってしまう。そのため、検出時刻が互いに大きく異なる電圧Ｖと電流Ｉとに基づいて精度よく分析処理を行うことは難しい。しかしながら、本実施の形態の順序に基づいて取得すれば、複数の電子部品１２_Ｎの各々について、検出時刻が互いに近い電圧Ｖと電流Ｉとを取得しやすくなる。このため、電圧Ｖと電流Ｉとの互いの検出時刻の相違によって分析処理の精度が悪化するおそれを最小限にすることができる。また、温度Ｔは電圧Ｖや電流Ｉと比較して時間経過による変動幅が小さいため、取得される温度Ｔの検出時刻が電圧Ｖや電流Ｉと異なったとしても、分析処理の精度に悪影響をおよぼすことはほとんどない。したがって、時点Ｐ_１で検出された電圧Ｖ_１、Ｐ１および電流Ｉ_１、Ｐ１と、時点Ｐ_３で検出された温度Ｔ_１、Ｐ３と、に基づくことにより、ＣＰＵ１２_１は自己についての分析処理を精度よく行うことが可能である。これは、ＤＳＰ１２_２、ＡＳＩＣ１２_３およびメモリ１２_４に対する分析処理についても同様である。

【0037】

ここで、本実施の形態のＣＰＵ１２_１と、本実施の形態が適用されないＣＰＵ１２’_１との相違点について説明する。ＣＰＵ１２’_１は、ＣＰＵ１２_１とは異なる順序（便宜的に「従来順序」と呼ぶ）で物理情報を取得するものである。その従来順序は、例えば、複数の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖを取得した後、次に複数の電子部品１２_Ｎの電流Ｉを取得し、最後に複数の電子部品１２_Ｎの温度Ｔを取得するものである。

【0038】

図５は、本実施の形態が適用されないＣＰＵ１２’_１による取得処理を例示するタイムチャートである。

【0039】

図５に、従来順序に従って取得された複数の物理情報と、例としてＣＰＵ１２’_１の電圧Ｖおよび電流Ｉと、を時系列で対応付けて例示する。図５のうち、例えばＣＰＵ１２’_１の物理情報に注目すると、取得される電圧Ｖ_１、Ｐ１は検出タイミングが時点Ｐ_１であるのに対し、取得される電流Ｉ_１、Ｐ２は検出タイミングが時点Ｐ_２である。このように、本実施の形態が適用されないＣＰＵ１２’_１では、同一の電子部品１２_Ｎについて取得する電圧Ｖと電流Ｉとの検出時刻が互いに異なりやすい。

【0040】

これに対し、前述したように、本実施の形態の場合では、複数の電子部品１２_Ｎの各々について、時間経過による変動幅が比較的大きい電圧Ｖおよび電流Ｉをお互いに近い検出時刻のもの同士を取得しやすくなっている。このため、本実施の形態の電子装置１０では、予知保全のような分析処理を精度よく行うことが容易である。

【0041】

なお、検出部１４について、電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔの各々の検出タイミングが互いに異なってもよいことを前述した。また、電圧Ｖを検出する検出周期Ｃ、電流Ｉを検出する検出周期Ｃおよび温度Ｔを検出する検出周期Ｃは、時間長が互いに異なっていてもよいことを前述した。その場合は複数の電子部品１２_Ｎの各々について検出時刻が互いに全く同じ電圧Ｖと電流Ｉとを取得できるとは限らないが、検出時刻が近い電圧Ｖと電流Ｉとを取得しやすくはなる。したがって、本実施の形態が適用されないＣＰＵ１２’_１が用いられる場合よりも予知保全のような分析処理を精度よく行うことが本実施の形態によって容易になることに変わりはない。

【0042】

このように、本実施の形態によれば、電子部品１２_Ｎから検出される物理情報に基づいて該電子部品１２_Ｎの状態を精度よく分析することが容易な電子装置１０が提供される。

【0043】

［変形例］
以上、本発明の一例として実施の形態が説明された。実施の形態には、多様な変更または改良を加えることが可能である。また、その様な変更または改良を加えた形態が本発明の技術的範囲に含まれ得ることは、特許請求の範囲の記載から明らかである。

【0044】

（変形例１）
ＣＰＵ１２_１が複数の電子部品１２_Ｎの各々の電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを取得する際の順序は、実施の形態に限定されない。以下、その一例を開示する。

【0045】

ＣＰＵ１２_１は、複数の電子部品１２_Ｎの各々について、電圧Ｖ、電流Ｉの取得後に温度Ｔが取得される順序で、電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを検出部１４から周期的に取得すればよい。したがって、該順序は、例えば複数の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖおよび電流Ｉの取得を予め決められた回数だけ繰り返した後、複数の電子部品１２_Ｎの温度Ｔを取得するものであってもよい。

【0046】

図６は、変形例１のＣＰＵ１２_１による物理情報の取得処理について説明するためのタイムチャートである。

【0047】

本変形例のＣＰＵ１２_１が物理情報を取得する順序を、図６に例示する。この例示において、ＣＰＵ１２_１は、複数の電子部品１２_Ｎの各々の電圧Ｖおよび電流Ｉを順番に取得することを複数回繰り返した後、複数の電子部品１２_Ｎの各々の温度Ｔを取得する。ＣＰＵ１２_１は、これを大きな１セットとして、電子装置１０の稼働中周期的に繰り返す。

【0048】

これにより、ハードウェアの変更や追加コストなしに、時間経過による変動幅が比較的大きい物理情報（電圧Ｖおよび電流Ｉ）の取得間隔を短くすることができる。その結果、電子部品１２_Ｎが故障に至る前の振る舞いを捉えやすくなり、電子部品１２_Ｎの分析処理の、特に予知保全の信頼性が向上する。

