特開2021-26506検出パラメタ生成装置、検出パラメタ生成方法、検出パラメタ生成プログラム、オブジェクト検出装置、オブジェクト検出方法、およびオブジェクト検出プログラム

発明の名称　検出パラメタ生成装置、検出パラメタ生成方法、検出パラメタ生成プログラム、オブジェクト検出装置、オブジェクト検出方法、およびオブジェクト検出プログラム

出願人　公立大学法人県立広島大学　（識別番号 507234438）

　　　　特許公開件数ランキング 14556 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12424 位（0件）（共同出願を含む）

出願人　株式会社中電工　（識別番号 591080678）

　　　　特許公開件数ランキング 2112 位（3件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12424 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2021-26506

公報発行日　2021年2月22

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-A-2021-26506

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