特開2021-190221IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体装置

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】一定の押し込み荷重を確保することができる。
【解決手段】半導体装置は、回路パターンと、円筒状の貫通孔31cが形成され、回路パターンに一方の開口端部31c2が接合されたコンタクト部品30と、角柱状の胴体部51を備え、胴体部51の先端部53側が貫通孔31cに挿入された外部接続端子50と、を有する。そして、外部接続端子50は、テーパ面53aが胴体部51の外面部に形成されている。コンタクト部品30は、挿入係止部35が貫通孔31cの内周面31aに形成されている。この際、挿入係止部35が、貫通孔31cに挿入された外部接続端子50のテーパ面53aから挿入方向側に形成されている。このため、コンタクト部品30に外部接続端子50を挿入するために一定の押し込み荷重が確保される。
【選択図】図7

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

半導体装置では、受けた温度変化等が起因して、複数のコンタクト部品に対する外部接続端子の圧入時の押し込み荷重にばらつきが生じることがある。このため、所定の装置を用いて、複数のコンタクト部品に対して外部接続端子をそれぞれ一斉に圧入しても、複数のコンタクト部品に対する複数の外部接続端子の圧入具合にばらつきが生じる。例えば、コンタクト部品にそれぞれ圧入された複数の外部接続端子には、コンタクト部品に対する入り込みの深さにばらつきが存在する。これにより、複数のコンタクト部品に圧入された複数の外部接続端子の高さが異なってしまう。複数の外部接続端子の高さが異なると、複数の外部接続端子に対してプリント基板を適切に取り付けることが難しくなる。 本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、一定の押し込み荷重を確保することができる半導体装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一観点によれば、回路パターンと、円筒状の貫通孔が形成され、前記回路パターンに一方の開口端部が接合されたコンタクト部品と、角柱状の胴体部を備え、前記胴体部の先端部側が前記貫通孔に挿入された外部接続端子と、を有し、前記外部接続端子は、挿入被係止部が前記胴体部の外面部に形成され、前記コンタクト部品は、挿入係止部が前記貫通孔の内周面に形成され、前記挿入係止部は、前記貫通孔に挿入された前記外部・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
開示の技術によれば、一定の押し込み荷重を確保して、外部接続端子をコンタクト部品に適切に圧入することができる半導体装置を提供することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第1の実施の形態の半導体装置の断面図である。

【図2】第1の実施の形態の半導体装置に含まれる絶縁回路基板の平面図である。

【図3】第1の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品を説明するための図である。

【図4】第1の実施の形態の半導体装置に含まれる外部接続端子の正面図である。

【図5】第1の実施の形態の半導体装置に含まれる外部接続端子の平面断面図である。

【図6】第1の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入前の側断面図である。

【図7】第1の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の側断面図である。

【図8】第1の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の平面断面図(その1)である。

【図9】第1の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の平面断面図(その2)である。

【図10】第2の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品を説明するための図である。

【図11】第2の実施の形態の半導体装置に含まれる外部接続端子の正面図である。

【図12】第2の実施の形態の半導体装置に含まれる外部接続端子の平面断面図である。

【図13】第2の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の側断面図である。

【図14】第2の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の平面断面図(その1)である。

【図15】第2の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の平面断面図(その2)である。

【図16】第2の実施の形態の半導体装置に含まれる別のコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の側断面図(その1)である。

【図17】第2の実施の形態の半導体装置に含まれる別のコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の側断面図(その2)である。

【図18】第3の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品を説明するための図である。

【図19】第3の実施の形態の半導体装置に含まれる外部接続端子を説明するための図である。

【図20】第3の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の側断面図である。

【図21】第3の実施の形態の半導体装置に含まれるコンタクト部品に対する外部接続端子の挿入後の平面断面図である。

選択図 図7出願人が指定した本件の代表的な図

1 半導体装置   10 絶縁回路基板   11 絶縁板   12 回路パターン   13 金属板   15 ボンディングワイヤ   20 第1半導体チップ   21 第2半導体チップ   23 電子部品   30 コンタクト部品   31 本体部   31a 内周面   31b 外周面   31c 貫通孔   31c1,31c2 開口端部   31d 上部凸部   31d1 上部挿入係止面   31d2 支持面   31d3 引き抜き係止面   31e 下部凸部   31e1 下部挿入係止面   32,33 フランジ   34 引き抜き係止部   35 挿入係止部   40 ケース   41 外囲部   41a 接着剤   42 上蓋部   42a 挿通孔   43 封止部材   50 外部接続端子   51 胴体部   51a,51e 角部   51b 外面部   51c 肉厚部   51c3,51d3 引き抜き被係止面   51d 凹部   51d1 挿入被係止面   51d2 被支持面   51f 先頭部   52,53 先端部   52a,53a テーパ面

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