【0049】

（変形例２）
ＣＰＵ１２_１が複数の電子部品１２_Ｎの各々の電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを取得する際の順序について、さらに別の変形例を開示する。すなわち、該順序は、電子部品１２_Ｎの電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを取得してから別の電子部品１２_Ｎの電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを取得することを繰り返すものであってもよい。

【0050】

図７は、変形例２のＣＰＵ１２_１による物理情報の取得処理について説明するためのタイムチャートである。なお、図３と同様に、ＣＰＵ１２_１、ＤＳＰ１２_２、ＡＳＩＣ１２_３およびメモリ１２_４以外の電子部品１２_Ｎについては省略した。

【0051】

本変形例のＣＰＵ１２_１が物理情報を取得する順序を、図７に例示する。この例示において、ＣＰＵ１２_１は、まずは自己の電圧Ｖ_１、Ｐ１、電流Ｉ_１、Ｐ１および温度Ｔ_１、Ｐ１を取得する。その後、ＤＳＰ１２_２の電圧Ｖ_２、Ｐ１、電流Ｉ_２、Ｐ１および温度Ｔ_２、Ｐ１、ＡＳＩＣ１２_３の電圧Ｖ_３、Ｐ１、電流Ｉ_３、Ｐ１および温度Ｔ_３、Ｐ１、メモリ１２_４の電圧Ｖ_４、Ｐ１、電流Ｉ_４、Ｐ１、温度Ｔ_４、Ｐ１を順々に取得する。ＣＰＵ１２_１は、これを大きな１セットとして、電子装置１０の稼働中周期的に繰り返す。

【0052】

本変形例においても、複数の電子部品１２_Ｎの各々について、電圧Ｖおよび電流Ｉがお互いに近い時刻で取得される。これにより、電子部品１２_Ｎの分析処理を精度よく行うことが可能となる。また、本変形例においては、温度Ｔについても電圧Ｖおよび電流Ｉに近い時刻で取得される。

【0053】

本変形例は、検出部１４が電圧Ｖ、電流Ｉおよび温度Ｔを検出する検出周期Ｃの時間長が、１つの電子部品１２_Ｎの分析処理に必要な物理情報の数（電圧Ｖ、電流Ｉ、温度Ｔであれば、３）にＩＴＰを乗じた時間長以上である場合に適用されることが好ましい。

【0054】

［実施の形態から得られる発明］
上記実施の形態および変形例から把握しうる発明について、以下に記載する。

【0055】

電子装置（１０）であって、ＣＰＵ（１２_１）を含む複数の電子部品（１２_Ｎ）と、前記複数の電子部品（１２_Ｎ）の各々の電圧（Ｖ）、電流（Ｉ）および温度（Ｔ）を検出する検出部（１４）と、を備え、前記ＣＰＵ（１２_１）は、前記複数の電子部品（１２_Ｎ）の各々について、前記電圧（Ｖ）、前記電流（Ｉ）の取得後に前記温度（Ｔ）が取得される順序で、前記電圧（Ｖ）、前記電流（Ｉ）および前記温度（Ｔ）を前記検出部（１４）から周期的に取得する。

【0056】

これにより、電子部品（１２_Ｎ）から検出される物理情報に基づいて該電子部品（１２_Ｎ）の状態を精度よく分析することが容易な電子装置（１０）が提供される。

【0057】

前記順序は、前記電子部品（１２_Ｎ）の前記電圧（Ｖ）および前記電流（Ｉ）を取得してから別の前記電子部品（１２_Ｎ）の前記電圧（Ｖ）および前記電流（Ｉ）を取得することを繰り返すことにより前記複数の電子部品（１２_Ｎ）の前記電圧（Ｖ）および前記電流（Ｉ）を取得した後、前記複数の電子部品（１２_Ｎ）の前記温度（Ｔ）を取得するものであってもよい。これにより、時間経過による変動幅が比較的大きい物理情報（電圧（Ｖ）および電流（Ｉ））の取得間隔を短くすることができる。

【0058】

前記順序は、前記複数の電子部品（１２_Ｎ）の前記電圧（Ｖ）および前記電流（Ｉ）の取得を予め決められた回数だけ繰り返した後、前記複数の電子部品（１２_Ｎ）の前記温度（Ｔ）を取得するものであってもよい。これにより、分析処理の信頼性が向上する。

【0059】

前記順序は、前記電子部品（１２_Ｎ）の前記電圧（Ｖ）、前記電流（Ｉ）および前記温度（Ｔ）を取得してから別の前記電子部品（１２_Ｎ）の前記電圧（Ｖ）、前記電流（Ｉ）および前記温度（Ｔ）を取得することを繰り返すものであってもよい。これにより、分析処理の信頼性がよりいっそう向上する。

【0060】

前記ＣＰＵ（１２_１）が前記電圧（Ｖ）、前記電流（Ｉ）および前記温度（Ｔ）のいずれか１つを取得する取得周期（ＩＴＰ）の時間長は、前記検出部（１４）が前記電圧（Ｖ）、前記電流（Ｉ）および前記温度（Ｔ）を検出する検出周期（Ｃ）の時間長以下であってもよい。

【符号の説明】

【0061】

１０…電子装置
１２_Ｎ…電子部品（ＣＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣおよびメモリを含む）
１４…検出部 Ｃ…検出部の制御周期（検出周期）
Ｉ…電流 ＩＴＰ…ＣＰＵの制御周期（取得周期）
Ｔ…温度 Ｖ…電圧

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】